ASTM E1078-14
表面分析用样品制备和安装的标准指南

Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis


标准号
ASTM E1078-14
发布
2014年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E1078-14(2020)
当前最新
ASTM E1078-14(2020)
 
 
引用标准
ASTM E1127 ASTM E1523 ASTM E1829 ASTM E983
适用范围
1.1 本指南涵盖了表面分析之前、期间和之后的样品制备和安装,并适用于以下表面分析学科:
1.1.1 俄歇电子能谱 (AES)、1.1.2 X射线光电子能谱(XPS 和 ESCA)和 1.1.3 二次离子质谱(SIMS)。
1.1.4 虽然主要是为 AES、XPS 和 SIMS 编写的,但这些方法也适用于许多表面敏感分析方法,例如离子散射光谱法、低能电子衍射和电子能量损失光谱法,其中样品处理可以影响表面敏感测量。 1.2 以 SI 单位表示的值被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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