ZH
EN
JP
ES
RU
DE

전자 회절 2차 회절

모두 62항목의 전자 회절 2차 회절와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자 회절 2차 회절와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 어휘, 분석 화학, 광학 장비, 광학 및 광학 측정, 금속 재료 테스트, 소방, 길이 및 각도 측정, 식용유지, 유지종자.

United States Navy, 전자 회절 2차 회절

NAVY UFGS-01 33 29-2010 저에너지 전자 회절(TM) 파일

International Organization for Standardization (ISO), 전자 회절 2차 회절

ISO/CD 23699 마이크로빔 분석 - 전자 후방 산란 전자 회절 - 어휘
ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
ISO 23749:2022 마이크로빔 분석, 전자 후방 산란 회절, 강철의 오스테나이트 정량 측정
ISO 13067:2020 마이크로빔 분석 - 전자 후방 산란 회절 - 평균 입자 크기 측정
ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
ISO/DIS 24173:2023 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
ISO 23703:2022 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 사용하여 오스테나이트계 스테인리스 강의 기계적 손상을 평가하기 위한 방향 분석 가이드
ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자 회절 2차 회절

GB/T 19501-2004 전자 후방 산란 회절 분석 방법의 일반 원리
GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
GB/T 19501-2013 마이크로빔 분석의 일반 원리 전자 후방 산란 회절 분석 방법
GB/T 36165-2018 전자 후방 산란 회절(EBSD) 방법을 통한 금속의 평균 입자 크기 결정
GB/T 30703-2014 마이크로빔 분석을 위한 지침 전자 후방 산란 회절 방향 분석 방법
GB/T 38532-2020 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 결정
GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
GB/T 20724-2006 얇은 결정 두께에 대한 수렴빔 전자 회절 측정 방법

工业和信息化部, 전자 회절 2차 회절

YB/T 4677-2018 강철 전자 후방 산란 회절(EBSD) 방법의 질감 결정

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 회절 2차 회절

DB31/T 1156-2019 전기 화재 용융 마크 기술 식별 전자 후방 산란 회절 방법

Association Francaise de Normalisation, 전자 회절 2차 회절

NF ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 후방산란 전자 회절 방향 측정 가이드
NF X21-014:2012 마이크로빔 분석, 전자 후방 산란 회절, 평균 입자 크기 측정
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 마이크로빔 분석을 위한 전자 후방 산란 회절 방향 측정 가이드

German Institute for Standardization, 전자 회절 2차 회절

DIN ISO 13067:2021-08 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
DIN ISO 13067:2015 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정(ISO 13067-2011)
DIN ISO 24173:2013-04 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
DIN ISO 13067:2021 평균 입자 크기의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 측정(ISO 13067:2020)
DIN ISO 24173:2013 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 지침(ISO 24713-2009)
DIN EN 14107:2003-10 지방 및 오일 유도체 FAME(지방산 메틸 에스테르) 유도 결합 플라즈마(ICP) 광학 방출 분광법을 통한 인 함량 측정

British Standards Institution (BSI), 전자 회절 2차 회절

BS ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 후방 산란 전자 회절 평균 입자 크기 측정
BS ISO 13067:2020 평균 입자 크기의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 측정
BS ISO 23749:2022 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 통한 강철 내 오스테나이트의 정량적 측정
BS ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 이용한 방위각 측정 기준
BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
19/30365236 DC BS ISO 13067 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
21/30398224 DC BS ISO 23749 마이크로빔 분석을 통한 전자 후방 산란 회절을 통한 강철의 오스테나이트 정량 측정
23/30435799 DC BS ISO 24173 마이크로빔 분석에 의한 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
BS ISO 23703:2022 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 통한 오스테나이트계 스테인리스강의 기계적 손상 평가를 위한 오방향 분석에 대한 마이크로빔 분석 가이드
21/30395106 DC BS ISO 23703 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 통한 오스테나이트계 스테인리스강의 기계적 손상 평가를 위한 잘못된 방향 분석 가이드
BS EN 14107:2003 지방 및 오일 유도체 FAME(지방산 메틸 에스테르) 유도 결합 플라즈마(ICP) 방사선 분광법을 통한 인 함량 측정.
BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 회절 2차 회절

GB/T 41076-2021 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 통한 강철 내 오스테나이트 정량 분석
GB/T 20724-2021 마이크로빔 분석 수렴빔 전자 회절 얇은 결정의 두께 결정

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 회절 2차 회절

GB/T 34172-2017 금속 및 합금의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 위상 분석 방법

RU-GOST R, 전자 회절 2차 회절

GOST R 8.696-2010 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 결정의 평면 간격 및 회절 패턴의 밝기 분포 전자 회절계 방법을 사용한 측정
GOST R ISO 13067-2016 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정

Professional Standard - Commodity Inspection, 전자 회절 2차 회절

SN/T 2649.1-2010 수출입 화장품 내 석면 측정 1부: X선 회절-주사 전자현미경

IX-IX-IEC, 전자 회절 2차 회절

IEC TS 62607-6-17:2023 나노제조의 주요 제어 특성 6-17부: 그래핀 기반 재료 주문 매개변수: X선 회절 및 투과 전자 현미경

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자 회절 2차 회절

ASTM E2627-13 완전히 재결정화된 다결정 물질에서 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 사용하여 평균 입자 크기를 결정하는 표준 관행
ASTM E2627-13(2019) 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 통해 완전히 재결정화된 다결정 재료의 평균 입자 크기를 결정하는 표준 관행
ASTM E2627-10 완전히 재결정화된 다결정 재료에서 전자 역반사 회절(EBSD)을 사용하여 평균 입자 크기를 결정하는 표준 실습

GOSTR, 전자 회절 2차 회절

GOST R EN 14107-2009 지방 및 오일 유도체 FAME(지방산 메틸 에스테르) 유도 결합 플라즈마(ICP) 광학 방출 분광법을 통한 인 함량 측정

AENOR, 전자 회절 2차 회절

UNE-EN 14107:2003 지방 및 오일 유도체 FAME(지방산 메틸 에스테르) 유도 결합 플라즈마(ICP) 광학 방출 분광법을 통한 인 함량 측정

Danish Standards Foundation, 전자 회절 2차 회절

DS/EN 14107:2003 유도 결합 플라즈마(ICP) 광학 방출 분광법을 통한 인 함량 측정을 위한 지방 및 오일 유도체 FAME(지방산 메틸 에스테르)

Lithuanian Standards Office , 전자 회절 2차 회절

LST EN 14107-2004 유도 결합 플라즈마(ICP) 광학 방출 분광법을 통한 인 함량 측정을 위한 지방 및 오일 유도체 FAME(지방산 메틸 에스테르)

European Committee for Standardization (CEN), 전자 회절 2차 회절

EN 14107:2003 지방 및 오일 유도체 FAME(지방산 메틸 에스테르) 유도 결합 플라즈마(ICP) 방사선 분광법을 통한 인 함량 측정.

ZA-SANS, 전자 회절 2차 회절

SANS 54107:2007 지방과 오일의 파생물. 지방산 메틸 에스테르(FAME). 유도 결합 플라즈마(ICP) 방사선 분광법을 통한 인 함량 측정