ASTM F744M-16
测量数字集成电路 (米制) 混乱用剂量率阀值的标准试验方法
Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits (Metric)
说明：
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- 标准号
- ASTM F744M-16
- 发布
- 2016年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM F744M-16
- 引用标准
- ASTM E1894 ASTM E666 ASTM E668 ASTM F526
- 1.1 本测试方法涵盖仅在静态工作条件下引起数字集成电路混乱的辐射剂量率阈值水平的测量。辐射源是闪光 X 射线机 (FXR) 或电子直线加速器 (LINAC)。 1.2 测量精度取决于辐射场的均匀性以及辐射剂量测定和记录仪器的精度。 1.3 如果被测集成电路吸收的总辐射剂量超过某个预定水平，则该测试可能对进一步的测试或本测试以外的目的具有破坏性...