ISO 11952:2014
表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
Surface chemical analysis - Scanning-probe microscopy - Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
ISO 11952:2014 中，所使用到的仪器：
ISO 11952:2014 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- ISO 11952:2014
- 发布
- 2014年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 11952:2019
- 当前最新
- ISO 11952:2019
- 引用标准
- IEC/TS 62622:2012 ISO 11039:2012 ISO 12179:2000 ISO 12853:1997 ISO 18115-2:2013 ISO 3274:1996 ISO 4287:1997 ISO 4288:1996 ISO 5436-1:2000 ISO Guide 30:1992 ISO Guide 34:2009 ISO/IEC Guide 98-3:2008
- This International Standard specifies methods for characterizing and calibrating the scan axes of scanning-probe microscopes for measuring geometric quantities at the highest level...
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ISO 11952:2014 中可能用到的仪器设备
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