GB/T 30118-2013
声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications.Specifications and measuring methods
GBT30118-2013, GB30118-2013
哪些标准引用了GB/T 30118-2013
找不到引用GB/T 30118-2013 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法 的标准
- 标准号
- GB/T 30118-2013
- 别名
- GBT30118-2013
GB30118-2013 - 发布
- 2013年
- 采用标准
- IEC 62276:2005 MOD
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 30118-2013
- 引用标准
- GB/T 2828.1 GB/T 3352 GB/T 3505 GB/T 6618
- 本标准规定了人造石英、铌酸锂〈LN〉、钽酸锂(LT〉、四硼酸锂〔LBO)和硅酸稼镧〔LGS〉等单晶晶片等a 本标准适用于人造石英、铌酸锂〈LN)、钽酸锂(L丁〉、四硼酸锂〔LB0)和硅酸铼镧〔LGS〉等单晶晶片。 这些单晶晶片用作声表面波〔SAW)滤波器和谐振器等基片材料。
GB/T 30118-2013相似标准
推荐
Sensors：新型声表面波温度传感器件问世
研究人员利用光刻技术研制400MHz单端口声表面波谐振器，用网络分析仪对其测量得到较高的Q值，测量结果与模拟结果吻合良好。在50～650℃的温度范围里，测试所制备的传感器件的高温特性，测试结果显示其具有良好的稳定性和线性TCF（ ～25 ppm/°C.），证明该器件具有较好的高温传感性能。 研究表明，声表面波高温传感技术可用于极端高温环境下的高灵敏度温度监测和预警。 ...
超声波探伤仪常见的的几种探头及选择
一.超声波探伤仪斜探头进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成，斜探头的声束与探头表面倾斜，因此可用于检测直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检测面之间存在夹角的区域。二、超声波探伤仪直探头进行垂直探伤用的单晶片探头，主要用于纵波探伤。直探头由插座、外壳、保护膜、压电晶片、吸声材料等组成，头接触面为可更换的软膜，用于检测表面粗糙的工件。...
超声波探伤仪的探头种类有哪些
斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成，斜探头的声束与探头表面倾斜，因此可用于检测直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检测面之间存在夹角的区域。 C.超声波探伤仪小径管探头 单晶微型横波斜探头，用于小直径薄壁管焊接接头的检验。...
维护国家安全，这些仪器仪表制造与检测技术限制出口！
管道介质为水与温度≤300℃蒸汽054102X机械量测量仪器、仪表制造技术高精度圆度仪1. 大尺寸（Ф250～Ф1,000）圆度与圆柱度在线测量技术2. 为提高主轴回转精度和测量精度（±0.017μm）的误差分离与误差补偿技术054103X无损探伤技术探伤用驻波电子直线加速器用加速管的制造技术054104X材料试验机与仪器制造技术1. 贴片光弹性在线、动态、同步检测技术2. ...