比表面仪器

本专题涉及比表面仪器的标准有179条。

国际标准分类中,比表面仪器涉及到长度和角度测量、辐射防护、分析化学、表面处理和镀涂、机械试验、辐射测量、艺术和手工艺品、词汇、计量学和测量综合、有关航空航天制造用镀涂和有关工艺、半导体分立器件、有色金属、齿轮及齿轮传动、机床装置、特殊工作条件下用电气设备、计量学和测量、物理现象、粒度分析、筛分。

在中国标准分类中,比表面仪器涉及到基础标准与通用方法、辐射防护仪器、基础标准与通用方法、材料防护、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、辐射防护与监测综合、辐射防护监测与评价、数学、通用零部件综合、计量综合、涂料、电子光学与其他物理光学仪器、工艺美术品、温度与压力仪表、图书馆、档案、文献与情报工作、基础标准与通用方法、化学、量具与量仪、通用电子测量仪器设备及系统、电气设备与器具综合、标准化、质量管理、基础标准与通用方法、物理学与力学、基础标准与通用方法、金属化学性能试验方法、光学计量仪器、长度计量。


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于比表面仪器的标准

  • GB/T 33523.701-2017 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 区域法 第701部分:接触(触针)式仪器的校准与测量标准
  • GB/T 33523.601-2017 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 区域法 第601部分:接触(触针)式仪器的标称特性

国家质检总局,关于比表面仪器的标准

  • GB/T 29788-2013 辐射防护仪器 便携式表面污染光子测量仪和监测仪
  • GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
  • GB/T 25187-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱.选择仪器性能参数的表述
  • GB/T 6062-2009 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.接触(触针)式仪器的标称特性
  • GB/T 19600-2004 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的校准
  • GB/T 6062-2002 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性

国际标准化组织,关于比表面仪器的标准

  • ISO 12179-2021 产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针)仪器的校准
  • ISO 12179:2021 产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针)仪器的校准
  • ISO 25178-607-2019 几何产品规格(GPS) - 表面纹理:面积 - 第607部分:非接触(共聚焦显微镜)仪器的标称特性
  • ISO 15470:2017 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 所选仪器性能参数的描述
  • ISO 15470-2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
  • ISO 15470-2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
  • ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • ISO 7503-3:2016 放射性测量 - 表面污染物的测量和评估 - 第3部分:仪器校准
  • ISO 7503-3-2016 放射性测量. 表面污染的测量和评价. 第3部分: 仪器标定
  • ISO 25178-606:2015 几何产品规格(Gps) - 表面纹理:面积 - 第606部分:非接触(焦距变化)仪器的标称特性
  • ISO 25178-606-2015 几何产品规范 (GPS). 表面纹理: 面. 第606部分: 非接触式 (变焦) 仪器的标称特性
  • ISO 25178-605-2014 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 第605部分: 非接触式(点自动对焦探针)仪器的标称特性
  • ISO 25178-605:2014 几何产品规范(GPS)——表面结构:区域零件605:非接触(点式自动聚焦探头)仪器的标称特性
  • ISO 25178-603-2013 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第603部分:非接触(相移干涉计的显微检查)仪器标称特征
  • ISO 25178-603:2013 几何产品规范(GPS)——表面结构:区域零件603:非接触(相移干涉显微镜)仪器的标称特性
  • ISO 25178-604-2013 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第604部分:非接触式标称特征(连贯性扫描干涉法)仪器
  • ISO 25178-604:2013 几何产品规范(GPS)——表面结构:ArealPart 604:非接触(相干扫描干涉测量)仪器的标称特性
  • ISO 8503-4:2012 涂料和相关产品使用前钢衬底的制备——喷砂清理钢基体的表面粗糙度特性第4部分:ISO表面轮廓比较仪校准和表面轮廓测定方法——触针仪器程序
  • ISO 6719-2010 铝及铝合金阳极氧化.使用积分球仪器测定阳极氧化膜表面反射特性
  • ISO 25178-601-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第601部分:触点(触针)仪器的标称属性
  • ISO 25178-602-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第602部分:非触点(共焦易染色探针)仪器的标称属性
  • ISO 25178-701-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:触点(触针)仪器的测量和校准标准
  • ISO 25178-701:2010 几何产品规范(GPS)——表面结构:区域零件701:接触(触针)仪器的校准和测量标准
  • ISO 25178-602:2010 几何产品规范(GPS)——表面结构:区域零件602:非接触(共焦彩色探头)仪器的标称特性
  • ISO 25178-601:2010 几何产品规范(GPS)——表面结构:区域零件601:触点(触针)仪器的标称特性
  • ISO 15470:2004 表面化学分析——X射线光电子能谱;所选仪器性能参数的说明
  • ISO 15470-2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • ISO 15471-2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • ISO 12179 Technical Corrigendum 1-2003 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针)式仪器的校准.技术勘误1
  • ISO 12179:2000 几何产品规范(GPS)——表面纹理:轮廓法——接触式(触针式)仪器的校准
  • ISO 12179-2000 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的校准
  • ISO 3274 Technical Corrigendum 1-1998 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性 技术勘误1
  • ISO 3274:1996 几何产品规范(GPS)——表面纹理:轮廓法——接触式(触针式)仪器的标称特性
  • ISO 3274-1996 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性
  • ISO 8503-4:1988 涂料和相关产品使用前钢衬底的制备.喷砂清理钢衬底的表面粗糙度特性.第4部分:ISO表面轮廓比较器的校准和表面轮廓测定方法.触针仪器程序
  • ISO 6719:1986 阳极氧化铝和铝合金.用积分球仪器测量铝表面的反射特性
  • ISO 4288:1985 使用触针仪器测量表面粗糙度的规则和程序
  • ISO 1878:1983 表面光洁度几何参数测量和评估用仪器和装置的分类
  • ISO 1878-1983 测量和评定表面光洁度几何参数仪器和设备的分类
  • ISO 1879:1981 用轮廓法测量表面粗糙度的仪器.词汇
  • ISO 1880:1979 用轮廓法测量表面粗糙度的仪器.逐步轮廓变换的接触(触针)仪器.轮廓记录仪器
  • ISO 3274:1975 用轮廓法测量表面粗糙度的仪器.连续轮廓变换的接触(触针)仪器.接触轮廓仪 系统M

,关于比表面仪器的标准

美国材料与试验协会,关于比表面仪器的标准

  • ASTM F1702-10(2018) 使用轻便便携式仪器测量自然播放表面系统的冲击衰减特性的标准测试方法
  • ASTM D5767-18 用于显示涂层表面特征(DOI)光泽度的仪器测量的标准测试方法
  • ASTM D5767-17 用于显示涂层表面特征(DOI)光泽度的仪器测量的标准测试方法
  • ASTM D5767-2017 利用仪器测量涂层表面映像清晰度(DOI)光泽的标准试验方法
  • ASTM D1735-2014 用水雾仪器测试喷粉表面防水性能的标准实施规程
  • ASTM D5767-95(2012) 用于仪器测量涂层表面光泽度的标准测试方法
  • ASTM F1702-10 使用轻便便携式仪器测量自然播放表面系统的冲击衰减特性的标准测试方法
  • ASTM D5767-95(2004) 用于仪器测量涂层表面光泽度的标准测试方法
  • ASTM D5767-95(1999) 用于仪器测量涂层表面光泽度的标准测试方法
  • ASTM D5767-1995(2012) 涂层表面成像清晰度光泽仪器测量的标准试验方法
  • ASTM D5767-1995(2004) 涂层表面成像清晰度光泽仪器测量的标准试验方法

英国标准学会,关于比表面仪器的标准

  • BS ISO 15470-2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS ISO 15470-2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS ISO 7503-3-2016 放射性的测量. 表面污染的测量和评价. 仪器标定
  • BS ISO 7503-3-2016 放射性的测量. 表面污染的测量和评价. 仪器标定
  • BS EN ISO 25178-606-2015 几何产品规范 (GPS). 表面纹理: 面. 非接触式 (变焦) 仪器的标称特性
  • BS EN ISO 25178-605-2014 几何产品技术规范 (GPS). 表面结构: 平面式. 非接触 (点自动对焦探针) 仪器的标称特征
  • BS EN ISO 25178-603-2013 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 非接触式(相移干涉计的显微检查)仪器的标称特性
  • BS EN ISO 25178-604-2013 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 非接触式(连贯性扫描干涉法)仪器的标称特性
  • BS EN 15758-2010 文化遗产保护.气温和物体表面温度测量用仪器和规程
  • BS EN ISO 25178-601-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理.平面.接触式(触针)仪器的标称特征
  • BS EN ISO 25178-701-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.触点(触针)仪器的测量和校准标准
  • BS EN ISO 25178-602-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理.平面.非接触式(共焦彩色探针)仪器的标称特征
  • BS EN 61098-2007 辐射防护仪器.固定式个人表面污染监测装置
  • BS ISO 15470-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS ISO 15471-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS EN ISO 12179-2001 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.接触式(触针)仪器的校准
  • BS EN 12373-12-2001 铝和铝合金.阳极氧化.用集成球形仪器测量铝表面反射特性
  • BS ISO 3274-1997 几何产品规范(GPS).表面织物:轮廓法.接触(针)仪器的一般特性
  • BS 1134-1-1988 表面结构的评定.方法和仪器
  • BS 6393-1987 表面结构测量用探针式仪器规范

德国标准化学会,关于比表面仪器的标准

  • DIN EN ISO 25178-606-2016 几何产品规范 (GPS).表面纹理:面.第606部分:非接触式 (变焦) 仪器的标称特性(ISO 25178-606-2015).德文版本EN ISO 25178-606-2015
  • DIN EN ISO 25178-605-2014 几何产品技术规格(GPS). 表面结构: 平面式. 第605部分: 非接触式(连贯性扫描干涉法)仪器的标称特性(ISO 25178-605-2014); 德文版本EN ISO 25178-605-2014
  • DIN EN ISO 25178-603-2014 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第603部分:非接触(相移干涉计的显微检查)仪器标称特征(ISO 25178-603-2013).德文版本EN ISO 25178-603-2013
  • DIN EN ISO 25178-604-2013 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第604部分:非接触式标称特征(连贯性扫描干涉法)仪器(ISO 25178-604-2013).德文版本EN ISO 25178-604-2013
  • DIN EN ISO 8503-4-2012 使用涂料和有关产品前钢基材的制备.喷丸处理钢基材的表面粗糙度.第4部分:ISO表面轮廓比较仪校准方法和表面轮廓测定方法.触针仪器的方法
  • DIN EN ISO 25178-602-2011 产品几何技术规范(GPS)-表面纹理:平面.第602部分:非接触式(共焦彩色探针)仪器的标称特征(ISO 25178-602-2010);德文版本EN ISO 25178-602-2010
  • DIN EN ISO 25178-601-2011 产品几何技术规范(GPS).表面结构:平面的.第601部分:接触式(触针式)仪器的标称特性(ISO 25178-601-2010);德文版本EN ISO 25178-601-2010
  • DIN EN ISO 25178-701-2011 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:平面的.第701部分:接触式(触针)仪器的校准和测量标准(ISO 25178-701-2010);德文版本EN ISO 25178-701-2010
  • DIN EN 15758-2010 文化遗产保护.气温和物体表面温度测量用仪器和规程;德文版本EN 15758-2010
  • DIN VDE 0493-110-2010 辐射防护仪器.第110部分:安装人员表面污染监测集会的定期测试
  • DIN EN ISO 12179 Berichtigung 1-2009 产品几何量规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针式)仪器的校准 (ISO 12179-2000).德文版本EN ISO 12179-2000,DIN EN ISO 12179-2000-11标准的勘误表.德文版本EN ISO 12179-2000/AC-2008
  • DIN EN ISO 12179-2000 产品几何量规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针式)仪器的校准
  • DIN 66126-2-1989 采用渗透性技术对分散固体材料的特殊表面范围的测定.第2部分:布莱恩(Blaine)方法和仪器
  • DIN 50927-1985 对仪器.容器和管道内表面的电化学防腐的计划与实施(内部防护)
  • DIN EN 61098-2017 辐射防护仪器. 安装的人员表面污染监测组件(IEC 45B / 874 / CD:2017)

欧洲标准化委员会,关于比表面仪器的标准

  • EN ISO 25178-606-2015 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:区域. 第606部分:非接触式(焦点变化)标称特性仪器(ISO 25178.606:2015)
  • EN ISO 25178-605-2014 产品几何技术规范(GPS).表面结构:区域.第605部分:非接触式(点自动聚焦探针)仪器的标称特性(ISO 25178-605:2014)
  • EN ISO 25178-604-2013 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第604部分:非接触式标称特征(连贯性扫描干涉法)仪器
  • EN ISO 8503-4-2012 使用涂料和有关产品前钢基材的制备.喷丸处理钢基材的表面粗糙度.第4部分:ISO表面轮廓比较仪校准方法和表面轮廓测定方法.触针仪器的方法
  • EN 15758-2010 文化遗产保护.气温和物体表面温度测量用仪器和规程
  • EN ISO 25178-602-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第602部分:非接触式(共焦色探头)仪器的标称特性
  • EN ISO 25178-701-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:接触式(触针)仪器的校准和测量标准
  • EN ISO 25178-601-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理.平面.接触式(触针)仪器的标称特征
  • EN ISO 12179-2000 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针)式仪器的校准
  • EN ISO 3274-1997 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针)式仪器的标称特性
  • EN ISO 8503-4-1995 使用涂料和有关产品前钢基材的制备.喷丸处理钢基材的表面粗糙度.第4部分:ISO表面轮廓比较仪校准方法和表面轮廓测定方法.触针仪器的方法

韩国标准,关于比表面仪器的标准

  • KS B ISO 12179-2014 产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触式(触针)仪器的校准
  • KS B ISO 12179-2014 产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触式(触针)仪器的校准
  • KS M ISO 8503-4-2012 涂料和有关产品使用前钢衬底的制备.喷丸处理钢基体的表面粗糙度.第4部分:ISO表面轮廓比较仪的校准方法和表面轮廓的测定方法.触针仪器的方法
  • KS M ISO 8503-4-2012 涂料和有关产品使用前钢衬底的制备.喷丸处理钢基体的表面粗糙度.第4部分:ISO表面轮廓比较仪的校准方法和表面轮廓的测定方法.触针仪器的方法
  • KS D ISO 15471-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • KS D ISO 15470-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • KS D ISO 15470-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • KS D ISO 15471-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • KS B ISO 12179-2004 产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触式(触针)仪器的校准

法国标准化协会,关于比表面仪器的标准

  • NF E05-031-605-2014 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 第605部分: 非接触式(点自动对焦探针)仪器的标称特性
  • NF E05-031-603-2013 几何产品技术规范 (GPS) - 表面结构: 平面式 - 第603部分: 非接触 (相移干涉计的显微检查) 仪器的标称特征
  • NF E05-031-604-2013 几何产品规格(GPS). 表面纹理: 面. 第604部分: 非接触式(连贯性扫描干涉法)仪器的标称特性
  • NF T35-503-4-2012 涂料和有关产品使用前钢基片的制备.喷丸处理钢基片的表面粗糙度特性.第4部分:ISO 表剖面比较仪的校准方法和表剖面的测定方法.触针仪器的程序
  • NF X80-010-2010 文化遗产保护.气温和物体表面温度测量用仪器和规程.
  • NF E05-031-601-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第601部分:触点(探针)仪器的标称特性
  • NF E05-031-602-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第602部分:非触点(共焦易染色探针)仪器的标称特性
  • NF E05-031-701-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:触点(探针)仪器用测量和校准标准
  • NF E05-056-2000 几何产品规范(GPS).表面结构:轮廓检测法.接触(触针)仪器的校准
  • NF E05-052-1998 几何产品规范(GPS).表面结构:轮廓检测法.触点(尖针)仪器的一般特性
  • NF T35-503-4-1995 涂料和有关产品使用前钢基片的制备.喷丸处理钢基片的表面粗糙度特性.第4部分:ISO 表剖面比较仪的校准方法和表剖面的测定方法.触针仪器的程序
  • NF X11-622-1977 用气体吸附法测定粉末(特殊表面)单位质量的面积.基本方法的各种仪器指示

日本工业标准调查会,关于比表面仪器的标准

  • JIS K0162-2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • JIS K0161-2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • JIS B0670-2002 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.触针式仪器的校正
  • JIS B0651 ERRATUM 1-2001 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.触针式仪器的标称特征(勘误1)
  • JIS B0651-2001 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.触针式仪器的标称特性
  • JIS B0651-1996 表面纹理.表面纹理评定用仪器.断面法

行业标准-机械,关于比表面仪器的标准

美国机动车工程师协会,关于比表面仪器的标准

(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于比表面仪器的标准

加拿大标准协会,关于比表面仪器的标准

  • CSA E61241-1-1-02-CAN/CSA-2002 可燃性粉尘环境用电气设备.第1-1部分:用外壳和限制表面温度保护的电气设备–仪器规格.第2版.IEC 61241-1-1:1999

印度尼西亚标准,关于比表面仪器的标准

丹麦标准化协会,关于比表面仪器的标准

  • DS/ISO 1878-1989 测量和评定表面光洁度几何参数仪器和设备的分类
  • DS/ISO 1880-1981 用轮廓法测量表面粗糙度的仪器.逐级轮廓转换触针轮廓仪.轮廓记录仪
  • DS/ISO 3274-1981 用轮廓法测量表面粗糙度的仪器.连续轮廓转换触针轮廓仪.M系统轮廓触点仪

澳大利亚标准协会,关于比表面仪器的标准

  • AS ISO 15470-2006 表面化学分析.X射线光电子光谱法.选定仪器性能参数的描述
  • AS ISO 15470-2006 表面化学分析.X射线光电子光谱法.选定仪器性能参数的描述

比表面仪器比表面仪参数比表面仪构造比表面仪使用比表面仪鉴定比表面仪设备比表面仪原理比表面仪型号比表面 仪器比表面仪验收比表面仪的标样比表面仪 收费st 比表面仪氮气 比表面仪比表面仪 参数比表面仪 原理比表面测定仪器石墨 比表面仪比表面仪 比表面分析比表面仪的原理

 

可能用到的仪器设备

 

岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Supra

岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Supra

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

X射线光电子能谱仪 AMICUS型

X射线光电子能谱仪 AMICUS型

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+

岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

K-Alpha X射线光电子能谱仪

K-Alpha X射线光电子能谱仪

赛默飞世尔科技(中国)有限公司

 

EscaLab Xi+ X射线光电子能谱仪

EscaLab Xi+ X射线光电子能谱仪

赛默飞世尔科技(中国)有限公司

 

 




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