EN

RU

ES

x射线光谱电子能谱

本专题涉及x射线光谱电子能谱的标准有32条。

国际标准分类中,x射线光谱电子能谱涉及到分析化学、光学和光学测量、长度和角度测量、无损检测、电学、磁学、电和磁的测量。

在中国标准分类中,x射线光谱电子能谱涉及到基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学、电子光学与其他物理光学仪器、综合测试系统、化学助剂基础标准与通用方法、光学测试仪器。


德国标准化学会,关于x射线光谱电子能谱的标准

  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
  • DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本

英国标准学会,关于x射线光谱电子能谱的标准

  • BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
  • BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
  • BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
  • BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
  • BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法

国际标准化组织,关于x射线光谱电子能谱的标准

  • ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
  • ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
  • ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
  • ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
  • ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息

美国材料与试验协会,关于x射线光谱电子能谱的标准

  • ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
  • ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
  • ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
  • ASTM E995-11 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
  • ASTM E996-04 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
  • ASTM E996-10 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于x射线光谱电子能谱的标准

  • GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
  • GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法

韩国科技标准局,关于x射线光谱电子能谱的标准

  • KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
  • KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性

国家质检总局,关于x射线光谱电子能谱的标准

  • GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
  • GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
  • GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
  • GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息

未注明发布机构,关于x射线光谱电子能谱的标准





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号