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粒子噪声(PIND)试验

本专题涉及粒子噪声(PIND)试验的标准有21条。

国际标准分类中,粒子噪声(PIND)试验涉及到半导体分立器件、声学和声学测量、质量。

在中国标准分类中,粒子噪声(PIND)试验涉及到半导体分立器件综合、电子元器件、基础标准与通用方法、可靠性和可维护性。


IEC - International Electrotechnical Commission,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

  • PAS 62171-2000 粒子撞击噪声检测(PIND)测试指南 操作员培训和认证(1.0 版)

韩国科技标准局,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

丹麦标准化协会,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

  • DS/EN 60749-16:2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分:粒子撞击噪声检测(PIND)

德国标准化学会,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

  • DIN EN 60749-16:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)
  • DIN EN 60749-16:2003-09 半导体器件 机械和气候测试方法 第16部分:粒子撞击噪声检测(PIND)

国际电工委员会,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

  • IEC 60749-16:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)
  • IEC PAS 62171:2000 微粒冲击噪音检测(PIND)试验、操作者培训和认证指南

行业标准-航天,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

  • QJ 2863-1996 航天用电子元器件颗粒碰撞噪声检测(PIND)要求和方法

英国标准学会,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

AENOR,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

  • UNE-EN 60749-16:2003 半导体器件 机械和气候测试方法 第16部分:粒子撞击噪声检测(PIND)

欧洲电工标准化委员会,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

  • EN 60749-16:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)IEC 60749-16-2003

法国标准化协会,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

  • JEDEC JEP114.01-2007 粒子撞击噪声检测(PIND)测试、操作员培训和认证指南(JEP114 的小修订,1989年12月)
  • JEDEC JEP114-1989 微粒冲击噪音检测(PIND)试验、操作者培训和认证指南

立陶宛标准局,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

  • LST EN 60749-16-2003 半导体器件 机械和气候测试方法 第16部分:粒子撞击噪声检测(PIND)(IEC 60749-16:2003)

国家军用标准-总装备部,关于粒子噪声(PIND)试验的标准

  • GJB 360.26-1987 电子及电气元件试验方法 微粒碰撞噪声检测
  • GJB 360.34-1987 电子及电气元件试验方法 固定电阻器电流噪声测试

GB-REG,关于粒子噪声(PIND)试验的标准


粒子噪声(PIND)试验

 

可能用到的仪器设备

 

冲击试验机CLC-AI冠测 应用于电子/半导体

冲击试验机CLC-AI冠测 应用于电子/半导体

北京冠测精电仪器设备有限公司

 

 




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