ZH
EN
JP
ES
RU
DE

질량분석법 불순물

모두 17항목의 질량분석법 불순물와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 질량분석법 불순물와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 비철금속, 금속 재료 테스트, 분석 화학, 식용유지, 유지종자, 반도체 소재, 원자력공학, 유기화학.

RU-GOST R, 질량분석법 불순물

GOST R 57061-2016 구리 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 이용한 구리 불순물 질량 분율 측정
GOST R 57060-2016 구리 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법을 이용한 구리의 불순물 질량 분율 측정
GOST 2706.2-1974 벤젠 방향족 탄화수소벤젠, 톨루엔, 자일렌의 기본 물질과 벤젠의 불순물에 대한 크로마토그래피 측정
GOST R 56240-2014 구리 불순물의 스펙트럼 분석 방법

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 질량분석법 불순물

YS/T 244.9-2008 고순도 알루미늄의 화학적 분석 방법 9부: 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 통한 불순물 함량 측정
YS/T 34.1-2011 고순도 비소의 화학적 분석방법 유도결합플라즈마질량분석기(ICP-MS)를 이용한 고순도 비소의 불순물 함량 측정

International Organization for Standardization (ISO), 질량분석법 불순물

ISO 14237:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 균일한 도핑 종을 사용하여 실리콘 내 붕소 원자 농도 측정
ISO 14237:2000 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 균일한 도핑 종을 사용하여 실리콘 내 붕소 원자 농도 측정

Association Francaise de Normalisation, 질량분석법 불순물

NF X21-070*NF ISO 14237:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 균일한 도핑 종을 사용하여 실리콘 내 붕소 원자 농도 측정

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 질량분석법 불순물

GB/T 20176-2006 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 균일한 도핑 종을 사용하여 실리콘 내 붕소 원자 농도 측정
GB/T 24582-2009 산성 침출 유도 결합 플라즈마 질량 분석기를 사용하여 다결정 실리콘 표면의 금속 불순물을 측정합니다.

British Standards Institution (BSI), 질량분석법 불순물

BS ISO 14237:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 균일한 도핑 종을 사용하여 실리콘 내 붕소 원자 농도 측정

Group Standards of the People's Republic of China, 질량분석법 불순물

T/GAIA 007.1-2021 오일 및 지방의 외인성 불순물 측정 1부: 난치성 외인성 불순물 측정 액체 크로마토그래피-탠덤 질량분석법

GOSTR, 질량분석법 불순물

PNST 499-2020 화학 원소 불순물 측정을 위한 나노기술 소형 탄소 나노튜브 유도 결합 플라즈마 질량 분석법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 질량분석법 불순물

ASTM C1287-95(2001) 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 이용한 이산화우라늄의 불순물 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM C1287-18 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 이용한 핵 등급 우라늄 화합물의 불순물 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM C1287-10 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 이용한 핵급 우라늄 화합물의 불순물 측정을 위한 표준 테스트 방법

©2007-2024 저작권 소유