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x射线能谱仪的测量
本专题涉及x射线能谱仪的测量的标准有23条。
国际标准分类中，x射线能谱仪的测量涉及到核能工程、无损检测、分析化学、辐射测量。
在中国标准分类中，x射线能谱仪的测量涉及到核仪器与核探测器综合、电子光学与其他物理光学仪器、通用核仪器、核探测器、基础标准与通用方法、电化学、热化学、光学式分析仪器。
国家质检总局，关于x射线能谱仪的测量的标准
- GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
- GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
- GB/T 31364-2015 能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法
- GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
IN-BIS，关于x射线能谱仪的测量的标准
- IS 12737-1988 半导体 X 射线能量光谱仪的标准测试程序
RU-GOST R，关于x射线能谱仪的测量的标准
- GOST 22091.14-1986 X射线仪.X射线能通量密度（光通量密度）测量方法
- GOST 22091.7-1984 X射线仪.X射线辐射场能通量密度分布均匀性测量方法
- GOST 22091.4-1986 X射线仪.X射线管电压测量方法
- GOST 22091.5-1986 X射线仪.X射线管电流测量方法
- GOST 22091.10-1984 X射线仪.X射线管外壁的铝或铜的当量测量方法
CZ-CSN，关于x射线能谱仪的测量的标准
- CSN 35 6575 Z1-1997 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
韩国科技标准局，关于x射线能谱仪的测量的标准
- KS C IEC 60759-2009(2019) 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
SE-SIS，关于x射线能谱仪的测量的标准
- SIS SS IEC 759:1986 核检测仪表．半导体X射线能谱仪检测程序
国家计量技术规范，关于x射线能谱仪的测量的标准
- JJF 2024-2023 能量色散X射线荧光光谱仪校准规范
美国电气电子工程师学会，关于x射线能谱仪的测量的标准
- ANSI/IEEE Std 759-1984 半导体 X 射线能谱仪的 IEEE 标准测试程序
日本工业标准调查会，关于x射线能谱仪的测量的标准
- JIS Z 4328:1984 X、γ射线辐射测量仪
国际标准化组织，关于x射线能谱仪的测量的标准
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
德国标准化学会，关于x射线能谱仪的测量的标准
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
英国标准学会，关于x射线能谱仪的测量的标准
- BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
工业和信息化部/国家能源局，关于x射线能谱仪的测量的标准
- JB/T 12962.2-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分：元素分析仪
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线能谱仪的测量的标准
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
KR-KS，关于x射线能谱仪的测量的标准
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
