KS D ISO 22493:2012
微光束分析.扫描电子显微镜.术语
Microbeam analysis－Scanning electron microscopy－Vocabulary
KS D ISO 22493:2012 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- KS D ISO 22493:2012
- 发布
- 2012年
- 发布单位
- 韩国科技标准局
- 替代标准
- KS D ISO 22493-2012(2017)
- 当前最新
- KS D ISO 22493:2022
- 이 표준은 주사전자현미경(SEM) 분석에서 사용하는 용어를 정의한다. 이 표준은 체계적인
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