EN
RU
ES
半导体探测器 x射线
本专题涉及半导体探测器 x射线的标准有8条。
国际标准分类中，半导体探测器 x射线涉及到分析化学、核能工程。
在中国标准分类中，半导体探测器 x射线涉及到电子光学与其他物理光学仪器、核仪器与核探测器综合、光学测试仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合。
国家质检总局，关于半导体探测器 x射线的标准
- GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
- GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
法国标准化协会，关于半导体探测器 x射线的标准
- NF X21-008:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规格
国际标准化组织，关于半导体探测器 x射线的标准
- ISO 15632:2021 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
- ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
- ISO 15632:2002 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
德国标准化学会，关于半导体探测器 x射线的标准
- DIN ISO 15632:2015 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范(ISO 15632-2012)
韩国科技标准局，关于半导体探测器 x射线的标准
- KS D ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
