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光致 发光 法
本专题涉及光致 发光 法的标准有12条。
国际标准分类中，光致 发光 法涉及到半导体材料、食品试验和分析的一般方法、珠宝、非金属矿、建筑材料、半导体分立器件、绝缘流体。
在中国标准分类中，光致 发光 法涉及到化合物半导体材料、基础标准与通用方法、、半金属、元素半导体材料。
行业标准-电子，关于光致 发光 法的标准
- SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
英国标准学会，关于光致 发光 法的标准
- BS EN 13751:2009 食品.用光致发光法探测辐照过的食品
欧洲标准化委员会，关于光致 发光 法的标准
- EN 13751:2002 食品.用光致发光法探测辐照过的食品
- EN 13751:2009 食品类.用光致发光法检测辐照后的食品
中国团体标准，关于光致 发光 法的标准
- T/CAQI 75-2019 珠宝玉石鉴定 光致发光光谱法
德国标准化学会，关于光致 发光 法的标准
- DIN EN 13751:2009 食品.用光致发光法检测辐照后的食品.德文版本EN 13751-2009
日本工业标准调查会，关于光致 发光 法的标准
- JIS H 0615:2021 光致发光光谱法测定硅晶体中杂质浓度的试验方法
- JIS H 0615:1996 用光致发光光谱法测定硅晶体中杂质浓度的试验方法
韩国科技标准局，关于光致 发光 法的标准
- KS D 0078-2023 用光致发光光谱法测定硅晶体中杂质浓度的试验方法
- KS D 0078-2008 硅晶体中混杂物浓度测定方法.光致发光分析测定法
国际标准化组织，关于光致 发光 法的标准
- ISO/TS 10867:2019 纳米技术 - 使用近红外光致发光光谱法测定单壁碳纳米管的特征
国际电工委员会，关于光致 发光 法的标准
- IEC 63068-3:2020 半导体器件.功率器件用碳化硅同质外延片中缺陷的无损识别标准.第3部分:用光致发光法检测缺陷的试验方法
