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전자 장비 노화 테스트 시간

모두 88항목의 전자 장비 노화 테스트 시간와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자 장비 노화 테스트 시간와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 전선 및 케이블, 산업용로, 도로 차량 장치, 조선 및 해양 구조물 통합, 유리, 광전자공학, 레이저 장비, 콘덴서, 종합 전자 부품, 반도체 개별 장치.


German Institute for Standardization, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • DIN EN 60512-25-3:2002 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 25-3: 테스트 25c: 상승 시간 노화
  • DIN EN 60512-25-3:2002-08 전자 장비용 커넥터 - 테스트 및 측정 - 파트 25-3: 테스트 25c: 상승 시간 저하(IEC 60512-25-3:2001)
  • DIN EN 60831-2:1997 정격 전압이 1KV를 초과하지 않는 AC 장비용 자체 복원 바이패스 커패시터 2부: 노화 테스트, 자체 복원 테스트 및 파괴 테스트
  • DIN EN ISO 11554:2008 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저 빔의 출력, 에너지 및 시간 특성 테스트 방법
  • DIN EN 60931-2:1997 정격 전압이 1kV(1kV 포함) 미만인 AC 장비용 비자기 복원 병렬 전력 커패시터 2부: 노화 테스트 및 파괴 테스트

British Standards Institution (BSI), 전자 장비 노화 테스트 시간

  • BS EN 60512-25-3:2001 전자 장비 커넥터 테스트 및 측정 테스트 25c 상승 시간 저하
  • BS DD IEC/TS 60680:2008 전열 및 전기화학 응용 분야용 플라즈마 장비의 테스트 방법
  • BS EN 60512-14-6:2006 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 밀봉 테스트 테스트 14f 인터페이스 간 밀봉
  • BS EN 60512-9-4:2011 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 내구성 테스트 테스트 9d 접점 고정 시스템 및 씰의 내구성(유지 관리, 노화 처리)
  • DD IEC/TS 60680:2008 전열 및 전기화학 응용 분야용 플라즈마 장비의 테스트 방법
  • BS EN 60512-11-4:2002 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 기후 테스트 테스트 11d 온도의 급격한 변화
  • BS EN ISO 11554:2017 광학 및 포토닉스 레이저 및 관련 레이저 장비 레이저 빔의 전력, 에너지 및 시간 특성에 대한 테스트 방법
  • BS EN ISO 11554:2009 광학 및 포토닉스 레이저와 관련 레이저 장비의 레이저 빔 전력, 에너지 및 시간 특성에 대한 테스트 방법
  • BS EN ISO 11554:2008 광학 및 포토닉스 레이저 및 관련 레이저 장비 레이저 빔의 전력, 에너지 및 시간 특성에 대한 테스트 방법
  • BS EN IEC 60512-99-002:2022 전기 및 전자 장비 테스트 99b의 커넥터 테스트 및 측정을 위한 내구성 테스트 일정: 전기 부하 시 플러그 분리에 대한 테스트 계획(IEC 60512-99-002:2022)
  • BS ISO 16750-5:2010 도로 차량, 전기 및 전자 장비의 환경 조건 및 테스트, 화학 물질 부하
  • BS IEC 60747-5-13:2021 반도체 소자 광전자 장비 LED 패키징 황화수소 부식 시험
  • BS EN 60512-12-1:2006 전자 장비용 커넥터 시험 및 측정 납땜 시험 시험 12a 용융 금속욕법에 의한 납땜성 측정
  • 20/30427721 DC BS EN 60512-99-002 전기 및 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 부품 99-002 내구성 테스트 일정 테스트 99b: 전기 부하 시 풀아웃에 대한 테스트 계획

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자 장비 노화 테스트 시간

  • KS C IEC 60512-25-3:2004 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 25-3부: 테스트 25c 상승 시간 구배
  • KS C IEC 60512-25-3:2014 전자 장비용 커넥터에 대한 테스트 및 측정 파트 25-3: 테스트 25c 상승 시간 감소
  • KS C IEC 60512-25-3-2004(2009) 전자 장비용 커넥터 - 테스트 및 측정 25-3: 테스트 25°C: 상승 시간 저하
  • KS C IEC 60680:2006 전열 및 전기화학 응용 분야용 플라즈마 장비의 테스트 방법
  • KS B ISO 11554:2013 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 레이저 빔의 전력, 에너지 및 시간 특성에 대한 테스트 방법
  • KS B ISO 11554:2003 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 레이저 빔의 전력, 에너지 및 시간 특성에 대한 테스트 방법
  • KS B ISO 11554:2015 광학 및 포토닉스 레이저와 레이저 장비의 레이저 빔 전력, 에너지 및 시간 특성에 대한 테스트 방법
  • KS C IEC 60512-23-4-2004(2009) 전자 장비용 커넥터의 테스트 및 측정 파트 23-4: 차폐 및 필터링 테스트 테스트 23d: 시간 영역 전송선 반사
  • KS C IEC 60512-23-4:2004 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 23-4: 차폐 및 필터링 테스트 테스트 23d: 전송선의 시간 영역 반사
  • KS C IEC 60512-23-4:2014 전자 장비용 커넥터의 시험 및 측정 제23-4부: 차폐 및 필터링 시험 시험 23d 전송선의 시간 영역 반사
  • KS C IEC 60512-11-4:2003 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 11-4: 기후 테스트 테스트 11d: 급격한 온도 변화
  • KS C IEC 60512-11-4:2014 전자 장비용 커넥터의 시험 및 측정 제11-4부: 기후 시험 시험 11d 급격한 온도 변화

Danish Standards Foundation, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • DS/EN 60512-25-3:2002 전자 장비 커넥터 테스트 및 측정 파트 25-3: 테스트 25c 상승 시간 저하
  • DS/EN 60512-11-4:2002 전자 장비용 커넥터의 테스트 및 측정 파트 11-4: 기후 테스트 테스트 11d: 급격한 온도 변화

Association Francaise de Normalisation, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • NF EN 60512-25-3:2002 전자 장비 커넥터 테스트 및 측정 파트 25-3: 테스트 25c 상승 시간 저하
  • NF EN IEC 61051-2:2021 전자장비 변경 2부: 임시 추가 제한 사항 변경에 대한 임시 규격
  • NF C93-400-25-3*NF EN 60512-25-3:2002 전자 장비용 커넥터의 테스트 및 측정 파트 25-3: 테스트 25c: 증가 시간 감소
  • NF C93-400-9-4*NF EN 60512-9-4:2012 전자 장비용 커넥터 - 테스트 및 측정 - 파트 9-4: 내구성 테스트 - 테스트 9d: 접점 유지 장치 및 씰의 내구성(유지 관리, 노화)
  • NF S10-121:2008 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저 빔의 출력, 에너지 및 시간 특성 테스트 방법
  • NF C93-400-23-4*NF EN 60512-23-4:2002 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 23-4: 차폐 및 필터링 테스트 테스트 23d: 시간 영역의 전송선 반사
  • NF C93-400-11-4*NF EN 60512-11-4:2002 전자 장비용 커넥터의 테스트 및 측정 파트 11-4: 기후 테스트 테스트 11d: 급격한 온도 변화
  • NF C93-400-2-3*NF EN 60512-2-3:2002 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 2-3부: 활선 연속성 및 접촉 저항 테스트 테스트 2c: 접촉 저항의 변화

International Electrotechnical Commission (IEC), 전자 장비 노화 테스트 시간

  • IEC 60512-25-3:2001 전자 장비용 커넥터의 시험 및 측정 제25-3부: 시험 25c 상승 시간 특성 저하
  • IEC TS 60680:2008 전열 및 전기화학 응용 분야용 플라즈마 장비의 테스트 방법
  • IEC 60512-9-4:2011 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 9-5: 내구성 테스트 테스트 9d: 접촉기 고정 시스템 및 씰의 내구성(수리, 노후화)
  • IEC 60512-23-4:2001 전자 장비용 커넥터의 테스트 및 측정 23-4부: 차폐 테스트 및 필터링 테스트 테스트 23d: 시간 영역의 방사선 반사
  • IEC 63203-406-1:2021 웨어러블 전자 장치 및 기술 파트 406-1: 인간 피부와 접촉 시 손목 착용 전자 장치의 표면 온도 측정을 위한 테스트 방법
  • IEC 27/581/DTS:2007 IEC 60680 TS 에디션 1: 전열 및 전기화학 응용 분야용 플라즈마 장비의 테스트 방법
  • IEC 60512-11-4:2002 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 11-4: 기후 테스트 테스트 11d: 급격한 온도 변화

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • GB/T 5095.2503-2021 전자 장비용 전기 기계 부품의 기본 테스트 절차 및 측정 방법 파트 25-3: 테스트 25c: 상승 시간 감쇠
  • GB/T 5095.2504-2021 전자 장비용 전기 기계 부품의 기본 테스트 절차 및 측정 방법 파트 25-4: 테스트 25d: 전송 지연

ES-UNE, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • UNE-EN IEC 60512-99-002:2022 전기 및 전자 장비용 커넥터의 테스트 및 측정 파트 99-002: 내구성 테스트 일정 테스트 99b: 전기 부하 하에서의 인발 테스트 일정
  • UNE-EN IEC 60512-99-002:2019 전기 및 전자 장비용 커넥터의 테스트 및 측정 파트 99-002: 내구성 테스트 일정 테스트 99b: 전기 부하 하에서의 인발 테스트 일정

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 전자 장비 노화 테스트 시간

  • EN 60512-25-3:2001 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 25-3: 테스트 25c 상승 시간 구배 IEC 60512-25-3-2001
  • EN 60512-23-4:2001 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 섹션 23-4: 스크리닝 및 필터링 테스트 테스트 23d: 시간 영역의 전송선 반사 IEC 60512-23-4-2001
  • EN 60512-9-4:2011 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 9-4: 내구성 테스트 테스트 9d: 접점 유지 시스템 및 씰의 내구성(유지 관리, 노화 처리)

AENOR, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • UNE-EN 60512-25-3:2002 전자 장비 커넥터 테스트 및 측정 파트 25-3: 테스트 25c 상승 시간 감소
  • UNE-EN 60512-11-4:2002 전자 장비용 커넥터의 테스트 및 측정 파트 11-4: 기후 테스트 테스트 11d: 급격한 온도 변화

Professional Standard - Machinery, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • JB/T 4278.6-1993 고무 플라스틱 와이어 및 케이블 테스트 장비 및 장비의 검증 방법 자연 환기 열 노화 테스트 챔버
  • JB/T 4278.9-1993 고무 및 플라스틱 와이어 및 케이블 테스트 장비 및 장비의 교정 방법 산소 폭탄 및 공기 폭탄 노화 테스트 챔버
  • JB/T 4278.6-2011 고무 및 플라스틱 와이어 및 케이블 테스트 장비 및 장비의 검증 방법 6부: 자연 환기 열 노화 테스트 챔버
  • JB/T 4278.9-2011 고무 및 플라스틱 와이어 및 케이블 테스트 기기 및 장비의 교정 방법 파트 9: 산소 폭탄 및 공기 폭탄 노화 테스트 챔버
  • JB/T 4278.13-2011 고무 및 플라스틱 와이어 및 케이블 테스트 장비 및 장비의 검증 방법 13부: 강제 환기 열 노화 테스트 챔버

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 장비 노화 테스트 시간

YU-JUS, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • JUS N.R4.448-1987 전자 장비용 전자 기계 부품. 테스트 방법. 테스트 13e: 자극 방법
  • JUS N.R4.482-1987 전자 장비용 전자 기계 부품. 테스트 방법. 테스트 2h: 액추에이터와 장착 가이드 부시(표면) 사이의 저항(접지)

CZ-CSN, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • CSN 35 4055 Cast.26-1984 전자 장비의 모터 부품. 접점 유지 시스템 내구성 및 밀봉/유지 관리, 번인/테스트

TR-TSE, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • TS 2153-1975 전자기기 및 전자기기 시험을 위한 기본 환경 시험 절차 Db: 교번 습열 시험(12+12시간 교번)

IN-BIS, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • IS 9002 Pt.13/Sec.3-1985 전기 및 전자 제품의 환경 테스트 장비 사양 13부 온도 변화 테스트 장비 섹션 3: 2개 조
  • IS 9002 Pt.13/Sec.1-1985 전자 및 전기 제품의 환경 시험 장비 사양 13부 온도 변화 시험 장비 섹션 1: 2챔버 시스템

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자 장비 노화 테스트 시간

  • JIS C 5402-14-6:2016 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 14-6: 밀봉 테스트 테스트 14f: 층 간 밀봉
  • JIS C 5402-23-4:2006 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 23-4: 차폐 테스트 및 필터링 테스트 테스트 23d: 시간 영역의 전송선 반사
  • JIS C 5402-19-3:2002 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 19-3: 화학 물질에 대한 내성 테스트 테스트 19c: 유체에 대한 내성
  • JIS C 5402-11-4:2005 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 11-4: 기후 테스트 테스트 11d: 급격한 온도 변화

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • GB/T 43527-2023 선박 전기기기의 전자파 적합성 시험 방법 및 선박 케이블 부설을 위한 부설 간격 최적화 방법
  • GB/T 10066.5-2014 전열 장치 테스트 방법 - 파트 5: 전열 및 전기화학 응용 분야용 플라즈마 장비

Lithuanian Standards Office , 전자 장비 노화 테스트 시간

  • LST EN 60512-25-3-2002 전자 장비용 커넥터의 테스트 및 측정 파트 25-3: 테스트 25c: 상승 시간 저하(IEC 60512-25-3:2001)

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자 장비 노화 테스트 시간

  • ASTM E2141-14 밀봉된 절연 유리 설비에서 전기 변색 장비의 노화 가속화에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2953-14 밀봉된 절연 유리 설치에서 전기 변색 장치의 노화 가속화 성능을 평가하기 위한 표준 테스트 방법

International Organization for Standardization (ISO), 전자 장비 노화 테스트 시간

  • ISO 11554:2006 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 레이저 빔의 전력, 에너지 및 시간 특성에 대한 테스트 방법

NL-NEN, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • NEN 10068-2-57-1994 IEC 68-2-57-1989 전기 장비의 기후 및 기계적 테스트. 파트 2-57: 테스트 방법. 테스트 Ff: 진동. 시간 이력 방법

RU-GOST R, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • GOST R ISO 11554-2008 광학 및 광전자공학 레이저 및 관련 레이저 장비 레이저 에너지, 에너지 특성 및 시간 특성에 대한 테스트 방법
  • GOST R 59741-2021 광학 및 포토닉스 레이저와 레이저 관련 장비의 레이저 방사 전력, 에너지 및 시간 특성에 대한 테스트 방법

European Committee for Standardization (CEN), 전자 장비 노화 테스트 시간

  • EN ISO 11554:1998 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저 빔의 출력, 에너지 및 시간 특성 테스트 방법
  • EN ISO 11554:2003 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저 빔의 출력, 에너지 및 시간 특성 테스트 방법
  • EN ISO 11554:2017 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저 빔의 출력, 에너지 및 시간 특성 테스트 방법
  • EN ISO 11554:2008 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저 빔의 출력, 에너지 및 시간 특성 테스트 방법

CEN - European Committee for Standardization, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • EN ISO 11554:2006 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저 빔의 출력, 에너지 및 시간 특성 테스트 방법

KR-KS, 전자 장비 노화 테스트 시간

  • KS C IEC 60512-2-3-2008 전자 장비용 커넥터의 테스트 및 측정 파트 2-3: 전기 연속성 및 접촉 저항 테스트 테스트 2c: 접촉 저항의 변화




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