Sekundärelektronenbeugungsanalyse

Für die Sekundärelektronenbeugungsanalyse gibt es insgesamt 70 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Sekundärelektronenbeugungsanalyse die folgenden Kategorien: Wortschatz, analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Nichteisenmetalle, Kraftstoff, Erdölprodukte umfassend, Keramik.

International Organization for Standardization (ISO), Sekundärelektronenbeugungsanalyse

ISO/CD 23699 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreuungselektronenbeugung – Vokabular
ISO/CD 25498:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 13067:2011 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße
ISO 23749:2022 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
ISO 13067:2020 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße
ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
ISO/DIS 24173:2023 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
ISO 23703:2022 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Fehlorientierungsanalyse zur Beurteilung mechanischer Schäden an austenitischem Edelstahl durch Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie-Sputtertiefe S
ISO 14701:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Messung der Siliziumoxiddicke
ISO 22415:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Bestimmung des Ausbeutevolumens bei der Argon-Cluster-Sputter-Tiefenprofilierung organischer Materialien

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

GB/T 18907-2013 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Selektierte Elektronenbeugungsanalyse unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
GB/T 19501-2004 Allgemeiner Leitfaden für die Analyse der Elektronenrückstreubeugung
GB/T 19501-2013 Mikrostrahlanalyse. Allgemeiner Leitfaden für die Analyse der Elektronenrückstreubeugung
GB/T 18907-2002 Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope
GB/T 30703-2014 Mikrostrahlanalyse. Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
GB/T 38532-2020 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße

British Standards Institution (BSI), Sekundärelektronenbeugungsanalyse

BS ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
BS ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
BS ISO 13067:2011 Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße
BS ISO 13067:2020 Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße
BS ISO 23749:2022 Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
BS ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
19/30365236 DC BS ISO 13067. Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße
21/30398224 DC BS ISO 23749. Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
BS ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputter-Dept-Profiling unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen dünnen…
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputtertiefenprofilierung mithilfe von Einzel- und…
23/30435799 DC BS ISO 24173. Mikrostrahlanalyse. Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
BS ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
BS ISO 23703:2022 Mikrostrahlanalyse. Richtlinien für die Fehlorientierungsanalyse zur Beurteilung mechanischer Schäden an austenitischem Edelstahl durch Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
BS ISO 22415:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Methode zur Bestimmung des Ausbeutevolumens bei der Tiefenprofilierung organischer Materialien durch Argon-Cluster-Sputtern
21/30395106 DC BS ISO 23703. Mikrostrahlanalyse. Leitfaden für die Fehlorientierungsanalyse zur Beurteilung der mechanischen Schädigung von austenitischem Edelstahl durch Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
BS ISO 14701:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Messung der Siliziumoxiddicke
BS EN 16294:2012 Erdölprodukte sowie Fett- und Ölderivate. Bestimmung des Phosphorgehalts in Fettsäuremethylestern (FAME). Optische Emissionsspektralanalyse mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

GB/T 41076-2021 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
GB/T 20724-2021 Mikrostrahlanalyse – Methode zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenbeugung
GB/T 41064-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen

Association Francaise de Normalisation, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

NF ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung durch Rückstreuelektronenbeugung
NF X21-014:2012 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße.
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

GB/T 34172-2017 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Phasenanalysemethode von Metall und Legierung

German Institute for Standardization, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

DIN ISO 13067:2021-08 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße (ISO 13067:2020)
DIN ISO 13067:2015 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße (ISO 13067:2011)
DIN ISO 24173:2013-04 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung (ISO 24713:2009)
DIN ISO 13067:2021 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße (ISO 13067:2020)
DIN ISO 24173:2013 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung (ISO 24713:2009)

未注明发布机构, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

DIN ISO 13067 E:2021-01 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße

RU-GOST R, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

GOST R ISO 13067-2016 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße

Professional Standard - Electron, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

SJ/T 10553-2021 Methode zur emissionsspektrometrischen Analyse von Verunreinigungen in ZrO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10552-2021 Methode zur emissionsspektrometrischen Analyse von Verunreinigungen in TiO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10552-1994 Methode zur emissionsspektrochemischen Analyse von Verunreinigungen in TiO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10553-1994 Methode zur emissionsspektrochemischen Analyse von Verunreinigungen in ZrO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10551-1994 Methode zur emissionsspektrochemischen Analyse von Verunreinigungen in AL203 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10551-2021 Die Messung der Emissionsspektrumanalyse für Aluminiumoxid, das in elektronischen Keramiken verwendet wird

工业和信息化部, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

YS/T 1342.4-2019 Methoden zur chemischen Analyse von Sekundärbatterieabfällen Teil 4: Bestimmung des Lithiumgehalts Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie
YS/T 1342.1-2019 Methoden zur chemischen Analyse von Sekundärbatterieabfällen Teil 1: Bestimmung des Nickelgehalts Diacetyloxim-Gravimetriemethode und Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie
YS/T 1342.3-2019 Methoden zur chemischen Analyse von Sekundärbatterieabfällen Teil 3: Bestimmung des Mangangehalts durch potentiometrische Titration und Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie
YS/T 1342.2-2019 Methoden zur chemischen Analyse von Sekundärbatterieabfällen Teil 2: Bestimmung des Kobaltgehalts durch potentiometrische Titration und Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie
YS/T 1200.2-2017 Methoden zur chemischen Analyse von 1,1'-Bisdiphenylphosphinferrocenpalladiumdichlorid Teil 2: Bestimmung der Mengen an Blei, Nickel, Kupfer, Cadmium, Chrom, Platin, Gold, Rhodium und Iridium durch induktiv gekoppelte Plasma-Atomemissionsspektr
YS/T 1395.2-2020 Methoden zur chemischen Analyse von Palladiumdichlorid – Teil 2: Bestimmung des Silber-, Gold-, Platin-, Rhodium-, Iridium-, Blei-, Nickel-, Kupfer-, Eisen-, Zinn- und Chromgehalts durch Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

YS/T 1046.6-2015 Methoden zur chemischen Analyse von Kupferschlackenkonzentraten. Teil 6: Bestimmung des Aluminiumoxidgehalts. Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
YS/T 715.2-2009 Methoden zur chemischen Analyse von Selendioxid. Teil 2: Bestimmung von Arsen-, Cadmium-, Eisen-, Quecksilber- und Bleigehalten. Induktiv gekoppelte Plasma-Atomemissionsspektrometrie

Lithuanian Standards Office , Sekundärelektronenbeugungsanalyse

LST EN 16294-2013 Erdölprodukte sowie Fett- und Ölderivate – Bestimmung des Phosphorgehalts in Fettsäuremethylestern (FAME) – Optische Emissionsspektralanalyse mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES)

Danish Standards Foundation, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

DS/EN 16294:2013 Erdölprodukte sowie Fett- und Ölderivate – Bestimmung des Phosphorgehalts in Fettsäuremethylestern (FAME) – Optische Emissionsspektralanalyse mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES)

AENOR, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

UNE-EN 16294:2013 Erdölprodukte sowie Fett- und Ölderivate – Bestimmung des Phosphorgehalts in Fettsäuremethylestern (FAME) – Optische Emissionsspektralanalyse mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES)

Professional Standard - Commodity Inspection, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

SN/T 3322.2-2015 Chemische Analyse von Titankonzentraten. Teil 2: Bestimmung des Vanadiumpentoxid- und Chromsesquioxidgehalts. Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

KR-KS, Sekundärelektronenbeugungsanalyse

KS L 1671-2023 Methode zur chemischen Analyse von Titandioxidpulvern mittels induktiv gekoppelter Plasma-optischer Emissionsspektrometrie