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화학 질량 분석법

모두 24항목의 화학 질량 분석법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 화학 질량 분석법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 원자력공학.

International Organization for Standardization (ISO), 화학 질량 분석법

• ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
• ISO 13084:2011 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 비행 시간 2차 이온 질량 분석기에 대한 질량 스케일 교정
• ISO 17560:2014 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석법 - 실리콘 내 실리콘의 심층 분석 방법
• ISO/TS 15338:2009 표면 화학 분석 글로우 방전 질량 분석기(GD-MS) 사용 소개
• ISO/TS 22933:2022 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 시뮬레이션된 이온 질량 분석법에서 질량 분해능을 측정하는 방법.
• ISO 13084:2018 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석기 - 비행 시간형 2차 이온 질량 분석기에 대한 질량 분석기 교정

British Standards Institution (BSI), 화학 질량 분석법

• BS ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
• BS ISO 23812:2009 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 다중 델타층 기준 물질을 사용한 실리콘의 깊이 교정 방법
• BS DD ISO/TS 15338:2009 표면 화학 분석 글로우 방전 질량 분석기(GD-MS) 사용법 소개
• BS ISO 22048:2005 표면 화학 분석 - 정적 2차 이온 질량분석법을 위한 정보 형식

Association Francaise de Normalisation, 화학 질량 분석법

• NF X21-066*NF ISO 23812:2009 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 다중 델타층 기준 물질을 사용한 실리콘 심층 교정 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 화학 질량 분석법

• ASTM C698-04 핵 등급 혼합 산화물(UO2, PuO2)의 화학적, 질량 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM C698-98 핵 등급 혼합 산화물 [(U,Pu)O2]의 화학, 질량 분광 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM C889-06 핵등급 산화가돌리늄(Gd2O3) 분말의 화학 및 질량 분석을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM C889-11 핵등급 산화가돌리늄(Gd2O3) 분말의 화학 및 질량 분석을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM C698-16 핵 등급 혼합 산화물(U, Pu)O2의 화학적, 질량 분석 및 분광 분석을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM C889-99 핵등급 산화가돌리늄(Gd2O3) 분말의 화학 및 질량 분광 분석을 위한 표준 테스트 방법

Professional Standard - Electron, 화학 질량 분석법

• SJ 2594-1985 고순도 사염화규소 중의 붕소 및 금속 불순물의 화학 분광 분석 방법

IT-UNI, 화학 질량 분석법

• UNI 6714-1970 광물 망간의 화학적 분석. 아연 결정. 폴라로그래피

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 화학 질량 분석법

• GB/T 33236-2016 글로우 방전 질량 분석법을 이용한 다결정 실리콘의 미량 원소 화학적 분석

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 화학 질량 분석법

• GB/T 42518-2023 글로우 방전 질량 분석법을 통한 BGO(비스무트 게르마네이트) 결정의 미량 원소 화학 분석

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 화학 질량 분석법

• KS D ISO 22048:2005 표면 화학 분석 - 정적 2차 이온 질량분석법을 위한 정보 형식

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 화학 질량 분석법

• JIS K 0168:2011 표면 화학 분석 - 정적 2차 이온 질량분석법을 위한 정보 형식

Standard Association of Australia （SAA）, 화학 질량 분석법

• AS ISO 17560:2006 표면 화학 분석. 2차 이온 질량 분석법. 실리콘에 붕소 주입을 위한 깊이 분포 분석 방법

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