原子 浓度 浓度
本专题涉及原子 浓度 浓度的标准有48条。
国际标准分类中，原子 浓度 浓度涉及到分析化学、涂料和清漆、金属矿、石蜡、沥青材料和其他石油产品、涂料配料、润滑剂、工业油及相关产品、燃料、辐射测量、水质。
在中国标准分类中，原子 浓度 浓度涉及到电子光学与其他物理光学仪器、重金属矿、基础标准与通用方法、染料、燃料油、核反应堆综合、石油产品综合、涂料基础标准与通用方法、涂料。
国家质检总局，关于原子 浓度 浓度的标准
- GB/T 20176-2006 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
美国材料与试验协会，关于原子 浓度 浓度的标准
- ASTM D3624-85a(2022) 用原子吸收光谱法测定涂料中低浓度汞的标准试验方法
- ASTM D3717-85a(2022) 用原子吸收光谱法测定涂料中低浓度锑的标准试验方法
- ASTM D3718-85A(2022)e1 用原子吸收光谱法测定涂料中低浓度铬的标准试验方法
- ASTM D3335-85a(2020) 通过原子吸收光谱法测定铅 镉和钴在油漆中的低浓度的标准测试方法
- ASTM D6071-96 石墨炉原子吸收光谱法测定高纯度水中低浓度钠的标准试验方法
- ASTM D3335-85a(1999) 通过原子吸收光谱法测定铅 镉和钴在油漆中的低浓度的标准测试方法
- ASTM D3624-85a(2005) 用原子吸收分光光度法测定涂料中低浓度汞的标准试验方法
- ASTM D3717-85a(2010) 用原子吸收分光光度法测定涂料中低浓度锑的标准试验方法
- ASTM D3624-85a(2010) 用原子吸收分光光度法测定涂料中低浓度汞的标准试验方法
- ASTM D3718-85a(2010) 用原子吸收分光光度法测定涂料中低浓度铬的标准试验方法
- ASTM D3335-85a(2009) 原子吸收光谱法测定涂料中低浓度铅、镉和钴的标准试验方法
- ASTM D3717-85a(2005) 用原子吸收分光光度法测定涂料中低浓度锑的标准试验方法
- ASTM D3335-85a(2005) 原子吸收光谱法测定涂料中低浓度铅、镉和钴的标准试验方法
- ASTM D3718-85a(2005) 用原子吸收分光光度法测定涂料中低浓度铬的标准试验方法
英国标准学会，关于原子 浓度 浓度的标准
- BS ISO 13547-1:2014 铜, 铅, 锌和硫化镍精矿. 砷含量的测定. 氢氧化铁浓度和电感耦合等离子体原子发射光谱法
- BS ISO 14237:2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
- BS EN 237-2004 石油及其产品的试验方法.BS 2000-428:液态石油产品.汽油.用原子吸收光谱法测定低铅浓度
国际标准化组织，关于原子 浓度 浓度的标准
- ISO 13547-1:2014 铜, 铅, 锌和硫化镍精矿. 砷含量的测定. 第1部分: 氢氧化铁浓度和电感耦合等离子体原子发射光谱法
- ISO 14237:2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
- ISO 14237:2000 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
，关于原子 浓度 浓度的标准
- SIS SS 02 84 23-1991 空气质量．固定源排放．汞总质量浓度的测定．无焰原子吸收方法
法国标准化协会，关于原子 浓度 浓度的标准
- NF X21-070-2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度.
- NF M07-061-2005 液化石油产品.汽油.用原子吸收光谱法测定低铅浓度
- NF M60-805-2-2003 核能.环境中放射性的测量.水.第2部分:感应耦合等离子体原子发射光谱法测量水中铀的浓度
- NF M07-061-1996 液体石油产品.燃油.用原子吸收光谱法测定低铅浓度
韩国科技标准局，关于原子 浓度 浓度的标准
- KS M 5985-2008 涂料中低浓度铅、镉和钴的测量法.原子吸收分光法
- KS D ISO 14237:2003 表面化学分析.次级离子质谱法.使用非均一掺杂材料的硅中硼原子的浓度测定
德国标准化学会，关于原子 浓度 浓度的标准
- DIN EN 237-2004 液态石油产品.汽油.用原子吸收光谱法测定低铅浓度
日本工业标准调查会，关于原子 浓度 浓度的标准
- JIS K0143-2000 表面化学分析.次级离子质谱法.利用均匀掺杂材料测定硅中硼原子浓度
欧洲标准化委员会，关于原子 浓度 浓度的标准
- prEN 237-1985 石油产品.低铅浓度的测定.原子吸收光谱测定法
澳大利亚标准协会，关于原子 浓度 浓度的标准
- AS ISO 14237:2006 表面化学分析．次级离子质谱测量法．使用均一的绝缘材料测定硅中的硼原子浓度
