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击穿电压测试

本专题涉及击穿电压测试的标准有14条。

国际标准分类中,击穿电压测试涉及到绝缘材料、电线和电缆、半导体分立器件、绝缘流体、光电子学、激光设备。

在中国标准分类中,击穿电压测试涉及到航空与航天用金属铸锻材料、计量综合、半导体二极管、电工绝缘材料及其制品、半导体发光器件、半导体光敏器件。


CZ-CSN,关于击穿电压测试的标准

RU-GOST R,关于击穿电压测试的标准

AENOR,关于击穿电压测试的标准

行业标准-航天,关于击穿电压测试的标准

  • QJ 483-1990 铝及铝合金绝缘阳极氧化膜层击穿电压测试方法

国家计量检定规程,关于击穿电压测试的标准

ECIA - Electronic Components Industry Association,关于击穿电压测试的标准

  • EIA-364-117-2017 TP-117 电连接器 插座和同轴触头的介电击穿电压测试程序

未注明发布机构,关于击穿电压测试的标准

行业标准-电子,关于击穿电压测试的标准

  • SJ 2141-1982 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
  • SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
  • SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
  • SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
  • SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法

德国标准化学会,关于击穿电压测试的标准


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可能用到的仪器设备

 

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1万伏电压击穿测试仪

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