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测量 有机薄膜厚度
本专题涉及测量 有机薄膜厚度的标准有132条。
国际标准分类中，测量 有机薄膜厚度涉及到橡胶和塑料制品、非金属矿、长度和角度测量、涂料和清漆、表面处理和镀涂、磁性材料、罐、听、管、分析化学、纺织产品、轴承、无损检测、词汇、物理学、化学、金属矿、煤、燃料、电子元器件综合。
在中国标准分类中，测量 有机薄膜厚度涉及到合成树脂、塑料基础标准与通用方法、纸浆与纸板、建材原料矿、金属理化性能试验方法综合、涂料、材料防护、长度计量、热处理、塑料型材、工业技术玻璃、滑动轴承、包装材料与容器、金属无损检验方法、涂料基础标准与通用方法、电子元件综合、物理学与力学、基础标准与通用方法。
国家质检总局，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法
- GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片 .样品平均厚度、卷平均厚度及单位质量面积的测定.称量法(称量厚度)
- GB/T 38518-2020 柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法
- GB/T 8014-1987 铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜厚度的定义和有关测量厚度的规定
- GB/T 12334-2001 金属和其他非有机覆盖层--关于厚度测量的定义和一般规则
ZA-SANS，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- SANS 4593:2003 塑料薄膜和薄片厚度测定．机械测量法
- SANS 4591:2003 塑料薄膜和薄片样品平均厚度，卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法（称量厚度）
- SANS 2064:2008 金属及其他无机涂层.有关厚度测量的定义和惯例
(美国)福特汽车标准，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- FORD FLTM EU-BQ 010-1-2000 阳极氧化铝的薄膜厚度测量
韩国科技标准局，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- KS M ISO 4593:2002 塑料.薄膜和薄板.机械扫描测定厚度
- KS M ISO 4593-2002(2022) 塑料薄膜和薄板机械扫描法测定厚度
- KS M ISO 4593-2002(2017) 塑料薄膜和薄板厚度的机械扫描测定法
- KS M ISO 4591:2007 塑料.薄片和薄膜.以重量分析技术(重量分析厚度)测定试样的平均厚度和一卷的量和平均厚度
- KS M ISO 4591-2007(2022) 塑料－薄膜和薄板－用重量分析法测定样品的平均厚度、卷的平均厚度和成品率（重量分析厚度）
- KS M ISO 4591-2007(2017) 塑料－薄膜和薄板－用重量分析技术测定样品的平均厚度和卷的平均厚度和成品率（重量分析厚度）
- KS E ISO 8263-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 20905-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 8858-2-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 5069-2-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 8858-3-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 8264-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 10086-2-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 15239-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS D ISO 3868-2002(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 4687-1-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 561-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E 3732-1987(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 5069-1-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 4689-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E 3701-2002(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS E ISO 10086-1-2007(2022) 金属和其他非有机涂层涂层厚度的测量斐索多光束干涉法
- KS C IEC TS 62607-5-1:2019 纳米制造 - 关键控制特性 - 第5-1部分:薄膜有机/纳米电子器件 - 载体运输测量
国际标准化组织，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- ISO 4593:1993 塑料 薄膜和薄板 机械扫描测定厚度
- ISO 4593:1979 塑料.薄膜和薄板.机械扫描测定厚度
- ISO 4591:1992 塑料薄膜和薄片.样品平均厚度,卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法(称量厚度)
- ISO 4591:1979 塑料.薄膜和薄板.用重量分析技术（重量分析厚度）测定样品的平均厚度和卷的平均厚度和产量
- ISO 3548-2:2009 滑动轴承.有或没有法兰的薄壁半轴承.第2部分:壁厚度和法兰厚度的测量
- ISO 2064:1973 金属镀层和其它无机物涂层.有关厚度测量的定义
- ISO 2064:1980 金属镀层和其它无机物涂层.有关厚度测量的定义
AENOR，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- UNE-ISO 4593:2010 塑料—薄膜和薄板—机械扫描法测定厚度
- UNE-ISO 4591:2010 塑料 薄膜和片材 用重量分析技术测定样品的平均厚度、卷的平均厚度和成品率（重量分析厚度）
- UNE-EN 15042-1:2007 涂层厚度测量和表面波表面表征 第1部分：通过激光诱导表面声波测定薄膜的弹性常数、密度和厚度的指南
- UNE-EN ISO 3868:1996 金属和其他非有机涂层 涂层厚度的测量 FIZEAU 多光束干涉测量法 （ISO 3868:1976）
英国标准学会，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- BS 5806:1979 云母块、薄片、薄膜和碎片的厚度测量法
- BS 6286:1982 钢中薄表面硬化层总厚度或有效厚度的测量方法
- BS EN 15042-1:2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.使用激光感应表面声波法测定薄膜的弹性常数,密度和厚度用指南
- PD IEC TS 62607-5-3:2020 纳米制造 关键控制特性 薄膜有机/纳米电子器件 载流子浓度的测量
- BS PD IEC/TS 62607-5-1:2014 纳米制造. 关键控制特性. 有机薄膜/纳米电子器件. 载波传输测量
- PD IEC/TS 62607-5-1:2014 纳米制造 关键控制特性 薄膜有机/纳米电子器件 载体传输测量
- BS EN ISO 2064:2000 金属和其他无机物覆层.有关厚度测量的定义和一般要求
美国材料与试验协会，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- ASTM E252-05 质量测量法测定薄箔、薄板和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM D1212-91 有机涂层湿膜厚度测量的标准试验方法
- ASTM D1212-91(2013) 有机涂层湿膜厚度测量的标准试验方法
- ASTM D1212-91(2007)e1 有机涂层湿膜厚度测量的标准试验方法
- ASTM E252-04 用质量测量法测定薄箔和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM D1212-91(2007) 有机涂层湿膜厚度的测试方法
- ASTM D1212-91(2001) 用于测量有机涂层湿膜厚度的标准测试方法
- ASTM D1212-91(1996)e1 用于测量有机涂层湿膜厚度的标准测试方法
- ASTM D1212-91(2020) 用于测量有机涂层湿膜厚度的标准测试方法
- ASTM E252-06 质量测量法测定箔片、薄板和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM E252-06(2013) 采用质量测量的箔片, 薄板和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM D1005-95 使用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准测试方法
- ASTM D1005-95(2020) 使用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准测试方法
- ASTM D1005-95(2007) 用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准试验方法
- ASTM E252-06(2021)e1 通过质量测量的箔 薄片和膜的厚度的标准测试方法
- ASTM D1005-95(2001) 使用测微计测量有机涂层的干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D1005-95(2013) 使用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D5994/D5994M-10(2021) 测量有纹理土工膜芯厚度的标准试验方法
- ASTM D5994/D5994M-10(2015)e1 测量有纹理土工膜芯厚度的标准试验方法
- ASTM D6132-13(2022) 使用超声波涂层测厚仪无损测量应用有机涂层干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D6132-13(2017) 使用超声波涂层厚度测量仪对应用的有机涂层的干膜厚度进行非破坏性测量的标准测试方法
- ASTM D6132-13 采用超声波涂层测厚仪对应用有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
- ASTM D5796-03 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D5796-03(2010) 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D5796-10 用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D5796-99 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
- ASTM D5796-20 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
- ASTM D5796-10(2015) 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
- ASTM D6132-04 用超声波仪表对外施的有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
- ASTM D6132-97 用超声波仪表对混凝土有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
- ASTM D6132-08 用超声波仪表对外施的有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
- ASTM D8331/D8331M-20 用加固光学干涉法用非破坏性方法测量薄膜涂层厚度的标准试验方法
- ASTM D1400-00 有色金属基底上非导电涂层干膜厚度的无损测量的标准试验方法
- ASTM D5895-01e1 机械记录器用有机涂层烘干或硫化期间薄膜产生时间测量用标准试验方法
- ASTM D5895-96 机械记录器用有机涂层烘干或硫化期间薄膜产生时间测量用标准试验方法
- ASTM D7091-22 黑色金属用非磁性涂层和有色金属用非磁性非导电涂层干膜厚度的无损测量
法国标准化协会，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- NF T30-122:1974 涂料.干性薄膜厚度的测定.标度量规法
- NF T30-121:1974 涂料.干性薄膜厚度的测定.千分尺测量法
- NF T30-124:1991 涂料和清漆 .干性薄膜厚度测量.磁通量无损测量法
- NF EN 15042-1:2006 使用表面波测量涂层厚度和表面表征 - 第 1 部分：使用表面波测定薄膜弹性常数、密度和厚度的指南
- NF A91-104*NF EN ISO 2064:2000 金属和其它无机物镀层 有关厚度测量的定义和惯例
- NF A91-139-1*NF EN 15042-1:2006 涂层厚度测量和有表面波的表面特性化.第1部分:采用激光感应表面声波法对各膜层的弹性常数、密度和厚度的测定指南
- NF A91-104:1995 金属镀层和其它无机物涂层.有关厚度测量的定义和常规
IN-BIS，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- IS 9044-1979 测量云母块、薄片、薄膜和云母片厚度的方法
德国标准化学会，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- DIN SPEC 55661:2013 使用超声波测量计测定涂层薄膜厚度
- DIN ISO 4593:2019 塑料 薄膜和薄片 通过机械扫描测定厚度（ISO 4593:1993）
- DIN ISO 4593:2019-06 塑料 薄膜和片材 通过机械扫描测定厚度
- DIN 53370:2006 塑料薄膜的检验.用机械手触摸法测定厚度
- DIN 53370:1976 塑料薄膜的检验.用机械手触摸法测定厚度
- DIN EN 15042-1:2006-06 涂层厚度测量和表面波表征 第1部分：激光诱导表面声波测定薄膜弹性常数、密度和厚度指南
- DIN EN 13048:2009 包装.铝软管.内部清漆薄膜厚度测量方法.英文版本DIN EN 13048-2009-08
- PAS 1022-2004 检测材料及介电材料性质以及用椭偏仪测量薄膜层厚度的参考程序
- DIN EN 15042-1:2006 涂层厚度测量和有表面波的表面特性化.第1部分:采用激光感应表面声波法对各膜层的弹性常数、密度和厚度的测定指南
- DIN EN ISO 2064:2000-06 金属和其他无机涂层 - 有关厚度测量的定义和惯例 (ISO 2064:1996)
KR-KS，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- KS C 6111-5-2008(2023) 微波频率下超导体薄膜厚度的测量
- KS C IEC TS 62607-5-1-2019 纳米制造 - 关键控制特性 - 第5-1部分:薄膜有机/纳米电子器件 - 载体运输测量
SE-SIS，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- SIS 18 41 58-1973 油漆．由刻度盘指示器线性测量测定薄膜厚度
- SIS SMS 2952-1971 与金属及其它非有机涂料厚度测量有关的术语定义
- SIS SS-ISO 3882:1988 金属及其它非有机涂料．厚度测量方法的审查
- SIS SS-ISO 2064:1982 金属及其它非有机涂层．厚度测量相关的定义和常规
欧洲标准化委员会，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- EN 13048:2009 包装.铝软管.内部清漆薄膜厚度测量方法
- EN 13048:2000 包装.铝软管.内部清漆薄膜厚度测量方法
美国通用公司（大宇），关于测量 有机薄膜厚度的标准
- GMKOREA EDS-T-7782-2011 有机涂层产品干膜厚度的测试方法
澳大利亚标准协会，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- AS/NZS 1580.107.3:1997 油漆及类似材料 测试方法 用量规测定湿薄膜厚度
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- GB/T 33826-2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法
- GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
RO-ASRO，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- SR ISO 4591:1996 塑料．薄膜和塑料布．样品的平均厚度的测试，和一卷的平均厚度和收益，通过重量技术（重量厚度）
- STAS SR EN ISO 2064:1996 金属和其它非有机涂料．有关厚度测量的定义和协定
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- GB/T 7308.2-2021 滑动轴承 有法兰或无法兰薄壁轴瓦 第2部分:轴瓦壁厚和法兰厚度测量
FI-SFS，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- SFS-ISO 3882:1987 金属和其他非有机涂料．厚度测量方法综述
丹麦标准化协会，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- DS/EN 15042-1:2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第1部分：通过激光诱导表面声波测定薄膜的弹性常数、密度和厚度的指南
- DS/ISO 2064:1980 金属和其他无机物涂层. 有关厚度测量的定义
- DS/EN ISO 3882:1995 金属和其他非有机覆盖层．厚度测量方法评述
- DS/EN ISO 2064:1994 金属和其他非有机覆盖层．厚度测量的定义和惯例
- DS/EN ISO 3868:1995 金属和其他非有机涂层 涂层厚度的测量 斐索多光束干涉法
立陶宛标准局，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- LST EN 15042-1-2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第1部分：通过激光诱导表面声波测定薄膜的弹性常数、密度和厚度的指南
- LST EN ISO 3868:2001 金属和其他非有机涂层 涂层厚度的测量 Fizeau 多光束干涉测量法（ISO 3868:1976）
RU-GOST R，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- GOST 11279.8-1983 有机染料.耐干摩擦和湿摩擦聚氯乙烯薄膜染色牢度测定法
NO-SN，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- NS 1196-1983 金属和其他非有机涂层 关于厚度测量的定义和约定
国际电工委员会，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- IEC TS 62607-5-3:2020 纳米制造关键控制特性第5-3部分:薄膜有机/纳米电子器件电荷载流子浓度的测量
- IEC TS 62607-5-1:2014 纳米制造.关键控制特性.第5-1部分:薄膜有机/纳米电子设备.载体运输测量
未注明发布机构，关于测量 有机薄膜厚度的标准
- BS EN ISO 3868:1995(1999) 金属和其他非有机涂层 涂层厚度的测量 斐索多光束干涉法
