Elektronenbeugung Sekundärbeugung

Für die Elektronenbeugung Sekundärbeugung gibt es insgesamt 63 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Elektronenbeugung Sekundärbeugung die folgenden Kategorien: Wortschatz, analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Prüfung von Metallmaterialien, Feuer bekämpfen, Längen- und Winkelmessungen, Speiseöle und -fette, Ölsaaten.

United States Navy, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

NAVY UFGS-01 33 29-2010 LEED(TM)-DOKUMENTATION

International Organization for Standardization (ISO), Elektronenbeugung Sekundärbeugung

ISO/CD 23699 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreuungselektronenbeugung – Vokabular
ISO 13067:2011 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße
ISO 23749:2022 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
ISO 13067:2020 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße
ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
ISO/DIS 24173:2023 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
ISO/CD 25498:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 23703:2022 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Fehlorientierungsanalyse zur Beurteilung mechanischer Schäden an austenitischem Edelstahl durch Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

GB/T 19501-2004 Allgemeiner Leitfaden für die Analyse der Elektronenrückstreubeugung
GB/T 18907-2002 Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope
GB/T 19501-2013 Mikrostrahlanalyse. Allgemeiner Leitfaden für die Analyse der Elektronenrückstreubeugung
GB/T 36165-2018 Bestimmung der durchschnittlichen Korngröße von Metall. Methode der Elektronenrückstreubeugung (EBSD).
GB/T 30703-2014 Mikrostrahlanalyse. Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
GB/T 38532-2020 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße
GB/T 18907-2013 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Selektierte Elektronenbeugungsanalyse unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
GB/T 20724-2006 Methode zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenbeugung

工业和信息化部, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

YB/T 4677-2018 Bestimmung der Textur mit der Methode der Stahlelektronenrückstreuung (EBSD).

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

DB31/T 1156-2019 Elektronenrückstreu-Beugungsmethode zur technischen Identifizierung elektrischer Brandschmelzspuren

Association Francaise de Normalisation, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

NF ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung durch Rückstreuelektronenbeugung
NF X21-014:2012 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße.
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung

German Institute for Standardization, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

DIN ISO 13067:2021-08 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße (ISO 13067:2020)
DIN ISO 13067:2015 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße (ISO 13067:2011)
DIN ISO 24173:2013-04 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung (ISO 24713:2009)
DIN ISO 13067:2021 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße (ISO 13067:2020)
DIN ISO 24173:2013 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung (ISO 24713:2009)
DIN EN 14107:2003-10 Fett- und Ölderivate - Fettsäuremethylester (FAME) - Bestimmung des Phosphorgehalts mittels Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP); Deutsche Fassung EN 14107:2003

British Standards Institution (BSI), Elektronenbeugung Sekundärbeugung

BS ISO 13067:2011 Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße
BS ISO 13067:2020 Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße
BS ISO 23749:2022 Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
BS ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
BS ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
19/30365236 DC BS ISO 13067. Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße
21/30398224 DC BS ISO 23749. Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
23/30435799 DC BS ISO 24173. Mikrostrahlanalyse. Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
BS ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
BS ISO 23703:2022 Mikrostrahlanalyse. Richtlinien für die Fehlorientierungsanalyse zur Beurteilung mechanischer Schäden an austenitischem Edelstahl durch Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
21/30395106 DC BS ISO 23703. Mikrostrahlanalyse. Leitfaden für die Fehlorientierungsanalyse zur Beurteilung der mechanischen Schädigung von austenitischem Edelstahl durch Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
BS EN 14107:2003 Fett- und Ölderivate – Fettsäuremethylester (FAME) – Bestimmung des Phosphorgehalts mittels Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP).
BS ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
BS ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputter-Dept-Profiling unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen dünnen…
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputtertiefenprofilierung mithilfe von Einzel- und…

未注明发布机构, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

DIN ISO 13067 E:2021-01 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

GB/T 41076-2021 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
GB/T 20724-2021 Mikrostrahlanalyse – Methode zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenbeugung

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

GB/T 34172-2017 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Phasenanalysemethode von Metall und Legierung

RU-GOST R, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

GOST R 8.696-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Netzebenenabstände in Kristallen und Intensitätsverteilung in Beugungsmustern. Verfahren zur Messung mittels Elektronendiffraktometer
GOST R ISO 13067-2016 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße

Professional Standard - Commodity Inspection, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

SN/T 2649.1-2010 Bestimmung von Asbest in Kosmetika für den Import und Export. Teil 1: Röntgenbeugungs- und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

IX-IX-IEC, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

IEC TS 62607-6-17:2023 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-17: Material auf Graphenbasis – Ordnungsparameter: Röntgenbeugung und Transmissionselektronenmikroskopie

American Society for Testing and Materials (ASTM), Elektronenbeugung Sekundärbeugung

ASTM E2627-13 Standardpraxis zur Bestimmung der durchschnittlichen Korngröße mithilfe der Elektronenrückstreubeugung (EBSD) in vollständig rekristallisierten polykristallinen Materialien
ASTM E2627-13(2019) Standardpraxis zur Bestimmung der durchschnittlichen Korngröße mithilfe der Elektronenrückstreubeugung (EBSD) in vollständig rekristallisierten polykristallinen Materialien
ASTM E2627-10 Standardpraxis zur Bestimmung der durchschnittlichen Korngröße mithilfe der Elektronenrückstreubeugung (EBSD) in vollständig rekristallisierten polykristallinen Materialien

GOSTR, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

GOST R EN 14107-2009 Fett- und Ölderivate. Fettsäuremethylester (FAME). Bestimmung des Phosphorgehalts mittels Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP).

AENOR, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

UNE-EN 14107:2003 Fett- und Ölderivate. Fettsäuremethylester (FAME). Bestimmung des Phosphorgehalts mittels Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP).

Danish Standards Foundation, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

DS/EN 14107:2003 Fett- und Ölderivate – Fettsäuremethylester (FAME) – Bestimmung des Phosphorgehalts mittels Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP).

Lithuanian Standards Office , Elektronenbeugung Sekundärbeugung

LST EN 14107-2004 Fett- und Ölderivate – Fettsäuremethylester (FAME) – Bestimmung des Phosphorgehalts mittels Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP).

European Committee for Standardization (CEN), Elektronenbeugung Sekundärbeugung

EN 14107:2003 Fett- und Ölderivate – Fettsäuremethylester (FAME) – Bestimmung des Phosphorgehalts durch Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP).

ZA-SANS, Elektronenbeugung Sekundärbeugung

SANS 54107:2007 Fett- und Ölderivate – Fettsäuremethylester (FAME) – Bestimmung des Phosphorgehalts mittels Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP).