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IEC60749 6

本专题涉及IEC60749 6的标准有6条。

国际标准分类中，IEC60749 6涉及到半导体分立器件。

在中国标准分类中，IEC60749 6涉及到半导体分立器件综合、电力半导体器件、部件。

国际电工委员会，关于IEC60749 6的标准

• IEC 60749-6:2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
• IEC 60749-6:2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
• IEC 60749-6:2002/COR1:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存

韩国科技标准局，关于IEC60749 6的标准

• KS C IEC 60749-6:2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
• KS C IEC 60749-6:2020 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第6部分:高温储存

KR-KS，关于IEC60749 6的标准

• KS C IEC 60749-6-2020 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第6部分:高温储存

本站其他标准专题： IEC60749 6，IEC60749，iec60749 12，iec60749 23，iec60749 25，温度 iec60749，iec60749 26，din 6 iso 6，astm a6-a6m，iec 61158-6-6，astm +a6/a6，iec 61000-6-6，+++++astm a6/a6，astm a6/a6，a6/a6m，hb6-6-1983，ASTM+A6+A6M，a6，astm 6，会议6。