粉末颗粒

本专题涉及粉末颗粒的标准有110条。

国际标准分类中,粉末颗粒涉及到核能工程、金属材料试验、分析化学、粉末冶金、燃料、陶瓷、物理学、化学、橡胶和塑料制品、医疗设备、粒度分析、筛分、化工产品、焊接、钎焊和低温焊、光学设备。

在中国标准分类中,粉末颗粒涉及到固体燃料矿综合、陶瓷、玻璃综合、磨料与磨具、建筑卫生陶瓷、核材料、核燃料及其分析试验方法、核材料、核燃料综合、塑料型材、涂料、催化剂基础标准与通用方法、钢铁产品综合、焊接与切割、温度与压力仪表、涂料基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、无机化工原料综合、物理学与力学、表面活性剂基础标准与通用方法。


德国标准化学会,关于粉末颗粒的标准

  • DIN EN ISO 18256-2-2021 核燃料技术. 含有二氧化钚的材料的溶解. 第2部分: 混合氧化物(MOX)颗粒和粉末的溶解(ISO 18256-2-2019); 英文版本EN ISO 18256-2-2021
  • DIN EN 15991-2016 陶瓷原料和基本材料的试验.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数;德文版本EN 15991-2015
  • DIN EN ISO 14720-2-2013 陶瓷原材料和基本材料试验. 非氧化陶瓷原材料和基本材料粉末及颗粒中硫的测定. 第2部分: 氧气流环境下燃烧后的感应耦合等离子体光学发射光谱法(ICP/OES)或离子色谱法(ISO 14720-2-2013); 德文版本EN ISO 14720-2-2013
  • DIN EN 15979-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.直流电弧激发发射光谱法直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数;德文版本EN 15979-2011
  • DIN EN 15991-2011 陶瓷原料和基本材料的试验.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数;德文版
  • DIN 51096-2008 陶瓷原材料和基本材料的测试.用感应耦合等离子体光学发射光谱测定法(ICP OES)和电热蒸馏器(ETV)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分率
  • DIN 51095-1-2007 陶瓷原料和基本材料的测试.非氧化陶瓷原料和基本材料的粉末和颗粒中硫含量的测定.第1部分:感应电炉中原料发酵作用后的红外测量
  • DIN 51088-2007 陶瓷原料和基本材料的测试.用发射光谱测定分析和直流电弧中的激励测定碳化硅粉末和颗粒碳化硅中金属微量杂质的质量分率
  • DIN 51095-2-2007 陶瓷原料和基本材料的测试.非氧化陶瓷原料和基本材料的粉末和颗粒中硫含量的测定.第2部分:氧流量中燃烧后的感应耦合等离子光发射光谱测定法(ICP OES)或离子色谱法(IC)
  • DIN 25490-1989 核纯级的六氟化铀、氟化铀酰溶液、硝酸双氧铀溶液、氧化铀、二氧化铀粉末和颗粒中铀含量的测定.重量分析法

美国材料与试验协会,关于粉末颗粒的标准

  • ASTM B797-20 表面指氧化物穿透深度的标准测试方法和粉末锻造(PF)钢零件中颗粒氧化物网络的存在
  • ASTM C1453-19 核能级二氧化铀粉末和颗粒的点火和铀氧(O/U)原子比测定铀的标准测试方法
  • ASTM D4512-03(2018)e1 微细催化剂和催化剂载体颗粒和粉末的振动表观堆积密度的标准试验方法
  • ASTM C1457-18 用载气提取法测定氧化铀粉末和颗粒中总氢含量的标准试验方法
  • ASTM B761-17 金属粉末和相关化合物的颗粒尺寸分布的标准测试方法通过X射线监测重力沉降
  • ASTM C697-16 核级钚二氧化物粉末和颗粒的化学 质谱和光谱化学分析的标准测试方法
  • ASTM C1408-16 通过直接燃烧 - 红外检测方法对氧化铀粉末和颗粒中的碳(总计)的标准测试方法
  • ASTM C1408-2016 用直接燃烧红外探测法测定氧化铀粉末和颗粒中总碳量的标准试验方法
  • ASTM C697-2016 核级二氧化钚粉末和颗粒的化学, 质谱和光谱分析的标准试验方法
  • ASTM B797-15 表面指氧化物穿透深度的标准测试方法和粉末锻造(PF)钢零件中颗粒氧化物网络的存在
  • ASTM D7486-2014 使用湿分析法测量塑料颗粒中的粉末和灰尘颗粒的标准试验方法
  • ASTM D4512-03(2013) 微细催化剂和催化剂载体颗粒和粉末的振动表观堆积密度的标准试验方法
  • ASTM D4512-03(2013)e1 微细催化剂和催化剂载体颗粒和粉末的振动表观堆积密度的标准试验方法
  • ASTM B761-06(2011) 金属粉末和相关化合物的颗粒尺寸分布的标准测试方法通过X射线监测重力沉降
  • ASTM C1453-00(2011) 核能级二氧化铀粉末和颗粒的点火和铀氧(O/U)原子比测定铀的标准测试方法
  • ASTM C697-10 核级钚二氧化物粉末和颗粒的化学 质谱和光谱化学分析的标准测试方法
  • ASTM C697-2010 核工业级二氧化钚粉末和颗粒的化学、质谱和光谱化学分析的标准试验方法
  • ASTM C1408-09 通过直接燃烧 - 红外检测方法对氧化铀粉末和颗粒中的碳(总计)的标准测试方法
  • ASTM C1408-2009 用直接燃烧红外探测法测定氧化铀粉末和颗粒中总碳量的标准试验方法
  • ASTM D4512-03(2008) 微细催化剂和催化剂载体颗粒和粉末的振动表观堆积密度的标准试验方法
  • ASTM F754-2008 用颗粒成型粉末制成薄板、管及杆状的可植入聚四氟乙烯聚合物的标准规范
  • ASTM D5861-2007(2013) 涂料粉末颗粒尺寸测量有效性的标准指南
  • ASTM D5861-2007 涂料粉末颗粒尺寸测量的重要性用标准指南
  • ASTM C1453-00(2006) 核能级二氧化铀粉末和颗粒的点火和铀氧(O/U)原子比测定铀的标准测试方法
  • ASTM B761-06 金属粉末和相关化合物的颗粒尺寸分布的标准测试方法通过X射线监测重力沉降
  • ASTM B761-02e1 金属粉末和相关化合物的颗粒尺寸分布的标准测试方法通过X射线监测重力沉降
  • ASTM C1408-98(2004) 通过直接燃烧 - 红外检测方法对氧化铀粉末和颗粒中的碳(总计)的标准测试方法
  • ASTM C697-04 核级钚二氧化物粉末和颗粒的化学 质谱和光谱化学分析的标准测试方法
  • ASTM D4512-03 微细催化剂和催化剂载体颗粒和粉末的振动表观堆积密度的标准试验方法
  • ASTM D4512-2003 细粒催化剂和催化剂载体颗粒和粉末振动表观填充密度的标准试验方法
  • ASTM D4512-2003(2008) 细粒催化剂和催化剂载体颗粒和粉末振动表观填充密度的标准试验方法
  • ASTM D4512-2003(2013)e1 细粒催化剂和催化剂载体颗粒和粉末振动表观堆积密度的标准试验方法
  • ASTM D4512-2003(2013) 细粒催化剂和催化剂载体颗粒和粉末振动表观堆积密度的标准试验方法
  • ASTM B761-02 金属粉末和相关化合物的颗粒尺寸分布的标准测试方法通过X射线监测重力沉降
  • ASTM C1453-00 核能级二氧化铀粉末和颗粒的点火和铀氧(O/U)原子比测定铀的标准测试方法
  • ASTM C1453-2000(2011) 用核级二氧化铀粉末和颗粒点火及氧铀(O/U)原子比法测定铀的标准试验方法
  • ASTM C1453-2000(2006) 用点火和核级二氧化铀粉末和颗粒的氧铀原子比测定铀的标准试验方法
  • ASTM C1453-2000 用点火和核级二氧化铀粉末和颗粒的氧铀原子比测定铀的标准试验方法
  • ASTM C1457-2000(2010)e1 用载气萃取法测定二氧化铀粉末和颗粒中氢的总含量的试验方法
  • ASTM C1457-2000 用载气萃取法测定二氧化铀粉末或颗粒中氢的总含量的标准试验方法
  • ASTM C1457-2000(2005) 用载气萃取法测定二氧化铀粉末或颗粒中氢的总含量的标准试验方法
  • ASTM D4512-99 微细催化剂和催化剂载体颗粒和粉末的振动表观堆积密度的标准试验方法
  • ASTM C1408-98 通过直接燃烧 - 红外检测方法对氧化铀粉末和颗粒中的碳(总计)的标准测试方法
  • ASTM C697-98 核级钚二氧化物粉末和颗粒的化学 质谱和光谱化学分析的标准测试方法
  • ASTM C1408-1998(2004) 用直接燃烧红外探测法测定氧化铀粉末和颗粒中总碳量的标准试验方法
  • ASTM C1408-1998 用直接燃烧红外探测法测定氧化铀粉末和颗粒中总碳量的标准试验方法
  • ASTM D5861-1995 涂料粉末颗粒尺寸测量有效性的标准导则
  • ASTM D5861-1995(2002) 涂料粉末颗粒尺寸测量有效性的标准导则

国际标准化组织,关于粉末颗粒的标准

  • ISO 17200-2020 纳米技术 - 粉末形式的纳米颗粒 - 特性和测量
  • ISO 18846-2016 固体生物燃料. 颗粒样本粉末度的测定
  • ISO 21613-2015 (U Pu)O2粉末和烧结颗粒.氯和氟的测定
  • ISO 14720-1:2013 陶瓷原材料和基础材料的测试——非氧化陶瓷原材料和基本材料粉末和颗粒中硫的测定第1部分:红外测量方法
  • ISO 14720-2:2013 陶瓷原材料和基础材料的测试——非氧化陶瓷原材料和基本材料粉末和颗粒中硫的测定第2部分:在氧气流中燃烧后的电感耦合等离子体发射光谱法(ICP/OES)或离子色谱法
  • ISO 21614-2008 UO2、(U、Gd)O2和(U、Pu)O2粉末和烧结颗粒的含碳量测定.在高频感应电炉中燃烧.红外线吸收光谱测定法
  • ISO 22875-2008 核能.二氧化铀粉末和烧结颗粒中氯和氟的测定
  • ISO 12795:2004 核燃料技术——二氧化铀粉末和颗粒——杂质校正重量法测定铀及氧铀比
  • ISO 9006:1994 金属铀和二氧化铀粉末和颗粒——氮含量的测定——氨敏感电极法
  • ISO 9892:1992 金属铀、二氧化铀粉末和颗粒以及硝酸铀酰溶液——氟含量的测定——氟离子选择电极法
  • ISO 8213:1986 工业用化学产品——采样技术——固体化学产品 颗粒形式从粉末到粗块不等
  • ISO 4324:1977 表面活性剂——粉末和颗粒——休止角的测量

,关于粉末颗粒的标准

  • E 246-1971 用于水泥浆及混凝土中的惰性物质粉末颗粒百分比的测定

英国标准学会,关于粉末颗粒的标准

  • BS EN ISO 18846-2016 固体生物燃料. 大量颗粒粉末度的测定
  • BS EN ISO 18846-2016 固体生物燃料. 大量颗粒粉末度的测定
  • BS EN 15991-2015 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
  • BS EN 15991-2015 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
  • BS EN 15979-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.直流电弧激发发射光谱法直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
  • BS EN 15991-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数

欧洲标准化委员会,关于粉末颗粒的标准

  • EN 15991-2015 陶瓷和基本材料的检验.通过电感耦合等离子体光学发射光谱法(ICP OES)与电热汽化(ETV)的粉末和碳化硅的颗粒杂质质量分数的直接测定
  • EN 15991-2015 陶瓷和基本材料的检验.通过电感耦合等离子体光学发射光谱法(ICP OES)与电热汽化(ETV)的粉末和碳化硅的颗粒杂质质量分数的直接测定
  • EN ISO/TS 17200-2015 纳米技术.粉末形式的纳米颗粒.特性和测量
  • EN 15979-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.直流电弧激发发射光谱法直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
  • EN 15991-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数

法国标准化协会,关于粉末颗粒的标准

  • NF B41-106-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数.
  • NF B41-105-2011 陶瓷原料和基本材料的试验.直流电弧激发的光谱仪(OES)对碳化硅粉末和颗粒内杂质质量分数的直接测定
  • NF M60-451-2008 核能.二氧化铀粉末和烧结颗粒中氯和氟的测定
  • NF X11-642-1982 颗粒测定.200微米以下级配粉末在液体中筛分
  • NF X11-683-1981 液体内变高度重力沉积粉末颗粒分析.X射线吸收测量法
  • NF T73-008-1978 表面活性剂.静止角粉末与颗粒的测量

美国电子电路和电子互连行业协会,关于粉末颗粒的标准


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