Alterungstestzeit für elektronische Geräte

Für die Alterungstestzeit für elektronische Geräte gibt es insgesamt 88 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Alterungstestzeit für elektronische Geräte die folgenden Kategorien: Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Drähte und Kabel, Industrieofen, Straßenfahrzeuggerät, Integrierter Schiffbau und Offshore-Strukturen, Glas, Optoelektronik, Lasergeräte, Kondensator, Umfangreiche elektronische Komponenten, Diskrete Halbleitergeräte.

German Institute for Standardization, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

DIN EN 60512-25-3:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 25-3: Prüfung 25c: Anstiegszeitdegradation (IEC 60512-25-3:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-3:2001
DIN EN 60512-25-3:2002-08 Steckverbinder für elektronische Geräte - Prüfungen und Messungen - Teil 25-3: Prüfung 25c: Verschlechterung der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-3:2001
DIN EN 60831-2:1997 Shunt-Leistungskondensatoren vom selbstheilenden Typ für Wechselstromsysteme mit einer Nennspannung bis einschließlich 1 kV - Teil 2: Alterungstest, Selbstheilungstest und Zerstörungstest (IEC 60831-2:1995); Deutsche Fassung EN 60831-2:1996
DIN EN ISO 11554:2008 Optik und Photonik – Laser und laserbezogene Geräte – Prüfverfahren für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften (ISO 11554:2006); Englische Fassung von DIN EN ISO 11554:2008-11
DIN EN 60931-2:1997 Shunt-Leistungskondensatoren vom nicht selbstheilenden Typ für Wechselstromsysteme mit einer Nennspannung bis einschließlich 1 kV - Teil 2: Alterungsprüfung und Zerstörungsprüfung (IEC 60931-2:1995); Deutsche Fassung EN 60931-2:1996

British Standards Institution (BSI), Alterungstestzeit für elektronische Geräte

BS EN 60512-25-3:2001 Steckverbinder für elektronische Geräte. Test und Messungen. Testen Sie 25c. Verschlechterung der Anstiegszeit
BS DD IEC/TS 60680:2008 Prüfmethoden für Plasmageräte für Elektrowärme- und elektrochemische Anwendungen
BS EN 60512-14-6:2006 Steckverbinder für elektronische Geräte - Prüfungen und Messungen - Dichtungsprüfungen - Prüfung 14f - Grenzflächenabdichtung
BS EN 60512-9-4:2011 Steckverbinder für elektronische Geräte. Tests und Messungen. Ausdauertests. Test 9d. Haltbarkeit von Kontakthaltesystem und Dichtungen (Wartung, Alterung)
DD IEC/TS 60680:2008 Prüfmethoden für Plasmageräte für Elektrowärme- und elektrochemische Anwendungen
BS EN 60512-11-4:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte - Tests und Messungen - Klimatests - Test 11d - Schnelle Temperaturänderung
BS EN ISO 11554:2017 Optik und Photonik. Laser und laserbezogene Ausrüstung. Prüfmethoden für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften
BS EN ISO 11554:2009 Optik und Photonik. Laser und laserbezogene Ausrüstung. Prüfmethoden für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften
BS EN ISO 11554:2008 Optik und Photonik – Laser und laserbezogene Geräte – Prüfverfahren für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften
BS EN IEC 60512-99-002:2022 Steckverbinder für elektrische und elektronische Geräte. Tests und Messungen - Dauertestpläne. Test 99b: Testplan für das Trennen unter elektrischer Last (IEC 60512-99-002:2022)
BS ISO 16750-5:2010 Straßenfahrzeuge – Umweltbedingungen und Prüfungen für elektrische und elektronische Geräte – Chemische Belastungen
BS IEC 60747-5-13:2021 Halbleiterbauelemente. Optoelektronische Geräte. Schwefelwasserstoff-Korrosionstest für LED-Pakete
BS EN 60512-12-1:2006 Steckverbinder für elektronische Geräte - Tests und Messungen - Löttests - Test 12a - Lötbarkeit, Benetzung, Lötbadmethode
20/30427721 DC BS EN 60512-99-002. Steckverbinder für elektrische und elektronische Geräte. Tests und Messungen. Teil 99-002. Dauertestpläne. Test 99b: Testplan für das Trennen unter elektrischer Last

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Alterungstestzeit für elektronische Geräte

KS C IEC 60512-25-3:2004 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 25-3: Test 25c – Anstiegszeitverschlechterung
KS C IEC 60512-25-3:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 25 – 3: Test 25c – Anstiegszeitverschlechterung
KS C IEC 60512-25-3-2004(2009) Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 25 – 3: Test 25c – Anstiegszeitverschlechterung
KS C IEC 60680:2006 Die Methoden der Plasmaausrüstung für Elektrowärmeanwendungen
KS B ISO 11554:2013 Optik und optische Instrumente ?; Laser und laserbezogene Ausrüstung ?; Prüfmethoden für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften
KS B ISO 11554:2003 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Geräte – Prüfmethoden für Laserstrahlleistung, Energie und zeitliche Eigenschaften
KS B ISO 11554:2015 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Prüfmethoden für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften
KS C IEC 60512-23-4-2004(2009) Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 23 – 4: Abschirmungs- und Filtertests – Test 23d: Reflexionen der Übertragungsleitung im Zeitbereich
KS C IEC 60512-23-4:2004 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 23-4: Abschirm- und Filterprüfungen – Prüfung 23d: Reflexionen der Übertragungsleitung im Zeitbereich
KS C IEC 60512-23-4:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 23 – 4: Abschirmungs- und Filtertests – Test 23d: Reflexionen der Übertragungsleitung im Zeitbereich
KS C IEC 60512-11-4:2003 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-4: Klimaprüfungen – Prüfung 11d: Schnelle Temperaturänderung
KS C IEC 60512-11-4:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-4: Klimaprüfungen – Prüfung 11d: Schnelle Temperaturänderung

Danish Standards Foundation, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

DS/EN 60512-25-3:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 25-3: Prüfung 25c – Verschlechterung der Anstiegszeit
DS/EN 60512-11-4:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-4: Klimaprüfungen – Prüfung 11d: Schnelle Temperaturänderung

Association Francaise de Normalisation, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

NF EN 60512-25-3:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 25-3: Prüfung 25c – Verschlechterung der Anstiegszeit
NF EN IEC 61051-2:2021 In elektronischen Geräten verwendete Varistoren – Teil 2: Zwischenspezifikation für Varistoren zur Begrenzung transienter Überspannungen
NF C93-400-25-3*NF EN 60512-25-3:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 25-3: Prüfung 25c – Anstiegszeitverschlechterung
NF C93-400-9-4*NF EN 60512-9-4:2012 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 9-4: Dauertests – Test 9d: Haltbarkeit des Kontakthaltesystems und der Dichtungen (Wartung, Alterung).
NF S10-121:2008 Optik und Photonik – Laser und laserbezogene Geräte – Prüfverfahren für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften.
NF C93-400-23-4*NF EN 60512-23-4:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 23-4: Abschirm- und Filterprüfungen – Prüfung 23d: Übertragungsleitungsreflexionen im Zeitbereich.
NF C93-400-11-4*NF EN 60512-11-4:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-4: Klimaprüfungen – Prüfung 11d: Schnelle Temperaturänderung
NF C93-400-2-3*NF EN 60512-2-3:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 2-3: elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Prüfung 2c: Änderung des Kontaktwiderstands

International Electrotechnical Commission (IEC), Alterungstestzeit für elektronische Geräte

IEC 60512-25-3:2001 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 25-3: Prüfung 25c; Verschlechterung der Anstiegszeit
IEC TS 60680:2008 Prüfmethoden für Plasmageräte für Elektrowärme- und elektrochemische Anwendungen
IEC 60512-9-4:2011 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 9-4: Dauertests – Test 9d: Haltbarkeit des Kontakthaltesystems und der Dichtungen (Wartung, Alterung)
IEC 60512-23-4:2001 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 23-4: Abschirm- und Filterprüfungen; Test 23d: Übertragungsleitungsreflexionen im Zeitbereich
IEC 63203-406-1:2021 Tragbare elektronische Geräte und Technologien – Teil 406-1: Prüfverfahren zur Messung der Oberflächentemperatur von am Handgelenk getragenen tragbaren elektronischen Geräten bei Kontakt mit der menschlichen Haut
IEC 27/581/DTS:2007 IEC 60680 TS, Ed. 1: Testmethoden von Plasmageräten für Elektrowärme- und elektrochemische Anwendungen
IEC 60512-11-4:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte - Prüfungen und Messungen - Teil 11-4: Klimaprüfungen; Test 11d: Schnelle Temperaturänderung

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

GB/T 5095.2503-2021 Elektromechanische Komponenten für elektronische Geräte – Grundlegende Prüfverfahren und Messmethoden – Teil 25-3: Prüfung 25c: Verschlechterung der Anstiegszeit
GB/T 5095.2504-2021 Elektromechanische Komponenten für elektronische Geräte – Grundlegende Prüfverfahren und Messmethoden – Teil 25-4: Prüfung 25d: Ausbreitungsverzögerung

ES-UNE, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

UNE-EN IEC 60512-99-002:2022 Steckverbinder für elektrische und elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 99-002: Dauertestpläne – Test 99b: Testplan für das Trennen unter elektrischer Last (Genehmigt von der Asociación Española de Normalización im April 2022.)
UNE-EN IEC 60512-99-002:2019 Steckverbinder für elektrische und elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 99-002: Dauertestpläne – Test 99b: Testplan für das Trennen unter elektrischer Last (Genehmigt von der Asociación Española de Normalización im Juni 2019.)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

EN 60512-25-3:2001 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen Teil 25-3: Test 25c – Anstiegszeitverschlechterung
EN 60512-23-4:2001 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen Teil 23-4: Abschirmungs- und Filtertests – Test 23D: Übertragungsleitungsreflexionen im Zeitbereich
EN 60512-9-4:2011 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 9-4: Dauertests – Test 9d: Haltbarkeit des Kontakthaltesystems und der Dichtungen (Wartung, Alterung)

AENOR, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

UNE-EN 60512-25-3:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 25-3: Test 25c – Verschlechterung der Anstiegszeit.
UNE-EN 60512-11-4:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-4: Klimaprüfungen – Prüfung 11d: Schnelle Temperaturänderung.

Professional Standard - Machinery, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

JB/T 4278.6-1993 Verifizierungsmethode für Gummi-Kunststoff-Drähte und -Kabel, Testkammer für natürliche Belüftung und thermische Alterung
JB/T 4278.9-1993 Verifizierungsmethode für Gummi-Kunststoff-Drähte und Kabel-Testgeräte, Sauerstoffbombe, Luftbomben-Alterungstestkammer
JB/T 4278.6-2011 Verifizierungsverfahren für Prüfgeräte für Gummi-Kunststoff-Drähte und -Kabel. Teil 6: Testofen für thermische Alterung mit natürlicher Belüftung
JB/T 4278.9-2011 Verifizierungsverfahren für Prüfgeräte für Gummi-Kunststoff-Drähte und -Kabel. Teil 9: Alterungstestofen für Sauerstoffbomben und Luftbomben
JB/T 4278.13-2011 Verifizierungsverfahren für Prüfgeräte für Gummi-Kunststoff-Drähte und -Kabel. Teil 13: Umluft-Wärmealterungstestofen

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

DB44/T 1758-2015 Prüfverfahren zur Zuverlässigkeitssteigerung für elektronische Geräte von Elektrofahrzeugen

YU-JUS, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

JUS N.R4.448-1987 Elektromechanische Komponenten für elektronische Geräte. Testmethoden. Test 13e: Polarisationsmethode
JUS N.R4.482-1987 Elektromechanische Komponenten für elektronische Geräte. Testmethoden. Prüfung 2h: Widerstand (Erdung) vom Aktuator zur Montagebuchse (Oberfläche)

CZ-CSN, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

CSN 35 4055 Cast.26-1984 Elektromechanische Komponenten für elektronische Geräte. Haltbarkeit des Kontakthaltesystems und der Dichtungen / Wartung, Alterung / Prüfung

TR-TSE, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

TS 2153-1975 GRUNDLEGENDE UMWELTPRÜFVERFAHREN FÜR ELEKTRONISCHE KOMPONENTEN UND ELEKTRONISCHE GERÄTETESTS Db: FEUCHTE HITZE (12 + 12-STUNDEN-ZYKLUS)

IN-BIS, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

IS 9002 Pt.13/Sec.3-1985 Spezifikation für Umweltprüfgeräte für elektrische und elektronische Produkte Teil 13 Temperaturwechselprüfgeräte Abschnitt 3: Zwei Bäder
IS 9002 Pt.13/Sec.1-1985 Spezifikation für Umweltprüfgeräte für elektronische und elektrische Produkte Teil 13 Temperaturwechselprüfgeräte Abschnitt 1: Zweikammersystem

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Alterungstestzeit für elektronische Geräte

JIS C 5402-14-6:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 14-6: Dichtungsprüfungen – Prüfung 14f: Grenzflächenabdichtung
JIS C 5402-23-4:2006 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 23-4: Abschirm- und Filterprüfungen – Prüfung 23d: Übertragungsleitungsreflexionen im Zeitbereich
JIS C 5402-19-3:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 19-3: Chemische Beständigkeitsprüfungen – Prüfung 19c: Flüssigkeitsbeständigkeit
JIS C 5402-11-4:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-4: Klimaprüfungen – Prüfung 11d: Schnelle Temperaturänderung

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

GB/T 43527-2023 Prüfverfahren zur elektromagnetischen Verträglichkeit elektrischer Schiffsausrüstung und Optimierung der Verlegeabstände bei der Schiffskabelverlegung
GB/T 10066.5-2014 Prüfverfahren für Elektrowärmeanlagen. Teil 5: Plasmageräte für Elektrowärme- und elektrochemische Anwendungen

Lithuanian Standards Office , Alterungstestzeit für elektronische Geräte

LST EN 60512-25-3-2002 Steckverbinder für elektronische Geräte. Tests und Messungen. Teil 25-3: Test 25c: Verschlechterung der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Alterungstestzeit für elektronische Geräte

ASTM E2141-14 Standardtestmethode für die beschleunigte Alterung elektrochromer Geräte in versiegelten Isolierglaseinheiten
ASTM E2953-14 Standardspezifikation zur Bewertung der beschleunigten Alterungsleistung elektrochromer Geräte in versiegelten Isolierglaseinheiten

International Organization for Standardization (ISO), Alterungstestzeit für elektronische Geräte

ISO 11554:2006 Optik und Photonik – Laser und laserbezogene Geräte – Prüfverfahren für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften

NL-NEN, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

NEN 10068-2-57-1994 Klimatische und mechanische Prüfung elektrischer Geräte. Teil 2-57: Testmethoden. Test Ff: Vibration. Zeitverlaufsmethode (IEC 68-2-57:1989)

RU-GOST R, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

GOST R ISO 11554-2008 Optik und Photonik. Laser und laserbezogene Ausrüstung. Prüfmethoden für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften
GOST R 59741-2021 Optik und Photonik. Laser und laserbezogene Ausrüstung. Prüfmethoden für Laserstrahlungsleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften

European Committee for Standardization (CEN), Alterungstestzeit für elektronische Geräte

EN ISO 11554:1998 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Geräte – Prüfverfahren für Laserstrahlleistung, Energie und zeitliche Eigenschaften ISO 11554:1998
EN ISO 11554:2003 Optik und optische Instrumente Laser und laserbezogene Geräte Prüfmethoden für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften
EN ISO 11554:2017 Optik und Photonik – Laser und laserbezogene Geräte – Prüfmethoden für Laserstrahlleistung, Energie und zeitliche Eigenschaften
EN ISO 11554:2008 Optik und Photonik – Laser und laserbezogene Geräte – Prüfverfahren für Laserstrahlleistung, -energie und zeitliche Eigenschaften (ISO 11554:2006)

CEN - European Committee for Standardization, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

EN ISO 11554:2006 Optik und Photonik – Laser und laserbezogene Geräte – Prüfverfahren für Laserstrahlleistung, Energie und zeitliche Eigenschaften

KR-KS, Alterungstestzeit für elektronische Geräte

KS C IEC 60512-2-3-2008 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 2-3: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Prüfung 2c: Änderung des Kontaktwiderstands