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Methoden zur Prüfung von Halbleitermaterialien

Für die Methoden zur Prüfung von Halbleitermaterialien gibt es insgesamt 7 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Methoden zur Prüfung von Halbleitermaterialien die folgenden Kategorien: Prüfung von Metallmaterialien, Keramik.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Methoden zur Prüfung von Halbleitermaterialien

• GB/T 1550-2018 Prüfverfahren für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Methoden zur Prüfung von Halbleitermaterialien

• GB/T 1550-1997 Standardmethoden zur Messung der Leitfähigkeit von extrinsischen Halbleitermaterialien

British Standards Institution (BSI), Methoden zur Prüfung von Halbleitermaterialien

• BS IEC 62951-5:2019 Halbleiterbauelemente. Flexible und dehnbare Halbleiterbauelemente – Prüfverfahren für die thermischen Eigenschaften flexibler Materialien
• BS ISO 27447:2019 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, technische Hochleistungskeramik). Testmethode für die antibakterielle Aktivität halbleitender photokatalytischer Materialien

Association Francaise de Normalisation, Methoden zur Prüfung von Halbleitermaterialien

• NF ISO 22197-4:2021 Technische Keramik – Prüfverfahren für die Leistung von fotokatalytischen Halbleitermaterialien zur Luftreinigung – Teil 4: Formaldehydentfernung

German Institute for Standardization, Methoden zur Prüfung von Halbleitermaterialien

• DIN 50455-1:2009-10 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Methoden zur Charakterisierung von Fotolacken – Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit optischen Methoden
• DIN 50455-2:1999-11 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Methoden zur Charakterisierung von Fotolacken – Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von positiven Fotolacken

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