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光谱仪的技术参数

本专题涉及光谱仪的技术参数的标准有165条。

国际标准分类中,光谱仪的技术参数涉及到光学和光学测量、词汇、辐射测量、光纤通信、分析化学、施工技术、光电子学、激光设备、煤、电学、磁学、电和磁的测量、物理学、化学、摄影技术、印制技术、音频、视频和视听工程、频率控制和选择用压电器件与介质器件、电信综合、电子元器件综合、电磁兼容性(EMC)、管道部件和管道、工业自动化系统、无损检测、地面服务和维修设备、医疗设备、计量学和测量综合、道路工程。

在中国标准分类中,光谱仪的技术参数涉及到光学计量、辐射防护与监测综合、光通信设备、基础标准与通用方法、化学、水文与水利仪器、光学设备、色谱仪、无线电通信设备、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、通信设备综合、物理学与力学、激光器件、光学测试仪器、石英晶体、压电元件。


RU-GOST R,关于光谱仪的技术参数的标准

  • GOST 17173-1981 光谱仪缝隙及其配件.基本参数和尺寸.技术要求
  • GOST 26874-1986 电离辐射能量光谱测量仪.基本参数的测定方法
  • GOST 11612.0-1981 光电倍增器.测量电气和光技术参数的方法
  • GOST 32246-2013 硬煤. 遗传和技术参数的分光光度法测定方法
  • GOST R 50355-1992 测量导抗参数的数字仪器 一般技术要求和试验方法
  • GOST 29180-1991 技术工具的电磁兼容性.超高频电真空仪器.参数与特性.测定方法
  • GOST 25165-1982 仪器与装置同外部气压管线的连接.型式,基本参数和尺寸.技术要求
  • GOST 11102-1975 柴油机自动控制的验收和工作仪器和装置.类型,基本参数和技术要求
  • GOST 26114-1984 非破坏检查.基于带电粒子加速器的探伤仪.基本参数和一般技术要求
  • GOST 28387-1989 用于飞行器的微波无线电信标仪表进近着陆系统 主要参数及测量技术
  • GOST R 53466-2009 光学元件与设备.医用温度计.一般技术要求.主要参数的测量方法
  • GOST 25164-1996 仪器与装置同外部液压和气体管线的连接.型式,基本参数和尺寸.技术要求
  • GOST 25164-1982 仪器与装置同外部液压和气体管线的连接 型式,基本参数和尺寸 技术要求

GOSTR,关于光谱仪的技术参数的标准

德国标准化学会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • DIN 5030-1:1985 辐射的光谱测量.术语、量、特性参数
  • DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 光谱分析仪的校准.技术勘误DIN EN 62129-2007-01
  • DIN ISO 15632:2022-09 微束分析 用于能量色散 X 射线光谱仪规格和检查的选定仪器性能参数
  • DIN EN 61290-10-4:2008 光纤放大器.试验方法.第10-4部分:多道参数.光谱分析仪的内插源减少法
  • DIN EN 61290-10-1:2010-01 光放大器 测试方法 第10-1部分:多通道参数 使用光开关和光谱分析仪的脉冲方法
  • DIN EN 61290-10-2:2008 光纤放大器.试验方法.第10-2部分:多道参数.使用选通光频谱分析仪的脉冲法
  • DIN EN 61290-10-4:2008-02 光放大器 测试方法 第10-4部分:多通道参数 使用光谱分析仪的插值源扣除法
  • DIN EN 61290-10-2:2008-07 光放大器 测试方法 第10-2部分:多通道参数 使用门控光谱分析仪的脉冲方法
  • DIN EN 61291 Beiblatt 1:1999-01 光纤 - 放大器组件的参数(技术报告 IEC 61292-1:1998)
  • DIN IEC/TS 62622:2014-09*DIN SPEC 42622:2014-09 纳米技术 人造光栅的描述、测量和尺寸质量参数
  • DIN EN 60444-5:1997 石英晶体元件参数测量.第5部分:自动网络分析仪和误差修正技术评定电气参数的测量方法
  • DIN EN 61290-10-1:2010 光学放大器.试验方法.第10-1部分:多波段参数.使用光学开关和光谱分析仪的脉冲法(IEC 61290-10-1-2009).德文版本EN 61290-10-1-2009
  • DIN EN 60444-5:1997-10 石英晶体单元参数的测量 - 第 5 部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法(IEC 60444-5:1995)
  • DIN EN 61290-5-3:2002 光纤放大器.基础规范.第5-3部分:反射参数的试验方法.使用电子光谱分析仪的反射比偏差 (IEC 61290-5-3:2002); 德文版本 EN 61290-5-3:2002

英国标准学会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • BS EN 61290-3-1:2003 光学纤维放大器.基础规范.噪音数字参数的测试方法.光谱分析仪法
  • BS EN 61290-3-1:2004 光学纤维放大器 基础规范 噪音数字参数的测试方法 光谱分析仪法
  • BS ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS ISO 15470:2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS EN 61290-10-4:2007 光学放大器.试验方法.多道参数.使用光谱分析仪的内插源减少法
  • BS EN 61290-3-2:2003 光纤放大器.基础规范.噪音指数参数的试验方法.电频谱分析仪法
  • BS ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS EN 61290-10-1:2003 光学纤维放大器.试验方法.多道参数.使用光学开关和光谱分析仪的脉冲法
  • BS EN 61290-5-2:2004 光纤放大器.基本规范.反射参数的试验方法.电频谱分析仪法
  • PD IEC TR 61292-2:2003 光放大器技术报告 使用电频谱分析仪评估噪声系数的理论背景
  • BS EN 61290-5-3:2002 光纤放大器.基本规范. 反射参数的试验方法.用电子学光谱分析仪测定反射公差
  • BS EN 61290-10-1:2009 光学放大器.测试方法.第10-1部分:多路参数.使用光学开关和光学频谱分析仪的脉冲方法
  • BS ISO 24585-1:2023 图形技术 图形艺术和工业应用的多光谱成像测量和色度计算 参数和测量方法
  • PD IEC/TS 62622:2012 纳米技术 人造光栅的描述、测量和尺寸质量参数
  • BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
  • BS ISO 15632:2021 微束分析 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
  • BS EN 60444-5:1997 石英晶体单元参数的测量 使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
  • 23/30449564 DC BS ISO 24585-1 图形技术 用于图形艺术和工业应用的多光谱成像测量和色度计算 第 1 部分:参数和测量方法

国际标准化组织,关于光谱仪的技术参数的标准

  • ISO 15470:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • ISO 15471:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • ISO 15471:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • ISO/TS 10867:2010 纳米技术.单层碳纳米管使用的近红外光激发光谱仪的特性
  • ISO 3028:1974 摄影技术.一次性闪光灯.计算光谱分布指数用相对光谱能量分布的测定
  • ISO 14594:2003/Cor 1:2009 微光束分析.电子探针微分析.波长色散光谱法测定实验参数用指南.技术勘误1
  • IEC TS 62622:2012 纳米技术中的人造光栅——尺寸质量参数的描述和测量
  • IEC TS 62622:2012 纳米技术中的人造光栅——尺寸质量参数的描述和测量
  • IEC/TS 62622:2012 纳米技术中的人造光栅——尺寸质量参数的描述和测量
  • ISO 24585-1:2023 图形技术.图形艺术和工业应用的多光谱成像测量和比色计算.第1部分:参数和测量方法
  • ISO 11670:2003/cor 1:2004 激光和激光相关设备.激光束参数的试验方法.束位置稳定性.技术勘误1

韩国科技标准局,关于光谱仪的技术参数的标准

  • KS D ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) 光放大器试验方法-第3-2部分:噪声指数参数-利用电光谱分析仪的方法
  • KS D ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • KS C IEC 61290-5-1:2007 光纤放大器.基本规范.第5-1部分:反射参数的试验方法.光谱分析仪
  • KS C IEC 61290-10-1:2005 光纤放大器.试验方法.第10-1部分:多通道参数.使用光学开关及光谱分析仪的脉冲法
  • KS C IEC 61290-10-2:2005 光纤放大器.试验方法.第10-2部分:多通道参数.使用选通光频谱分析仪的脉冲法
  • KS D ISO 15632:2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
  • KS C IEC 60444-5:2016 石英晶体元器件参数的测量 第5部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正技术确定等效电参数的方法
  • KS C IEC 61290-5-3-2003(2018) 光纤放大器基本试验方法-第5-3部分:反射参数的试验方法-利用电光谱分析仪的反射允许值的试验方法
  • KS C IEC 60444-5-2016(2021) 石英晶体元件参数的测量第5部分:用自动网络分析仪技术测定等效电参数的方法和误差校正
  • KS C IEC 61290-5-3:2003 光纤放大器.基本规范.第5-3部分:反射参数的试验方法.使用电谱分析仪的反射公差试验法

日本工业标准调查会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • JIS K 0162:2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • JIS K 0161:2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • JIS C 6122-10-1:2007 光学放大器.试验方法.第10-1部分:多道参数.利用光学开关和光谱分析仪的脉冲法
  • JIS C 6122-10-2:2010 光纤放大器.试验方法.第10-2部分:多通道参数.使用选通光频谱分析仪的脉冲法
  • JIS C 6122-10-4:2012 光纤放大器.试验方法.第10-4部分:多通道参数.用光谱分析仪的内插辐射体减少法

澳大利亚标准协会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • AS ISO 15470:2006 表面化学分析.X射线光电子光谱法.选定仪器性能参数的描述
  • AS/NZS 1158.2:2005 道路和公共场所照明.V类和P类照明的光亮技术参数的计算用计算机程序

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization,关于光谱仪的技术参数的标准

  • EN 61290-2-1:1998 光纤放大器 基本规范第 2-1 部分:光功率参数的测试方法 光谱分析仪
  • EN 61290-5-1:2000 光学放大器的试验方法.第5-1部分:反射参数.光学频谱分析仪法
  • EN 61290-3-2:2003 光放大器 第 3-2 部分:噪声系数参数的测试方法 电频谱分析仪法
  • EN 61290-1-1:1998 光纤放大器 基本规范第 1-1 部分:增益参数的测试方法光谱分析仪
  • EN 61290-2-2:1998 光纤放大器 基本规范第 2-2 部分:光功率参数电频谱分析仪的测试方法
  • EN 61290-10-2:2003 光放大器 测试方法第 10-2 部分:多通道参数 使用门控光谱分析仪的脉冲法
  • EN 61290-10-2:2008 光放大器 测试方法 第 10-2 部分:多通道参数 使用门控光谱分析仪的脉冲法
  • EN 61290-10-1:2003 光放大器 测试方法 第 10-1 部分:多通道参数 使用光开关和光谱分析仪的脉冲方法
  • EN 61290-1-2:1998 光学放大器的试验方法.第1-2部分:功率和增益参数.电频谱分析仪法

国家质检总局,关于光谱仪的技术参数的标准

  • GB/T 15406-1994 土工仪器的基本参数及通用技术条件
  • GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述

美国国家标准学会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 光纤放大器.基本规范.第5-1部分:反射参数的测试方法.光谱分析仪
  • ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209.IEC 61290-2-1.光纤放大器.基础规范.第2-1部分:光功率参数的测试方法.光谱分析仪
  • ANSI/TIA-455-206-2000 FOTP206.IEC 61290-1-1.光纤放大器.基础规范.第1-1部分:增益参数的测试方法.光谱分析仪
  • ANSI/TIA-455-210-2000 FOTP209.IEC 61290-2-1.光纤放大器.基础规范.第2-2部分:光功率参数的测试方法.电频谱分析仪
  • ANSI/TIA-455-207-2000 FOTP207.IEC 61290-1-2.光纤放大器.基础规范.第1-2部分:增益参数的测试方法.电频谱分析仪

未注明发布机构,关于光谱仪的技术参数的标准

国际电工委员会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • IEC 61290-3-2:2003 光学放大器.第3-2部分:噪音数字参数的试验方法.电频谱分析仪法
  • IEC 61290-2-1:1998 光学纤维放大器 基础规范 第2-1部分:光功率参数的测量方法 光频谱分析仪
  • IEC 61290-1-1:1998 光学纤维放大器 基础规范 第1-1部分:增益参数的测量方法 光频谱分析仪
  • IEC 61290-5-1:2000 光学纤维放大器 基础规范 第5-1部分:反射参数的测量方法 光频谱分析仪
  • IEC 61290-10-1:2003 光学放大器.试验方法.第10-1部分:多道参数.使用光学开关和光谱分析仪的脉冲法
  • IEC 61290-2-2:1998 光学纤维放大器 基础规范 第2-2部分:光功率参数的测量方法 电频谱分析仪
  • IEC 61290-10-1:2009 光学放大器.试验方法.第10-1部分:多通道参数.使用光学开关及光谱分析仪的脉冲法
  • IEC 61290-10-2:2007 光纤放大器.试验方法.第10-2部分:多通道参数.使用选通光频谱分析仪的脉冲法
  • IEC 61290-10-4:2007 光纤放大器.试验方法.第10-4部分:多通道参数.用光谱分析仪的内插辐射体减少法
  • IEC TR 61292-2:2003 光学放大器技术报告.第2部分:用电频谱分析仪评价噪音数字的理论背景
  • IEC 61290-1-2:1998 光学纤维放大器 基础规范 第1-2部分:增益参数的测量方法 电频谱分析仪
  • IEC 61290-5-3:2002 光纤放大器.基本规范.第5-3部分:反射参数的试验方法.使用电谱分析仪的反射公差试验法
  • IEC 113/133/DTS:2012 IEC 62622,版本1:纳米技术.人工光栅的描述,测量,尺寸规格质量参数

法国标准化协会,关于光谱仪的技术参数的标准

欧洲电工标准化委员会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • EN 61290-3-1:2003 光纤放大器的试验方法.第3-1部分:噪声指数参数.光学频谱分析仪法 IEC 61290-3-1:2003
  • EN 61290-10-1:2009 光放大器 测试方法 第 10-1 部分:多通道参数 使用光开关和光谱分析仪的脉冲法
  • EN 61290-5-1:2006 光学放大器的试验方法.第5-1部分:反射参数.光学频谱分析仪法 IEC 61290-5-1
  • EN 61290-10-4:2007 光学放大器.试验方法.第10-4部分:多通道参数.用光谱分析仪的内插辐射体减少法
  • EN 61290-5-3:2002 光纤放大器的基本规范.第5-3部分:反射参数的试验方法.使用光电谱分析仪的反射公差试验法 IEC 61290-5-3-2002
  • EN 61290-1-2:2005 光学放大器的试验方法.第1-2部分:功率和增益参数.电频谱分析仪法[替代:CENELEC EN 61290-2-1]
  • EN 60444-5:1997 石英谐振器参数测量.第5部分:用自动网络分析仪和误差修正技术评定电气参数的测量方法

丹麦标准化协会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • DS/EN 61290-10-1:2009 光放大器 测试方法 第 10-1 部分:多通道参数 使用光开关和光谱分析仪的脉冲法
  • DS/EN 61290-10-2:2008 光放大器 测试方法 第 10-2 部分:多通道参数 使用门控光谱分析仪的脉冲法
  • DS/EN 61290-10-4:2007 光放大器 测试方法 第 10-4 部分:多通道参数 使用光谱分析仪的内插源减法
  • DS/EN 60444-5:1998 石英晶体单元参数的测量 第5部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法
  • DS/EN 61290-5-3:2002 光纤放大器 基本规范 第 5-3 部分:反射率参数的测试方法 使用电子频谱分析仪的反射率公差

ES-UNE,关于光谱仪的技术参数的标准

  • UNE-EN 61290-10-1:2009 光放大器 测试方法 第10-1部分:多通道参数 使用光开关和光谱分析仪的脉冲方法
  • UNE-EN 61290-10-2:2008 光放大器 测试方法 第10-2部分:多通道参数 使用门控光谱分析仪的脉冲方法
  • UNE-EN 61290-10-4:2007 光放大器 测试方法 第10-4部分:多通道参数 使用光谱分析仪的内插源扣除方法(IEC 61290-10-4:2007)
  • UNE-EN 61290-5-3:2002 光纤放大器 基本规范 第5-3部分:反射率参数的测试方法 使用电频谱分析仪的反射率容差
  • UNE-EN 60444-5:1997 测量石英晶体单元参数 第5部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电气参数的方法

美国电信工业协会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • TIA/EIA-455-209-2000 FOTP-209 IEC 61290-2-1 光纤放大器 基本规范第 2-1 部分:光功率参数的测试方法 光谱分析仪
  • TIA/EIA-455-206-2000 FOTP-206 IEC 61290-1-1 光纤放大器 基本规范第 1-1 部分:增益参数的测试方法 光谱分析仪
  • TIA/EIA-455-210-2000 FOTP-210 IEC 61290-2-2 光纤放大器 基本规范第 2-2 部分:光功率参数的测试方法 电频谱分析仪

TIA - Telecommunications Industry Association,关于光谱仪的技术参数的标准

  • TIA/EIA-455-221-2001 FOTP-221-IEC 61290-5-1 光纤放大器 基本规范 第 5-1 部分:反射参数的测试方法 光谱分析仪(请参考 IEC 61290-5-1)
  • TIA/EIA-455-207-2000 FOTP-207 IEC 61290-1-2 光纤放大器 基本规范第 1-2 部分:增益参数的测试方法 电频谱分析仪(请参阅 IEC 61290-1-2)

立陶宛标准局,关于光谱仪的技术参数的标准

  • LST EN 61290-10-1-2009 光放大器 测试方法 第 10-1 部分:多通道参数 使用光开关和光谱分析仪的脉冲法(IEC 61290-10-1:2009)
  • LST EN 61290-10-2-2008 光放大器 测试方法 第 10-2 部分:多通道参数 使用门控光谱分析仪的脉冲法(IEC 61290-10-2:2007)
  • LST EN 61290-10-4-2007 光放大器 测试方法 第 10-4 部分:多通道参数 使用光谱分析仪的内插源减法(IEC 61290-10-4:2007)
  • LST EN 60444-5-2001 石英晶体单元参数的测量 第5部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法(IEC 60444-5:1995)
  • LST EN 61290-5-3-2003 光纤放大器 基本规范 第 5-3 部分:反射率参数的测试方法 使用电频谱分析仪的反射容差(IEC 61290-5-3:2002)

国际电信联盟,关于光谱仪的技术参数的标准

KR-KS,关于光谱仪的技术参数的标准

  • KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
  • KS C IEC TS 62622-2023 纳米技术——人造光栅的描述、测量和尺寸质量参数
  • KS C IEC 60444-5-2016 的石英晶体元件参数测量 - 第5部分:用自动网络分析仪和误差修正技术等效电参数的确定方法
  • KS C IEC 61290-5-3-2003(2023) 光纤放大器基本试验方法-第5-3部分:反射参数的试验方法-利用电频谱分析仪进行反射允许值的试验方法

PL-PKN,关于光谱仪的技术参数的标准

  • PN G02316-1991 水文地质的测量仪表.带记录器的电子水位测量仪类型.参数和技术要求
  • PN G02317-1991 水文地质的测量仪表.带推进器的机械水位测量仪类型.参数和技术要求

CZ-CSN,关于光谱仪的技术参数的标准

  • CSN 36 6150-1987 有5单元代码的电讯仪器.基本参数,技术要求和测试方法

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector,关于光谱仪的技术参数的标准

美国材料与试验协会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • ASTM E1523-97 X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南
  • ASTM E1523-09 X射线光电子谱测定中电荷控制和电荷参照技术的标准指南
  • ASTM E1523-15 X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南

IEC - International Electrotechnical Commission,关于光谱仪的技术参数的标准

  • TS 62622-2012 纳米技术 – 描述@人造光栅的测量和尺寸质量参数(1.0 版)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于光谱仪的技术参数的标准

  • GB/T 40069-2021 纳米技术 石墨烯相关二维材料的层数测量 拉曼光谱法




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