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chemische Massenspektrometrie

Für die chemische Massenspektrometrie gibt es insgesamt 24 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst chemische Massenspektrometrie die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Kernenergietechnik.

International Organization for Standardization (ISO), chemische Massenspektrometrie

• ISO 12406:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium
• ISO 13084:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
• ISO 17560:2014 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Bor in Silizium
• ISO/TS 15338:2009 Chemische Oberflächenanalyse – Glimmentladungs-Massenspektrometrie (GD-MS) – Einführung in die Anwendung
• ISO/TS 22933:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Messung der Massenauflösung in SIMS
• ISO 13084:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer

British Standards Institution (BSI), chemische Massenspektrometrie

• BS ISO 12406:2010 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Methode zur Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium
• BS ISO 23812:2009 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenkalibrierung für Silizium unter Verwendung mehrerer Deltaschicht-Referenzmaterialien
• BS DD ISO/TS 15338:2009 Chemische Oberflächenanalyse – Glimmentladungs-Massenspektrometrie (GD-MS) – Einführung in die Anwendung
• BS ISO 22048:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformat für die statische Sekundärionen-Massenspektrometrie

Association Francaise de Normalisation, chemische Massenspektrometrie

• NF X21-066*NF ISO 23812:2009 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenkalibrierung für Silizium unter Verwendung mehrerer Delta-Schicht-Referenzmaterialien

American Society for Testing and Materials (ASTM), chemische Massenspektrometrie

• ASTM C698-04 Standardtestmethoden für die chemische, massenspektrometrische und spektrochemische Analyse von Mischoxiden in Kernqualität ((U, Pu)O2)
• ASTM C698-98 Standardtestmethoden für die chemische, massenspektrometrische und spektrochemische Analyse von Mischoxiden in Kernqualität ((U, Pu)O2)
• ASTM C889-06 Standardtestmethoden für die chemische und massenspektrometrische Analyse von Gadoliniumoxidpulver (Gd2O3) in nuklearer Qualität
• ASTM C889-11 Standardtestmethoden für die chemische und massenspektrometrische Analyse von Gadoliniumoxidpulver (Gd2O3) in nuklearer Qualität
• ASTM C698-16 Standardtestmethoden für die chemische, massenspektrometrische und spektrochemische Analyse von Mischoxiden in Kernqualität ((U, Pu)O2)
• ASTM C889-99 Standardtestmethoden für die chemische und massenspektrografische Analyse von Gadoliniumoxidpulver (Gd2O3) in nuklearer Qualität

Professional Standard - Electron, chemische Massenspektrometrie

• SJ 2594-1985 Methode zur Analyse von Bor und metallischen Verunreinigungen in reinem SiC14 – spektrochemische Methode

IT-UNI, chemische Massenspektrometrie

• UNI 6714-1970 Chemische Analyse des Minerals Mangan. Zinkbestimmung. Polarographie

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, chemische Massenspektrometrie

• GB/T 33236-2016 Polykristallines Silizium – Bestimmung von Spurenelementen – Glimmentladungs-Massenspektrometrie-Methode

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, chemische Massenspektrometrie

• GB/T 42518-2023 Chemische Analyse von Spurenelementen in Wismutgermanat (BGO)-Kristallen mittels Glimmentladungs-Massenspektrometrie

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), chemische Massenspektrometrie

• KS D ISO 22048:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformat für die statische Sekundärionen-Massenspektrometrie

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), chemische Massenspektrometrie

• JIS K 0168:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformat für statische Sekundärionen-Massenspektrometrie

Standard Association of Australia （SAA）, chemische Massenspektrometrie

• AS ISO 17560:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Bor in Silizium

Sonstige:   chemische Ionisations-Massenspektrometrie, Chemikalien für die Massenspektrometrie, Sekundärionen-Massenspektrometrie, Oberflächenchemische Analyse, Sekundärionen-Massenspektrometrie, Tiefenprofilierungsmethoden für Arsen in Silizium, chemische Massenspektrometrie, Massenspektrometrie, chemische Ionisation, chemische Analyse, Massenspektrometrie, Massenspektrometrie, chemische Ionisation, Tandem-Massenspektrometrie-Chemie, Standardtestmethoden für die chemische, massenspektrometrische und spektrochemische Analyse von Borcarbid in Kernqualität, Massenspektrometrie der chemischen Zusammensetzung, Geochemie der Triple-Quadrupol-Massenspektrometrie, chemische Massenspektrometrie, Chemischer Nachweis mittels Massenspektrometrie, Massenspektrometrie-Chemie, Massenspektrometrie-Matrixanalyse, Massenspektrometrie mit chemischen Quellen, Gaschromatographie-Massenspektrometrie, Chromatographie-Massenspektrometrie, Chemische Zusammensetzung des Massenspektrometriegases.