涂层厚度测量

本专题涉及涂层厚度测量的标准有276条。

国际标准分类中，涂层厚度测量涉及到表面处理和镀涂、长度和角度测量、有色金属、词汇、核能工程、连续搬运设备、航空航天用电气设备和系统、涂料和清漆、金属矿、燃料、黑色金属、煤、采矿设备、铁合金。

在中国标准分类中，涂层厚度测量涉及到材料防护、金属化学分析方法综合、基础标准与通用方法、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、发动机总体、核燃料元件及其分析试验方法、有色金属及其合金产品综合、输送机械、电子元器件。

HU-MSZT，关于涂层厚度测量的标准

MSZ 9648-1959 涂料涂层厚度测量
MSZ 9650/27-1982 涂料检测．潮湿的涂料层厚度测量

AT-ON，关于涂层厚度测量的标准

ONORM C 2525-1989 涂层厚度测量方法
OENORM EN ISO 4518:2021 金属涂层涂层厚度的测量轮廓法（ISO 4518:2021）
OENORM EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜法（ISO 1463:2021）

CZ-CSN，关于涂层厚度测量的标准

CSN ISO 4518:1994 金属涂层．涂层厚度测量．轮廓仪法
CSN ISO 1463:1993 金属涂层和氧化涂层．涂层厚度测量．显微镜方法
CSN ISO 3497:1994 金属涂层．涂层厚度测量．Ｘ射线分光光度法
CSN ISO 2178:1994 磁性衬底的无磁性涂层．涂层厚度测量．磁性法
CSN ISO 2361:1994 磁性和非磁性基体上的镍电镀涂层．涂层厚度测量．磁性法
CSN ISO 2064:1992 金属及其他非金属涂层．厚度测量相关的定义及惯例

国际标准化组织，关于涂层厚度测量的标准

ISO 4518:2021 金属涂层 - 涂层厚度测量 - 轮廓测量法
ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层 - 涂层厚度测量 - 显微镜法
ISO 3882:1976 金属和其他无机涂层.厚度测量方法综述
ISO 3543:1981 金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法
ISO 21968:2019 金属和非金属基材上的非磁性金属涂层 - 涂层厚度测量 - 相敏涡流法
ISO 2177:1972 金属涂层.涂层厚度的测量.阳极溶解库仑法
ISO 3497:1976 金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法
ISO 9220:2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
ISO 3543:2000/Cor 1:2003 金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法技术勘误表1
ISO 14571:2020 非金属基材上的金属涂层.涂层厚度的测量.微电阻率法

ES-UNE，关于涂层厚度测量的标准

UNE-EN ISO 4518:2021 金属涂层涂层厚度测量轮廓测量法
UNE-EN ISO 3543:2001/AC:2007 金属和非金属涂层厚度测量 Beta 反向散射法
UNE-EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜法
UNE-EN ISO 9220:2022 金属涂层涂层厚度的测量扫描电子显微镜方法
UNE-EN ISO 2178:2017 磁性基材上的非磁性涂层涂层厚度的测量磁性方法
UNE-EN 14571:2006 非金属基材上的金属涂层涂层厚度的测量微电阻率法
UNE-EN ISO 2360:2018 非磁性导电母材上的非导电涂层涂层厚度的测量振幅敏感涡流法
UNE-EN ISO 21968:2020 金属和非金属基材上的非磁性金属涂层涂层厚度的测量相敏涡流法

韩国科技标准局，关于涂层厚度测量的标准

KS D 0253-2012(2022) 热喷涂涂层厚度测量方法
KS D 0253-1987 热喷涂涂层厚度测量方法
KS D 8544-2006 金属涂层.涂层厚度测量.透射电子显微镜法
KS D 8544-2016(2021) 金属涂层——涂层厚度测量——透射电子显微镜法
KS D ISO 3882-2012(2022) 金属和其他无机涂层厚度测量方法综述
KS D ISO 3543-2002(2022) 金属和非金属涂层厚度测量β背散射法
KS D ISO 4518-2012(2017) 金属涂层 - 涂层厚度的测量 - 轮廓仪法
KS D ISO 3543:2002 金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法
KS D ISO 2064-2009(2019) 金属和其他无机涂层厚度测量的定义和惯例
KS D ISO 3543-2002(2017) 金属和非金属涂层 - 厚度测量 - β反向散射方法
KS D 8519-2009(2015) 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜法
KS D 0253-2012 热喷涂涂层厚度的测量方法
KS D ISO 3497-2002(2017) 金属涂层 - 涂层厚度的测量 - X射线光谱仪的方法
KS D ISO 3868-2002(2017) 金属和非金属涂层 - 涂层厚度的测量 - 斐索多光束干涉法
KS D ISO 2177-2002(2022) 涂层厚度的测量.阳极溶解库仑法
KS E ISO 11534-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 728-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 10203-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 10702-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 10086-2-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 13312-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 4687-1-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 4829-1-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 561-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 10280-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 10208-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 10204-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 925-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 1017-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 5418-1-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 20905-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 10698-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 4689-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 10701-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 10207-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 15239-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 15353-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 8865-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 616-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 4688-1-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 8858-3-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 11422-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 13313-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 10697-1-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 8263-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 8858-2-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 349-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 5069-2-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 8858-1-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 10697-2-2002(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 15585-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 8264-2007(2017) 金属和其他无机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 2177-2002(2017) 涂层厚度的测量 - 阳极溶解库仑方法
KS D ISO 4158-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS D ISO 4139-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS D ISO 10698-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS D ISO 10697-2-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS D ISO 10697-1-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS D ISO 4159-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS D ISO 15353-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS D ISO 10701-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS D ISO 13902-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS D ISO 10702-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS D ISO 10280-2002(2022) 金属和其他无机涂层-涂层厚度的测量-斐索多光束干涉测量法
KS E ISO 8263-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 20905-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 8858-2-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 5069-2-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 8858-3-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 8264-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 10086-2-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 15239-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 3868-2002(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 4687-1-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 561-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E 3732-1987(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 5069-1-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 4689-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E 3701-2002(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS E ISO 10086-1-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
KS D ISO 2360-2002(2017) 非磁性基体金属上的非导电涂层涂层厚度的测量振幅敏感涡流法
KS D ISO 2360-2002(2022) 非磁性基底金属上的非导电涂层涂层厚度的测量振幅敏感涡流法
KS D ISO 3868:2002 金属镀层和其他无机物涂层.涂层厚度的测量.菲索(Fizeau)多光束干涉仪法
KS D ISO 2178-2002(2017) 磁性基体上的非磁性 - - 涂层厚度的测量磁性法
KS D ISO 2178-2002(2022) 涂层厚度的测量－磁性基底上的非磁性涂层－磁性法

德国机械工程师协会，关于涂层厚度测量的标准

DVS 2303-1-2011 热喷涂涂层的无损检测-涂层厚度测量
DVS 2303-1-2003 热喷涂涂层的无损检测-涂层厚度测量

ZA-SANS，关于涂层厚度测量的标准

SANS 144:2008 金属及氧化涂层.涂层厚度测量.显微方法
SANS 144:1982 金属和氧化物涂层．涂层厚度测量．显微镜法
SANS 3497:2008 金属镀层.涂层厚度测量.X射线光谱法
SANS 2177:2008 金属镀层.涂层厚度测量.阳极溶解库仑法
SANS 3882:2008 金属及其他无机涂层.厚度测量方法综述
SANS 3882:1986 金属和其他无机物涂层．厚度测量方法述评
SANS 2064:1980 金属和其他无机物涂层．厚度测量的定义和一般要求

丹麦标准化协会，关于涂层厚度测量的标准

DS/EN 15042-2:2006 涂层厚度测量和表面波表面表征第2部分：光热法涂层厚度测量指南
DS/ISO 3882:1986 金属和其他无机物涂层. 厚度测量方法述评
DS/EN ISO 3882:2003 金属和其他无机涂层厚度测量方法的回顾
DS/EN ISO 3497:2001 金属涂层涂层厚度的测量 X射线光谱法
DS/EN ISO 4518:2021 金属涂层涂层厚度的测量轮廓法（ISO 4518:2021）
DS/EN ISO 1463:2004 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微法
DS/ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微法
DS/EN ISO 2177:2004 金属涂层涂层厚度的测量阳极溶解库仑法
DS/EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜方法（ISO 1463:2021）
DS/EN 14571:2005 非金属基材料上的金属涂层涂层厚度的测量微电阻率法
DS/EN ISO 3868:1995 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
DS/EN ISO 2360:2004 非磁性导电基体材料上的非导电涂层涂层厚度的测量振幅敏感涡流法
DS/EN ISO 3543:2001 金属和非金属涂层厚度的测量 Beta 反向散射法

立陶宛标准局，关于涂层厚度测量的标准

LST EN 15042-2-2006 涂层厚度测量和表面波表面表征第2部分：光热法涂层厚度测量指南
LST EN ISO 3543:2004 金属和非金属涂层厚度测量 Beta 背散射法（ISO 3543:2000）
LST EN ISO 3543:2001 金属和非金属涂层厚度测量 Beta 反向散射法（ISO 3543:2000）
LST EN ISO 3882:2003 金属和其他无机涂层厚度测量方法的审查（ISO 3882:2003）
LST EN ISO 4518:2001 金属涂层涂层厚度的测量轮廓法（ISO 4518:1980）
LST EN ISO 4518:2021 金属涂层涂层厚度的测量轮廓法（ISO 4518:2021）
LST EN ISO 3543:2001/AC:2006 金属和非金属涂层厚度测量 Beta 背散射法（ISO 3543:2000/Cor.1:2003）
LST EN ISO 3497:2002 金属涂层涂层厚度的测量 X 射线光谱法（ISO 3497:2000）
LST EN ISO 2177:2004 金属涂层涂层厚度的测量阳极溶解库仑法（ISO 2177:2003）
LST EN ISO 1463:2004 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜法（ISO 1463:2003）
LST EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜法（ISO 1463:2021）
LST EN ISO 2178:2001 磁性基材上的非磁性涂层涂层厚度的测量磁性法（ISO 2178:1982）
LST EN 14571-2005 非金属基材料上的金属涂层涂层厚度的测量微电阻率法
LST EN ISO 3868:2001 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量 Fizeau 多光束干涉测量法（ISO 3868:1976）
LST EN ISO 2361:2001 磁性和非磁性基材上的电沉积镍涂层涂层厚度的测量磁性法（ISO 2361:1982）

AENOR，关于涂层厚度测量的标准

UNE-EN 15042-2:2007 涂层厚度测量和表面波表面表征第2部分：光热法涂层厚度测量指南
UNE-EN ISO 3543:2001 金属和非金属涂层厚度测量 Beta 反向散射法（ISO 3543:2000）
UNE-EN ISO 3882:2003 金属和其他无机涂层厚度测量方法的审查（ISO 3882:2003）
UNE-EN ISO 4518:1996 金属涂层涂层厚度的测量轮廓测量法（ISO 4518:1980）
UNE-EN ISO 3497:2001 金属涂层涂层厚度的测量 X射线光谱法（ISO 3497:2000）
UNE-EN ISO 2177:2005 金属涂层涂层厚度的测量阳极溶解库仑法（ISO 2177:2003）
UNE-EN ISO 9220:1996 金属涂层涂层厚度的测量扫描电子显微镜法（ISO 9220:1988）
UNE-EN ISO 1463:2005 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜法（ISO 1463:2003）
UNE-EN ISO 3868:1996 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量 FIZEAU 多光束干涉测量法（ISO 3868:1976）
UNE-EN ISO 2361:1996 磁性和非磁性基材上的电沉积镍涂层涂层厚度的测量磁性法（ISO 2361:1982）

德国标准化学会，关于涂层厚度测量的标准

DIN EN 15042-2:2006-06 涂层厚度测量和表面波表面表征第2部分：光热法涂层厚度测量指南
DIN EN ISO 4518:2021-07 金属涂层 - 涂层厚度测量 - 轮廓测量法 (ISO 4518:2021)
DIN EN ISO 1463:2021-08 金属和氧化物涂层涂层厚度测量显微方法
DIN 50933:1987 涂层厚度测量.使用触针仪器以差动测量法测量涂层厚度
DIN EN ISO 3882:2023-02 金属和其他无机涂层厚度测量方法审查
DIN 50933:2015 涂层厚度的测量. 采用触针式仪器的差值测量对涂层厚度的测量
DIN EN ISO 21968:2005 金属和非金属基材的非磁性金属涂层.涂层厚度测量.相敏涡流法
DIN EN ISO 3543 Berichtigung 1:2006-07 金属和其他无机涂层厚度测量 Beta 反向散射法
DIN 50977:2005-12 涂层厚度测量非接触式测量连续移动物体上的涂层厚度
DIN EN ISO 3882:2003-10 金属和其他无机涂层 - 厚度测量方法审查（ISO 3882:2003）
DIN EN ISO 3543:2001-12 金属和非金属涂层 - 厚度测量 - Beta 反向散射法 (ISO 3543:2000)
DIN EN ISO 2177:2004-08 金属涂层涂层厚度的测量阳极溶解库仑法
DIN EN ISO 9220:2022-05 金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法
DIN EN ISO 7590:2010 钢丝输送带.总厚度和涂层厚度的测量方法
DIN EN ISO 3868:1995 金属镀层和其它无机物涂层.涂层厚度测量.菲索(Fizeau)多光束干涉测量法 (ISO 3868:1976); 德文版本 EN ISO 3868:1994
DIN EN ISO 2178:2016-11 磁性基材上的非磁性涂层涂层厚度的测量磁性方法
DIN 50988-2:1988 涂层厚度测量.用涂层材料溶解作用测量铁素体材料上涂层的单位面积锌和锡的重量.容量分析法
DIN EN ISO 3497:2001-12 金属涂层 - 涂层厚度的测量 - X 射线光谱测定方法 (ISO 3497:2000)
DIN EN ISO 9220:2021 金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
DIN EN ISO 14571:2023-01 非金属基材上的金属涂层涂层厚度的测量微电阻率法
DIN EN 2591-508:2003 航空航天系列.光电连接元件.试验方法.第508部分:触点涂层厚度测量
DIN 50986:1979 涂层厚度的测量.测量涂层及类似的涂覆层厚度的楔式切割法
DIN EN ISO 4518:2021 金属涂层涂层厚度的测量轮廓法（ISO 4518:2021）；德文版 EN ISO 4518:2021
DIN 50933:2015-08 涂层厚度的测量使用触针式仪器通过差值测量来测量涂层的厚度
DIN EN ISO 14571:2023 非金属基材上的金属涂层涂层厚度的测量微电阻率法（ISO 14571:2020）
DIN EN ISO 3868:1995-01 金属和其他无机涂层 - 涂层厚度的测量 - 斐索多光束干涉测量法 (ISO 3868:1976)
DIN EN 15042-1:2006-06 涂层厚度测量和表面波表征第1部分：激光诱导表面声波测定薄膜弹性常数、密度和厚度指南
DIN EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜法（ISO 1463:2021）；德文版 EN ISO 1463:2021
DIN EN ISO 21968:2020-02 金属和非金属基材上的非磁性金属涂层涂层厚度的测量相敏涡流法
DIN EN ISO 2361:1995-04 磁性和非磁性基材上的电沉积镍涂层 - 涂层厚度的测量 - 磁性方法 (ISO 2361:1982)

SE-SIS，关于涂层厚度测量的标准

SIS SS-ISO 4518:1983 金属涂层．涂层厚度测量．轮廓尺寸测量方法
SIS SS-ISO 9220:1989 金属涂层．涂层厚度测量．扫描电子显微镜方法
SIS SS-ISO 2178:1983 磁性底质上的非磁性涂层．涂层厚度测量．磁选法
SIS SS-ISO 2177:1986 金属涂层．涂层厚度测量．通过阳极溶解作用的库仑法
SIS SS-ISO 2360:1983 非磁性基体金属上非导电涂层．涂层厚度测量．涡流法
SIS SMS 2971-1974 磁性金属基体上的非磁性涂层．涂层厚度测量．磁选法
SIS SS-ISO 2064:1982 金属及其它非有机涂层．厚度测量相关的定义和常规
SIS SS-ISO 2361:1983 磁性和非磁性底质上的镍电镀层．涂层厚度测量．磁选法
SIS SS-ISO 1463:1983 金属和氧化涂层．涂层厚度的测量．显微镜法

行业标准-航天，关于涂层厚度测量的标准

QJ 990.3A-2011 涂层检验方法第3部分：涂层厚度测量

美国保护涂层协会，关于涂层厚度测量的标准

SSPC PA 2-2004 使用磁计进行的干涂层厚度测量

法国标准化协会，关于涂层厚度测量的标准

NF A91-127*NF EN 14571:2005 非金属基底材料金属涂层涂层厚度测量微电阻率法
NF EN ISO 2177:2004 金属涂层厚度测量阳极溶解库仑法
NF A91-114*NF EN ISO 4518:2021 金属涂层涂层厚度的测量轮廓法
NF A91-109:1995 金属和其他无机物涂层.厚度测量方法述评
NF A91-115:1995 金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法
NF EN ISO 2064:2000 金属和其他无机涂层厚度测量的定义和原理
NF EN ISO 4518:2021 金属涂层涂层厚度的测量轮廓测量法
NF EN ISO 3543:2001 金属和非金属涂层厚度测量 β射线反向散射方法
NF EN ISO 9220:2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
NF EN ISO 3497:2001 金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定方法
NF EN ISO 3868:1995 金属涂层和其他无机涂层厚度测量基于斐索多光束干涉测量原理的方法
NF EN ISO 2361:1995 磁性和非磁性基体金属上的镍电解涂层厚度测量磁性方法
NF A91-112*NF EN ISO 2178:2016 磁性基材上的非磁性涂层涂层厚度的测量磁性法
NF EN ISO 14571:2022 非金属材料上的金属涂层涂层厚度的测量微电阻率法
NF EN ISO 2178:2016 磁性母材上的非磁性金属涂层。涂层厚度的测量。磁性法
NF EN ISO 1463:2021 金属涂层和氧化层。涂层厚度的测量。显微切片法
NF EN 15042-2:2006 使用表面波测量涂层厚度和表面表征 - 第 2 部分：涂层厚度光度测量指南
NF A91-117*NF EN ISO 3868:1995 金属和其他无机物涂层涂层厚度的测量菲索（Fizeau）多光束干涉仪法
NF EN ISO 21968:2019 金属和非金属基材上的非磁性金属涂层涂层厚度的测量相敏涡流法
NF A91-113*NF EN ISO 2360:2017 非磁性导电基体金属上的非导电涂层涂层厚度的测量振幅敏感涡流法

ECIA - Electronic Components Industry Association，关于涂层厚度测量的标准

364-48-1990 TP-48 触点金属涂层厚度测量的测试程序
EIA/ECA-364-48A-2006 TP-48 电连接器触点测试程序的金属涂层厚度测量

未注明发布机构，关于涂层厚度测量的标准

BS EN ISO 3882:2003(2009) 金属和其他无机涂层 - 厚度测量方法审查
BS EN ISO 3543:2001(2006) 金属和非金属涂层厚度测量β反向散射法
BS EN ISO 3868:1995(1999) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
BS EN ISO 2361:1995(2000) 磁性和非磁性基材上的电沉积镍涂层涂层厚度的测量磁性法

IT-UNI，关于涂层厚度测量的标准

UNI EN ISO 4518:2021 金属涂层涂层厚度的测量轮廓法

英国标准学会，关于涂层厚度测量的标准

BS EN ISO 3868:1995 金属和其他无机物涂层.涂层厚度测量.菲索(Fizeau)多光束干涉仪法
BS EN ISO 4518:2021 金属涂层涂层厚度的测量轮廓测量法
22/30427351 DC BS EN ISO 3882 金属和其他无机涂层厚度测量方法回顾
BS EN ISO 2177:2004 金属涂层涂层厚度的测量阳极溶解库仑法
20/30395422 DC BS EN ISO 4518 金属涂层涂层厚度的测量轮廓测量法
21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属涂层涂层厚度的测量扫描电子显微镜法
BS ISO 14571:2020 非金属基材上的金属涂层涂层厚度的测量微电阻率法
BS EN ISO 14571:2022 非金属基材上的金属涂层涂层厚度的测量微电阻率法
BS EN ISO 9220:2022 跟踪更改金属涂层涂层厚度的测量扫描电子显微镜法
20/30395419 DC BS EN ISO 1463 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜法
BS EN ISO 2178:2016 跟踪更改磁性基材上的非磁性涂层涂层厚度的测量磁力法
BS EN ISO 2361:1995 磁性和非磁性基材上的电沉积镍涂层。涂层厚度的测量。磁力法
20/30402481 DC BS ISO 14571 非金属基材上的金属涂层涂层厚度的测量微电阻率法
BS EN ISO 21968:2019 金属和非金属基材上的非磁性金属涂层涂层厚度的测量相敏涡流法

欧洲标准化委员会，关于涂层厚度测量的标准

EN ISO 21968:2019 金属和非金属基材的非磁性金属涂层.涂层厚度测量.相敏涡流法
EN ISO 21968:2005 金属和非金属基材的非磁性金属涂层.涂层厚度测量.相敏涡流法
EN ISO 3543:1994 金属和非金属涂层.厚度测量.β射线反向散射法
prEN ISO 3882 金属和其他无机涂层厚度测量方法的审查（ISO/DIS 3882:2022）
EN ISO 3543:2000/AC:2006 金属和非金属涂层.厚度测量.β射线反向散射法包含修改件AC,2006
EN ISO 14571:2022 非金属基材上的金属涂层.涂层厚度的测量.微电阻率法
EN ISO 3543:2000 金属和非金属涂层.厚度测量.β射线反向散射法;合并勘误表2006年4月;ISO 3543-2000

TR-TSE，关于涂层厚度测量的标准

TS 3290-1979 金属镀层和其它无机物涂层．涂层厚度测量．菲索(Fizeau)多光束干涉测量法
TS 2311-1976 磁性基金属上非磁性金属和玻璃或搪瓷涂层．涂层厚度测量．磁性法

行业标准-航空，关于涂层厚度测量的标准

HB 20115-2012 航空发动机叶片热障涂层厚度测量方法涡流法

RU-GOST R，关于涂层厚度测量的标准

GOST 25177-1982 标准涂层厚度测量主要参数和尺寸一般技术要求
GOST 8.362-1979 国家测量一致性保证体制.涂层厚度测量.术语和定义

CH-SNV，关于涂层厚度测量的标准

SN EN ISO 4518:2021 金属涂层涂层厚度的测量轮廓法（ISO 4518:2021）
SN EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜法（ISO 1463:2021）

PL-PKN，关于涂层厚度测量的标准

PN-EN ISO 4518-2021-09 E 金属涂层涂层厚度的测量轮廓法（ISO 4518:2021）
PN-EN ISO 1463-2021-10 E 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微法（ISO 1463:2021）
PN H04623-1986 腐蚀防护．无损法金属涂层的厚度测量

(美国)福特汽车标准，关于涂层厚度测量的标准

FORD FLTM BI 019-1-2001 合成木材上透明合成烤漆涂层厚度测量的测试程序

BE-NBN，关于涂层厚度测量的标准

NBN EN ISO 3543:1995 金属和非金属涂层．厚度测量．射线反向散射法（ISO 3543-1981）
NBN EN ISO 3868:1995 金属和非金属涂层．厚度测量．菲索（Fizeau）多光束干涉仪法（ISO 3868-1976）

RO-ASRO，关于涂层厚度测量的标准

STAS SR ISO 3497:1992 金属涂层．涂层厚度的测量．X射线光谱测定法

国家质检总局，关于涂层厚度测量的标准

GB/T 25451-2010 重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法
GB/T 38518-2020 柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法

PT-IPQ，关于涂层厚度测量的标准

NP 211-1962 橡胶传送带．涂层厚度的测量
E 120-1975 镍铬电解质涂层．镍涂层厚度的测量，通过喷射法来进行
E 119-1975 镍铬电解质涂层．铬涂层厚度的测量，通过下降法来进行
NP 1389-1988 金属涂层．电解涂层铬及镍，镍涂层厚度的测量，喷射处理
NP 1391-1988 金属涂层．电解涂层铬及镍，镍涂层厚度的测量，缩微处理
NP 1388-1988 金属涂层．电解涂层铬及镍，铬涂层厚度的测量，滴剂处理

IN-BIS，关于涂层厚度测量的标准

IS 8435-1977 塑料金属涂层厚度的测量方法
IS 12659-1989 皮革——皮革表面涂层厚度的测量——测试方法

美国材料与试验协会，关于涂层厚度测量的标准

ASTM D6132-13(2017) 使用超声波涂层厚度测量仪对应用的有机涂层的干膜厚度进行非破坏性测量的标准测试方法

GOSTR，关于涂层厚度测量的标准

GOST 8.536-1985 确保测量一致性的状态系统 1 至 20000 微米范围内涂层厚度测量方法的状态验证计划