Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

Für die Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop gibt es insgesamt 45 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop die folgenden Kategorien: Physik Chemie, analytische Chemie, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Thermodynamik und Temperaturmessung, Längen- und Winkelmessungen, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Optik und optische Messungen, Kernenergietechnik, Keramik, Gefahrgutschutz.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

GB/T 32262-2015 Vorbereitung einer Desoxyribonukleinsäureprobe für die Rasterkraftmikroskopmessung

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

SPB-M6-3-2010 08.04.: Rasterkraftmikroskopie (Hintergrund zur Technik)
SPB-M2-1-2007 Mittels Rasterkraftmikroskopie untersuchte Grenzflächen- und rheologische Eigenschaften von Asphaltenen.
SPB-M6-1-2010 08.04.: Grenzflächen- und rheologische Eigenschaften von Asphaltenen mittels AFM untersucht
SPB-M14-1-2010 10. September: Wechselwirkungen und rheologische Eigenschaften von Asphaltenen, untersucht durch Rasterkraftmikroskopie
SPB-M6-2-2010 08. Apr.: Kolloidale Wechselwirkungen zwischen Asphalten und verschiedenen Oberflächen, gemessen durch Rasterkraftmikroskopie (AFM)

International Organization for Standardization (ISO), Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird
ISO/DIS 19606:2023 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungskeramik) – Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit feiner Keramikfilme mittels Rasterkraftmikroskopie

British Standards Institution (BSI), Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

BS ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
21/30412880 DC BS ISO 23729. Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
BS ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird
23/30461942 DC BS ISO 19606. Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungskeramik). Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit feiner Keramikfilme mittels Rasterkraftmikroskopie

Group Standards of the People's Republic of China, Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

T/CSTM 00003-2019 Dickenmessungen zweidimensionaler Materialien Rasterkraftmikroskopie (AFM)
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/GDASE 0008-2020 Bestimmung des Elastizitätsmoduls von Graphenfilmen

American Society for Testing and Materials (ASTM), Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

ASTM E2859-11(2017) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E285-08(2015) Standardtestmethode für die Oxyacetylen-Ablationsprüfung von Wärmedämmmaterialien
ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2859-11(2023) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2859-11 Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2530-06 Standardpraxis zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung von einatomigen Si(111)-Schritten
ASTM D6480-05(2010) Standardtestmethode für Wischproben von Oberflächen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie
ASTM D6480-99 Standardtestmethode für Wischproben von Oberflächen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie
ASTM D6480-05 Standardtestmethode für Wischproben von Oberflächen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie

German Institute for Standardization, Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

GB/T 28872-2012 Testmethode eines magnetischen Rasterkraftmikroskops mit leichtem Schlagmodus für die Nanotopographie lebender Zellen
GB/T 31227-2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop für gesputterte Dünnfilme
GB/T 32189-2015 Rasterkraftmikroskopische Untersuchung der Oberflächenrauheit von Galliumnitrid-Einkristallsubstraten
GB/T 27760-2011 Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

GB/T 40066-2021 Nanotechnologien – Dickenmessung von Graphenoxid – Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Professional Standard - Nuclear Industry, Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

EJ/T 20176-2018 Rasterkraftmikroskop-Messmethode zur Kantenschärfe von Diamantwerkzeugen

RU-GOST R, Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

GOST 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.635-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Kalibrierung
GOST R 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.700-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Methode zur Messung der effektiven Höhe der Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

JIS R 1683:2007 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie
JIS R 1683:2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie
JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung

International Electrotechnical Commission (IEC), Probenvorbereitung im Rasterkraftmikroskop

IEC TS 62607-6-2:2023 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-2: Graphen – Anzahl der Schichten: Rasterkraftmikroskopie, optische Transmission, Raman-Spektroskopie