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sims 二次离子质谱
本专题涉及sims 二次离子质谱的标准有11条。
国际标准分类中，sims 二次离子质谱涉及到分析化学。
在中国标准分类中，sims 二次离子质谱涉及到光学计量仪器、基础标准与通用方法、化学。
美国材料与试验协会，关于sims 二次离子质谱的标准
- ASTM E1162-87(2001) 二次离子质谱法(SIMS)中报告溅射深度截面数据
- ASTM E1162-87(1996) 二次离子质谱法(SIMS)中报告溅射深度截面数据
- ASTM E1635-95(2000) 二次离子质谱（SIMS）中成像数据报告的标准实施规程
- ASTM E1635-06(2019) 二次离子质谱（SIMS）中成像数据报告的标准实施规程
- ASTM E1504-11(2019) 二次离子质谱法（SIMS）中质谱数据报告的标准实施规程
- ASTM E1162-11(2019) 二次离子质谱法（SIMS）中溅射深度剖面数据报告的标准实施规程
- ASTM E1504-92(1996) 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范
- ASTM E1504-92(2001) 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范
- ASTM E1504-06 次级离子质谱法(SIMS)中质谱数据报告的标准实施规程
- ASTM E1635-06(2011) 次级离子质谱法(SIMS)成像数据报告标准规程
日本工业标准调查会，关于sims 二次离子质谱的标准
- JIS K 0169:2012 表面化学分析.二次离子质谱(SIMS).带多重亚铅层对照物的深度分辨率参数估算方法
