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击穿电压 测试
本专题涉及击穿电压 测试的标准有14条。
国际标准分类中，击穿电压 测试涉及到绝缘材料、电线和电缆、半导体分立器件、绝缘流体、光电子学、激光设备。
在中国标准分类中，击穿电压 测试涉及到航空与航天用金属铸锻材料、计量综合、半导体二极管、电工绝缘材料及其制品、半导体发光器件、半导体光敏器件。
CZ-CSN，关于击穿电压 测试的标准
- CSN 34 7171-1965 击穿电压测试．线．绕线导体
- CSN 34 7192-1965 带材击穿电压测试．绕组接头
RU-GOST R，关于击穿电压 测试的标准
- GOST 14340.7-1974 釉瓷圆绕组线.击穿电压测试方法
AENOR，关于击穿电压 测试的标准
- UNE-EN 60156:1997 绝缘液体 确定电源频率下的击穿电压 测试方法
行业标准-航天，关于击穿电压 测试的标准
- QJ 483-1990 铝及铝合金绝缘阳极氧化膜层击穿电压测试方法
国家计量检定规程，关于击穿电压 测试的标准
- JJG(电子) 04003-1987 BJ2952A（JS-3A） 型晶体管反向击穿电压测试仪试行检定规程
ECIA - Electronic Components Industry Association，关于击穿电压 测试的标准
- EIA-364-117-2017 TP-117 电连接器 插座和同轴触头的介电击穿电压测试程序
未注明发布机构，关于击穿电压 测试的标准
- ANSI/EIA 364-117:2017 TP-117 电连接器、插座和同轴触点的介电击穿电压测试程序
行业标准-电子，关于击穿电压 测试的标准
- SJ 2141-1982 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
- SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
- SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
- SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
- SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法
德国标准化学会，关于击穿电压 测试的标准
- DIN EN 60156:1996 绝缘液.电源频率下击穿电压测定.试验方法
