GB/T 13387-1992
电子材料晶片参考面长度测量方法
Test method for measuring flat length on slices of electronic materials
GB/T 13387-1992 发布历史
本标准规定了电子材料晶片参考面长度的测量方法。 本标准适用于测量各种直径的硅抛光片、研磨片和切割片的参考面长度。也适用于测量砷化镓、蓝宝石和钆镓石榴石等材料晶片的参考面长度。
GB/T 13387-1992由国家质检总局 CN-GB 发布于 1992-02-19，并于 1992-10-01 实施，于 2010-06-01 废止。
GB/T 13387-1992 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法。
GB/T 13387-1992的历代版本如下：
- 1992年02月19日 GB/T 13387-1992 电子材料晶片参考面长度测量方法
- 2009年10月30日 GB/T 13387-2009 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
GB/T 13387-1992 电子材料晶片参考面长度测量方法 于 2009-10-30 变更为 GB/T 13387-2009 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法。
- 标准号
- GB/T 13387-1992
- 发布日期
- 1992年02月19日
- 实施日期
- 1992年10月01日
- 废止日期
- 2010-06-01
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 29.040.30
- 发布单位
- CN-GB
- 代替标准
- GB/T 13387-2009
- 适用范围
- 本标准规定了电子材料晶片参考面长度的测量方法。 本标准适用于测量各种直径的硅抛光片、研磨片和切割片的参考面长度。也适用于测量砷化镓、蓝宝石和钆镓石榴石等材料晶片的参考面长度。