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电子能谱
本专题涉及电子能谱的标准有150条。
国际标准分类中，电子能谱涉及到分析化学、电子元器件综合、无损检测、长度和角度测量、光学和光学测量、电学、磁学、电和磁的测量、光学设备、金属材料试验、电工和电子试验、有色金属。
在中国标准分类中，电子能谱涉及到基础标准与通用方法、标准化、质量管理、重金属及其合金、电磁计量、教育、学位、学衔、化学、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电子光学与其他物理光学仪器、综合测试系统、金属化学分析方法综合、光学测试仪器、化学助剂基础标准与通用方法、电子测量与仪器综合、、贵金属及其合金。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子能谱的标准
- GB/T 41072-2021 表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
- GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
- GB/T 36504-2018 印刷线路板表面污染物分析 俄歇电子能谱
- GB/T 36533-2018 硅酸盐中微颗粒铁的化学态测定 俄歇电子能谱法
- GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
- GB/T 29732-2021 表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准
行业标准-电子，关于电子能谱的标准
- SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
- SJ/T 10457-1993 俄歇电子能谱术深度剖析标准导则
- SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法
韩国科技标准局，关于电子能谱的标准
- KS D 2518-2005 镉光电子能谱分析法
- KS D 2518-1982 镉光电子能谱分析法
- KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
- KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱电荷控制和电荷校正方法报告
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
- KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱学－选定仪器性能参数的描述
- KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析用能标的校准
- KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学状态分析用能标的校准
国家计量检定规程，关于电子能谱的标准
- JJG(教委) 09-1992 电子能谱仪检定规程
行业标准-教育，关于电子能谱的标准
- JY/T 013-1996 电子能谱仪方法通则
行业标准-农业，关于电子能谱的标准
- JJG(教委) 013-1996 电子能谱仪检定规程
美国材料与试验协会，关于电子能谱的标准
- ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E995-11 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
- ASTM E2108-16 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
- ASTM E1217-11(2019) 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
- ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
- ASTM E1127-91(1997) 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南
- ASTM E1127-08(2015) 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南
- ASTM E1127-08 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南
- ASTM E996-04 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E996-10 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E2735-14(2020) 用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南
- ASTM E1523-97 X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南
- ASTM E1523-15 X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南
- ASTM E902-94(1999) 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准实施规程
- ASTM E984-95(2001) 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南
- ASTM E984-95 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南
- ASTM E984-12(2020) 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南
- ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
- ASTM E984-06 用俄歇电子能谱法鉴别化学效应和基体效应用标准指南
- ASTM E984-12 用俄歇电子能谱法鉴别化学效应和基体效应的标准指南
国际标准化组织，关于电子能谱的标准
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
- ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 - 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO/TR 18394:2016 表面化学分析. 俄歇电子能谱学. 提取化学信息
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
- ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO/DIS 17973:2023 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能级的校准
- ISO/CD 17973 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准
- ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
- ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
- ISO 19668:2017 表面化学分析.X射线光电子能谱学.均匀材料中元素检测极限的估算和报告
英国标准学会，关于电子能谱的标准
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
- BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- BS ISO 20903:2019 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- BS ISO 18118:2015 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的推导
- BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- BS ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- BS ISO 15471:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数的描述
- BS ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)
- BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- PD ISO/TR 23173:2021 表面化学分析 电子能谱 纳米粒子涂层的厚度和成分的测量
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- BS ISO 17973:2016 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准
- 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X射线光电子能谱 均质材料中元素检测限的估计和报告
- BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
国家质检总局，关于电子能谱的标准
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
- GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则
- GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法
- GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
- GB/T 31472-2015 X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南
- GB/Z 32494-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/T 25187-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
- GB/T 29558-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性
- GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
- GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
- GB/T 29731-2013 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准
未注明发布机构，关于电子能谱的标准
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度
- BS ISO 17974:2002(2010) 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析能级的校准
德国标准化学会，关于电子能谱的标准
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
- DIN ISO 16242:2020-05 表面化学分析 在俄歇电子能谱(AES)中记录和报告数据
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本
- DIN ISO 16242:2020 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）中的数据记录和报告（ISO 16242:2011）；英文文本
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子能谱的标准
- GB/T 35158-2017 俄歇电子能谱仪检定方法
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
- GB/T 32998-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
- GB/T 32565-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
- GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
行业标准-机械，关于电子能谱的标准
- JB/T 6976-1993 俄歇电子能谱术元素鉴定方法
法国标准化协会，关于电子能谱的标准
- NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
- NF ISO 16242:2012 表面化学分析 俄歇电子能谱(AES)数据记录和报告
- NF ISO 24236:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱 能级的重复性和恒定性
- NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- NF ISO 29081:2010 表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和校正所采用的方法的指示
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
- NF ISO 17973:2006 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准
- NF X21-058:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
- NF ISO 17974:2009 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 用于元素和化学状态分析的能量标度校准
KR-KS，关于电子能谱的标准
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
中国团体标准，关于电子能谱的标准
- T/ZSA 39-2020 石墨烯测试方法 功函数的测定 紫外光电子能谱法
- T/ZGIA 002-2020 石墨烯测试方法 功函数的测定 紫外光电子能谱法
日本工业标准调查会，关于电子能谱的标准
- JIS K 0152:2014 表面化学分析. X射线光电子能谱分析. 强度标的重复性和一致性
- JIS K 0167:2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
行业标准-有色金属，关于电子能谱的标准
- YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测试方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量
澳大利亚标准协会，关于电子能谱的标准
- AS ISO 19319:2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
