电子能谱方法
本专题涉及电子能谱方法的标准有12条。
国际标准分类中，电子能谱方法涉及到分析化学、光学设备、光学和光学测量、金属材料试验。
在中国标准分类中，电子能谱方法涉及到基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、化学助剂基础标准与通用方法、颜料、金属化学分析方法综合。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子能谱方法的标准
- GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子能谱方法的标准
- GB/T 32998-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
国家质检总局，关于电子能谱方法的标准
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则
英国标准学会，关于电子能谱方法的标准
- BS ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- BS ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- BS ISO 20903-2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS ISO 20903-2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
国际标准化组织，关于电子能谱方法的标准
- ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
法国标准化协会，关于电子能谱方法的标准
- NF X21-058-2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
福建省地方标准，关于电子能谱方法的标准
- DB35/T 110-2000 油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法
行业标准-机械，关于电子能谱方法的标准
- JB/T 6976-1993 俄歇电子能谱术元素鉴定方法
