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质谱杂质
本专题涉及质谱杂质的标准有16条。
国际标准分类中，质谱杂质涉及到有色金属、金属材料试验、分析化学、食用油和脂肪、含油种子、半导体材料、核能工程、有机化学。
在中国标准分类中，质谱杂质涉及到轻金属及其合金分析方法、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、、半金属与半导体材料综合、核材料、核燃料及其分析试验方法、半金属及半导体材料分析方法。
RU-GOST R，关于质谱杂质的标准
- GOST R 57061-2016 铜. 采用感应耦合等离子体质谱法测量铜的杂质质量分数
- GOST R 57060-2016 铜. 采用感应耦合等离子体原子发射光谱法测量铜的杂质质量分数
- GOST 2706.2-1974 苯类芳香烃.在苯,甲苯和二甲苯中基本物质及苯中杂质含量的色谱法测定
行业标准-有色金属，关于质谱杂质的标准
- YS/T 244.9-2008 高纯铝化学分析方法 第9部分:电感耦合等离子体质谱法测定杂质含量
- YS/T 34.1-2011 高纯砷化学分析方法.电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定高纯砷中杂质含量
国际标准化组织，关于质谱杂质的标准
- ISO 14237:2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
- ISO 14237:2000 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
法国标准化协会，关于质谱杂质的标准
- NF X21-070*NF ISO 14237:2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度.
国家质检总局，关于质谱杂质的标准
- GB/T 20176-2006 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
- GB/T 24582-2009 酸浸取.电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
英国标准学会，关于质谱杂质的标准
- BS ISO 14237:2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
中国团体标准，关于质谱杂质的标准
- T/GAIA 007.1-2021 油脂中外源杂质的测定 第一部分：难挥发外源杂质的测定 液相色谱-串联质谱法
GOSTR，关于质谱杂质的标准
- PNST 499-2020 纳米技术 小碳纳米管 电感耦合等离子体质谱法测定化学元素杂质
美国材料与试验协会，关于质谱杂质的标准
- ASTM C1287-95(2001) 用电感耦合等离子体质谱法测定二氧化铀中杂质的标准试验方法
- ASTM C1287-18 通过电感耦合等离子体质谱法测定核级铀化合物杂质的标准测试方法
- ASTM C1287-10 感应耦合等离子体质谱法测定核级铀化合物中杂质的标准试验方法
