Verunreinigungen in der Massenspektrometrie

Für die Verunreinigungen in der Massenspektrometrie gibt es insgesamt 17 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Verunreinigungen in der Massenspektrometrie die folgenden Kategorien: Nichteisenmetalle, Prüfung von Metallmaterialien, analytische Chemie, Speiseöle und -fette, Ölsaaten, Halbleitermaterial, Kernenergietechnik, organische Chemie.

RU-GOST R, Verunreinigungen in der Massenspektrometrie

GOST R 57061-2016 Kupfer. Messung des Massenanteils von Verunreinigungen in Kupfer durch ein induktiv gekoppeltes Plasma-Massenspektrometrieverfahren
GOST R 57060-2016 Kupfer. Messung des Massenanteils von Verunreinigungen in Kupfer durch ein induktiv gekoppeltes Plasma-Atomemissionsspektrometrieverfahren
GOST 2706.2-1974 Benzolkohlenwasserstoffe und verwandte Produkte. Chromatographische Methode zur Bestimmung des Gehalts an Hauptsubstanz und Verunreinigungen in Benzol, Tolyol und Xylol
GOST R 56240-2014 Kupfer. Spektrale Methoden der Verunreinigungsanalyse

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Verunreinigungen in der Massenspektrometrie

YS/T 244.9-2008 Chemische Analysemethoden für hochreines Aluminium. Teil 9: Bestimmung von Spurenverunreinigungen in hochreinem Aluminium durch induktiv gekoppelte Massenspektrometrie
YS/T 34.1-2011 Methode zur chemischen Analyse des hochreinen Arsens. Induktives Kopplungsplasma-Massenspektrum (ICP-MS) zur Bestimmung der Konzentration von Elementen im hochreinen Arsen

International Organization for Standardization (ISO), Verunreinigungen in der Massenspektrometrie

ISO 14237:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung der Bor-Atomkonzentration in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien
ISO 14237:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung der Bor-Atomkonzentration in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien

Association Francaise de Normalisation, Verunreinigungen in der Massenspektrometrie

NF X21-070*NF ISO 14237:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung der Bor-Atomkonzentration in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Verunreinigungen in der Massenspektrometrie

GB/T 20176-2006 Chemische Oberflächenanalyse.Sekundärionen-Massenspektrometrie.Bestimmung der Bor-Atomkonzentration in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien
GB/T 24582-2009 Testverfahren zur Messung der Oberflächenmetallverunreinigung von polykristallinem Silizium durch Säureextraktion-induktiv gekoppelte Plasma-Massenspektrometrie

British Standards Institution (BSI), Verunreinigungen in der Massenspektrometrie

BS ISO 14237:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung der Bor-Atomkonzentration in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien

Group Standards of the People's Republic of China, Verunreinigungen in der Massenspektrometrie

T/GAIA 007.1-2021 Bestimmung der Fremdverunreinigung in Ölen TeilⅠ: Bestimmung der nichtflüchtigen Fremdverunreinigung mittels LC-MS/MS

GOSTR, Verunreinigungen in der Massenspektrometrie

PNST 499-2020 Nanotechnologien. Kohlenstoffnanoröhren. Bestimmung chemischer Elementverunreinigungen durch induktiv gekoppeltes Plasma-Massenspektrometrieverfahren

American Society for Testing and Materials (ASTM), Verunreinigungen in der Massenspektrometrie

ASTM C1287-95(2001) Standardtestmethode zur Bestimmung von Verunreinigungen in Urandioxid durch Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
ASTM C1287-18 Standardtestmethode zur Bestimmung von Verunreinigungen in nuklearen Uranverbindungen durch Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
ASTM C1287-10 Standardtestmethode zur Bestimmung von Verunreinigungen in nuklearen Uranverbindungen durch Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma