比表面仪 参数

本专题涉及比表面仪 参数的标准有162条。

国际标准分类中，比表面仪 参数涉及到长度和角度测量、摄影技术、词汇、频率控制和选择用压电器件与介质器件、金属材料试验、木材加工技术、计量学和测量综合、分析化学、木基板材、齿轮及齿轮传动、机床、表面处理和镀涂、焊接、钎焊和低温焊、天文学、大地测量学、地理学、音频、视频和视听工程、农业机械、工具和设备、木材、原木和锯材、燃烧器、锅炉、光学和光学测量、无屑加工设备。

在中国标准分类中，比表面仪 参数涉及到基础标准与通用方法、感光材料基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、石英晶体、压电元件、粉末冶金材料与制品、金属物理性能试验方法、物性分析仪器、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、物理学与力学、人造板、磨床、劳动卫生、光学计量仪器。


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于比表面仪 参数的标准

  • GB/T 33523.2-2017 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 区域法 第2部分：术语、定义及表面结构参数

国家质检总局，关于比表面仪 参数的标准

  • GB/T 31199-2014 计算机直接制版版基(CTP版基) 表面粗糙度参数的测定
  • GB/T 18618-2009 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 图形参数
  • GB/T 3505-2009 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.术语、定义及表面结构参数
  • GB/T 1031-2009 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.表面粗糙度参数及其数值
  • GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
  • GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
  • GB/T 7220-2004 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 表面粗糙度 术语 参数测量
  • GB/T 12472-2003 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 木制件表面粗糙度参数及其数值
  • GB/T 15757-2002 产品几何量技术规范(GPS)表面缺陷 术语、定义及参数
  • GB/T 18618-2002 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 图形参数
  • GB/T 3505-2000 产品几何技术规范 表面结构 轮廓法 表面结构的术语、定义及参数
  • GB/T 1031-1995 表面粗糙度 参数及其数值
  • GB/T 12767-1991 粉末冶金制品 表面粗糙度 参数及其数值
  • GB/T 12472-1990 木制件表面粗糙度参数及其数值
  • GB/T 7220-1987 表面粗糙度 术语 参数测量

国际标准化组织，关于比表面仪 参数的标准

  • ISO 21920-2-2021 产品几何技术规范（GPS）.表面结构:轮廓.第2部分:术语、定义和表面结构参数
  • ISO 25178-2-2021 产品几何技术规范（GPS）.表面结构:区域.第2部分:术语、定义和表面结构参数
  • ISO 25178-2-2012 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:表面的.第2部分:术语,定义和表面纹理参数
  • ISO 25178-2:2012 几何产品规范（GPS）——表面纹理:区域第2部分:术语、定义和表面纹理参数
  • ISO 4287 AMD 1-2009 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.表面结构的术语、定义和参数.修改件1:峰计数
  • ISO 4287 Technical Corrigendum 2-2005 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.术语、定义和表面结构参数.技术勘误2
  • ISO 20341:2003 表面化学分析——二次离子质谱法——利用多delta层标准物质估算深度分辨率参数的方法
  • ISO 20341-2003 表面化学分析.次级离子质谱法.多δ层标准材料深度溶解参数的估算方法
  • ISO 8785:1998 几何产品规范（GPS）——表面缺陷——术语、定义和参数
  • ISO 8785-1998 产品几何量技术规范(GPS) 表面缺陷 术语、定义和参数 两种语言版
  • ISO 4287 Technical Corrigendum 1-1998 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 表面结构的术语、定义及参数 技术勘误1 两种语言版
  • ISO 12085 Technical Corrigendum 1-1998 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 图形参数 技术勘误1
  • ISO 4287:1997 几何产品规范（GPS）——表面纹理:轮廓法——术语、定义和表面纹理参数
  • ISO 4287-1997 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 表面结构的术语、定义及参数 两种语言版
  • ISO 12085:1996 几何产品规范（GPS）——表面纹理:轮廓法——基序参数
  • ISO 12085-1996 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 图形参数
  • ISO 4287-1:1984 表面粗糙度术语第1部分:表面及其参数
  • ISO 4287-2:1984 表面粗糙度术语第2部分:表面粗糙度参数的测量
  • ISO 4287-2-1984 表面粗糙度.术语.第2部分:表面粗糙度参数的测量三种语言版
  • ISO 4287-1-1984 表面粗糙度.术语.第1部分:表面及其参数.三种语言版
  • ISO 1878:1983 表面光洁度几何参数测量和评估用仪器和装置的分类
  • ISO 1878-1983 测量和评定表面光洁度几何参数仪器和设备的分类
  • ISO 468:1982 表面粗糙度.参数、参数值和规定要求的一般规则
  • ISO 468-1982 表面粗糙度.拟定技术规范要求的参数,及其数值和一般规则

英国标准学会，关于比表面仪 参数的标准

，关于比表面仪 参数的标准

  • TS 2216-1976 测量和评定表面粗糙度几何参数的仪器和装置分类

国际电工委员会，关于比表面仪 参数的标准

  • IEC 60444-8:2016 石英晶体单位参数测量第8部分:表面贴装石英晶体单元的测试夹具
  • IEC 60444-8-2016 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
  • IEC 60444-8-2016 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
  • IEC 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
  • IEC 60444-8:2003 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装石英晶体元件的试验夹具

韩国标准，关于比表面仪 参数的标准

  • KS B ISO 12085-2014 几何制品规范(GPS).表面特征:剖面法.主要参数
  • KS B ISO 8785-2014 几何制品官方(GPS).表面不完全性.术语、定义和参数
  • KS B ISO 8785-2014 几何制品官方(GPS).表面不完全性.术语、定义和参数
  • KS B ISO 12085-2014 几何制品规范(GPS).表面特征:剖面法.主要参数
  • KS B ISO 4287-2014 产品几何技术规范(GPS).表面特征:轮廓法.术语、定义和表面特征参数
  • KS B ISO 4287-2014 产品几何技术规范(GPS).表面特征:轮廓法.术语、定义和表面特征参数
  • KS B ISO 4287-2008 产品几何技术规范(GPS).表面特征:轮廓法.术语、定义和表面特征参数
  • KS D ISO 20341-2005 表面化学分析.次级离子质谱法.多δ层标准材料深度溶解参数的估算方法
  • KS D ISO 20341-2005 表面化学分析.次级离子质谱法.多δ层标准材料深度溶解参数的估算方法
  • KS B ISO 12085-2004 几何制品规范(GPS).表面特征:剖面法.主要参数
  • KS B ISO 12085-2004 几何制品规范(GPS).表面特征:剖面法.主要参数
  • KS B ISO 8785-2004 几何制品官方(GPS).表面不完全性.术语、定义和参数

日本工业标准调查会，关于比表面仪 参数的标准

  • JIS B0601-2013 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:剖面法.术语,定义和表面纹理参数
  • JIS K0169-2012 表面化学分析.二次离子质谱(SIMS).带多重亚铅层对照物的深度分辨率参数估算方法
  • JIS K0169-2012 表面化学分析.二次离子质谱(SIMS).带多重亚铅层对照物的深度分辨率参数估算方法
  • JIS B0601-2001 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.术语、定义和表面结构参数
  • JIS B0631-2000 几何产品规范(GPS).表面结构:截面法.图案参数
  • JIS B0660-1998 表面粗糙度.术语.第1部分:表面及其参数

德国标准化学会，关于比表面仪 参数的标准

  • DIN EN ISO 25178-2-2012 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 第2部分: 术语, 定义和表面纹理参数(ISO 25178-2-2012); 德文版本EN ISO 25178-2-2012
  • DIN EN ISO 4287-2010 产品几何量技术规范. 表面构造: 剖面法. 术语, 定义及表面构造参数（ISO 4287: 1997 + 勘误表 1: 1998 + 勘误表 2: 2005 + 修改件 1: 2009）; 德文版本EN ISO 4287: 1998 + AC: 2008 + A1: 2009
  • DIN EN ISO 4287-2009 产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廓法图形参数(ISO 4287:1997+勘误1:1998+勘误12:2005+修改件1:2009),德文版本 EN ISO 4287:1998 + AC:2008 + A1:2009
  • DIN EN ISO 12085 Berichtigung 1-2009 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.图形参数(ISO 12085:1996),EN ISO 12085:1997德文版本,DIN EN ISO 12085:1998-05勘误表,EN ISO 12085:1997/AC:2008德文版本
  • DIN CEN/TS 635-4-2007 胶合板.用表面外观分类.第4部分:精整能力的参数用指南
  • DIN EN 60444-8-2004 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件用测试工具
  • DIN EN ISO 8785-1999 产品几何量规范.表面缺陷.术语、定义和参数
  • DIN EN ISO 12085-1998 产品几何量规范(GPS).表面结构:轮廓法.图形参数
  • DIN 3969-1-1991 齿面表面粗糙度.粗糙度参数.表面等级

法国标准化协会，关于比表面仪 参数的标准

  • NF E05-031-2-2012 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第2部分:术语,定义和表面纹理参数
  • NF E05-015/A1-2009 几何产品规范(GPS).表面结构:轮廓法.表面结构的术语,定义及参数.修改件1:峰值计数数字
  • NF C93-621-8-2005 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件用试验设备
  • NF E05-019-1999 产品几何量技术规范(GPS).表面缺陷.术语、定义和参数
  • NF E05-015-1998 几何产品规范(GPS).表面结构:轮廓检测法.术语、定义和表面结构参数
  • NF E05-020-1998 几何产品规范(GPS).表面结构:轮廓检测法.主要参数

欧洲标准化委员会，关于比表面仪 参数的标准

  • EN ISO 25178-2-2012 产品几何技术规范(GPS).表面纹理.面积.表面纹理参数和定义
  • PD CEN/TS 635-4-2007 胶合板.按表面外观分级.第4部分:表面处理能力参数.导引
  • EN ISO 8785-1999 几何产品规范(GPS).表面缺陷.术语,定义和参数 ISO 8785-1998
  • EN ISO 4287-1998 产品几何量技术规范(GPS)表面结构:轮廓法 表面结构的术语,定义及参数.包含修改件A1-2009
  • EN ISO 12085-1997 几何制品规范(GPS).表面特征:轮廓法.主要参数 ISO 12085-1996

美国通用公司（全球），关于比表面仪 参数的标准

  • GMW GMW16676-2012 表面粗糙度(图纸条目,测量条件,轮廓过滤器,参数).第1次出版(英文版本)

美国材料与试验协会，关于比表面仪 参数的标准

  • ASTM E1577-2011 用于表面分析的离子束参数报告的标准指南
  • ASTM E1577-2011 用于表面分析的离子束参数报告的标准指南
  • ASTM E1577-04 表面分析用离子束参数报告的标准指南
  • ASTM E1577-2004 用于表面分析的离子束参数报告的标准指南
  • ASTM E1577-95(2000) 表面分析用离子束参数报告的标准指南
  • ASTM F1811-97 从表面轮廓数据估算功率谱密度函数和相关光洁度参数的标准实施规程
  • ASTM F1811-1997 从表面轮廓数据估测功率谱密度函数和有关的精整参数的标准指南

美国齿轮制造商协会，关于比表面仪 参数的标准

欧洲电工标准化委员会，关于比表面仪 参数的标准

  • EN 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件的测试设备 IEC 60444-8-2003

行业标准-机械，关于比表面仪 参数的标准

丹麦标准化协会，关于比表面仪 参数的标准

  • DS/ISO 1878-1989 测量和评定表面光洁度几何参数仪器和设备的分类
  • DS/ISO 4287/1-1986 表面粗糙度．术语．第1部分：表面及其参数
  • DS/ISO 4288-1986 利用触针测量表面粗糙度参数的规则和程序
  • DS/ISO 4287/2-1986 表面粗糙度．术语．第2部分：表面粗糙度的参数和特性
  • DS/ISO 468-1986 表面粗糙度.拟定技术规范要求的参数, 及其数值和一般规则

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可能用到的仪器设备

 

Thermo Scientific Ramsey IDEA 皮带秤系统

Thermo Scientific Ramsey IDEA 皮带秤系统

赛默飞环境与过程仪器

 

 



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