Mikrowellenhohlraum

Für die Mikrowellenhohlraum gibt es insgesamt 325 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Mikrowellenhohlraum die folgenden Kategorien: Umfangreiche elektronische Komponenten, Teile und Zubehör für Telekommunikationsgeräte, Elektronenröhre, magnetische Materialien, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Zahnheilkunde, Komponenten elektrischer Geräte, Diskrete Halbleitergeräte, analytische Chemie, Terminologie (Grundsätze und Koordination), Isolierflüssigkeit, Wortschatz, Isoliermaterialien, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Verpackungsmaterialien und Hilfsstoffe, Gleichrichter, Wandler, geregelte Netzteile, Leitermaterial, Ausrüstung für die Öl- und Gasindustrie, Kraftwerk umfassend, Prüfung von Metallmaterialien, Wasserqualität, Fluidkraftsystem, Abfall, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Ventil, Elektrische und elektronische Prüfung, Strahlungsmessung, Geologie, Meteorologie, Hydrologie, Elektrotechnik umfassend.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Mikrowellenhohlraum

GJB 8513-2015 Allgemeine Spezifikation für Hohlraumfilter
GJB 9150-2017 Verfahren zum Testen der Mikrowellenparameter für Mikrowellen-Leistungstransistoren
GJB 3158-1998 Allgemeine Spezifikation für massive akustische Mikrowellen-Verzögerungsleitungen
GJB 2276-1995 Spezifikation für Mikrowellenabsorber für Hohlleiter-Ersatzlasten
GJB 1933-1994 Allgemeine Spezifikation für Mikrowellen-Ferritschalter
GJB 1933A-2011 Allgemeine Spezifikation für Mikrowellen-Ferritschalter
GJB 3235-1998 Allgemeine Spezifikation für Mikrowellen-Ferrit-Phasenschieber
GJB 3235A-2011 Allgemeine Spezifikation für Mikrowellen-Ferrit-Phasenschieber
GJB 3492-1998 Allgemeine Spezifikationen für Mikrowellen-Festkörper-Leistungsverstärker
GJB 9340-2018 Satelliten-Mikrowellen-Bildgebungssystem, Satelliten-Boden-Integrationsindexsystem
GJB 1557-1992 Abmessungen von diskreten Halbleiterbauelementen für Mikrowellendioden
GJB 1557A-2021 Abmessungen von diskreten Halbleiterbauelementen für Mikrowellendioden
GJB/Z 41.1-1993 Militärische Halbleiter-Mikrowellendioden der diskreten Geräteserie
GJB 33/24-2021 Detaillierte Spezifikation für den Silizium-Feldeffekt-Mikrowellenimpuls-Leistungstransistor CS0406-10
GJB 33/25-2021 Detaillierte Spezifikation für den Silizium-Feldeffekt-Mikrowellenimpuls-Leistungstransistor CS0406-350

Professional Standard - Electron, Mikrowellenhohlraum

SJ/T 10143-1991 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – integrierte Halbleiterschaltungen – CT54LS112/CT74LS112 Dual-JK-Flip-Flop mit negativer Flanke
SJ 1626-1980 Ferrit-Isolatoren und -Zirkulatoren (Wellenleiter) für Anwendungen bei Mikrowellenfrequenzen
SJ 1725-1981 Gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren, Typ RX-61
SJ 980-1975 Gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren, Typ RX-21
SJ 1724-1981 Gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren, Typ RX-56
SJ 1726-1981 Gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren, Typ RX-109
SJ 2008-1982 Gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren, Typ RX-5
SJ 2244-1982 Gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren, Typ RX-54
SJ 2245-1982 Gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren, Typ RX-7
SJ 2009-1982 Gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren, Typ RX-49
SJ 1723-1981 Gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren, Typ RX-32
SJ/T 11077-1996 Richtlinien für die Erstellung von Spezifikationen für Mikrowellenferrite
SJ 343-1973 Allgemeine Spezifikation für gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren
SJ 2246-1982 Gasgefüllte Mikrowellen-Schaltröhren, Typ RX-202, RX-203
SJ/T 11263-2002 Abschnittsspezifikation für permanente Ferritmagnete für Mikrowellen-Magnetrons
SJ 20514-1995 Spezifikation für Silizium-Epitaxie-Wafer für Mikrowellen-Leistungstransistoren
SJ 50033.48-1994 Diskretes Halbleiterbauelement. Detaillierte Spezifikation für die Silizium-Mikrowellendetektordiode Typ 2DV8CP
SJ 1625-1980 Ferrit-Isolatoren und Zirkulatoren (koaxial) für Anwendungen bei Mikrowellenfrequenzen
SJ 2915-1988 Begriffe und Definitionen für Einkristall-Mikrowellenferritgeräte
SJ 2405-1983 Allgemeine Spezifikation für einen Ferritschalter vom Haltetyp, der für Anwendungen bei Mikrowellenfrequenzen vorgesehen ist
SJ 50033/77-1995 Diskrete Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Leistungstransistor Typ 3DA331
SJ 50033/74-1995 Diskrete Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Leistungstransistor Typ 3DA325
SJ 50033/155-2002 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für Silizium-Mikrowellenlinearitätstransistor Typ 3DG252
SJ/T 11414-2010 Abmessungen und Toleranzen von Permanentmagnetferriten für Mikrowellen-Magnetrons
SJ 50033/76-1995 Diskrete Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für den rauscharmen Silizium-Mikrowellentransistor Typ 3DG218
SJ 20155-1992 Allgemeine Spezifikation für Hochfrequenzstrahlungsabsorber (Mikrowellen absorbierendes Material)
SJ 1624-1980 Allgemeine Spezifikation für Ferritisolatoren und -zirkulatoren für Anwendungen im Mikrowellenbereich
SJ/T 10214-1991 Messmethode für die Permeabilität von Mikrowellenferritmaterialien im entmagnetisierten Zustand
SJ 50033/170-2007 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA516
SJ 50033/171-2007 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA518
SJ 50033/172-2007 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA519
SJ 50033/173-2007 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA520
SJ 50033/176-2007 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA523
SJ 50033/169-2004 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für Silizium-Mikrowellenpol-Leistungstransistor Typ 3DA510
SJ 50033/168-2004 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA509
SJ 50033/166-2004 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA507
SJ 50033/174-2007 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA521
SJ 50033/156-2002 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA505
SJ 50033/167-2004 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA508
SJ 50033/175-2007 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA522
SJ 50033/145-2000 Diskrete Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA503
SJ 50033/157-2002 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA506
SJ 2748-1987 Blanko-Detailspezifikation für rauscharme Single-Gate-Mikrowellen-FETs
SJ 50033/140-1999 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den Silizium-Mikrowellen-Puls-Leistungstransistor Typ 3DA502
SJ 50033/42-1994 Diskretes Halbleiterbauelement. Detaillierte Spezifikation für GaAs-Mikrowellen-FET vom Typ CSO467
SJ 50033/78-1995 Diskrete Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für den GaAs-Mikrowellen-FET Typ CS0464
SJ 50033/153-2002 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für Mikrowellenschaltdiode Typ 2CK141
SJ 50033/152-2002 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für Mikrowellenschaltdiode Typ 2CK140
SJ 50033/79-1995 Diskrete Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für GaAs-Mikrowellen-Leistungs-FET vom Typ CS0536
SJ 50033/120-1997 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den GaAs-Mikrowellen-Leistungs-Feldeffekttransistor Typ CS205
SJ 50033.51-1994 Diskrete Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für GaAs-Mikrowellen-Dual-Gate-FET vom Typ CS0558
SJ 50033.52-1994 Diskretes Halbleiterbauelement. Detaillierte Spezifikation für den GaAs-Mikrowellen-Leistungs-Feldeffekttransistor Typ CS0529
SJ 50033.54-1994 Diskretes Halbleiterbauelement. Detaillierte Spezifikation für den GaAs-Mikrowellen-Leistungs-Feldeffekttransistor Typ CS0532
SJ 50033/119-1997 Diskrete Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für den GaAs-Mikrowellen-Leistungs-Feldeffekttransistor Typ CS204
SJ 50033/81-1995 Diskrete Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für GaAs-Mikrowellen-Leistungs-FET vom Typ CS0524
SJ 50033/80-1995 Diskrete Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für GaAs-Mikrowellen-Leistungs-FET vom Typ CS0513
SJ 50033.53-1994 Diskretes Halbleiterbauelement. Detaillierte Spezifikation für den GaAs-Mikrowellen-Leistungs-Feldeffekttransistor Typ CS0530 und CS0531
SJ 50033/106-1996 Diskretes Halbleiterbauelement. Detaillierte Spezifikation für GaAs-Mikrowellen-Feldeffekttransistor vom Typ CS203 mit geringem Rauschen
SJ 20512-1995 Prüfverfahren für die Permittivität und Permeabilität von Feststoffmaterialien mit hohem Mikrowellenverlust

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Mikrowellenhohlraum

GB 7265.2-1987 Testmethode für die komplexe Mikrowellen-Permittivität von festem Dielektrikum „Open-Cavity“-Methode
GB/T 42836-2023 Integrierter Mikrowellen-Halbleiterschaltungsmischer
GB/T 42837-2023 Mikrowellen-Halbleiter-IC-Verstärker
GB/T 21039.1-2007 Halbleiterbauelemente Diskrete Bauelemente Teil 4-1: Mikrowellendioden und -transistoren – Mikrowellen-Feldeffekttransistoren Vordruck für Detailspezifikation
GB/T 5832.3-2011 Bestimmung der Feuchtigkeit in Gasen. Teil 3: Die Methode der Cavity Ring-Down-Spektroskopie
GB 7265.1-87 Testmethode für die komplexe Permittivität fester dielektrischer Materialien bei Mikrowellenfrequenzen – Störungsmethode
GB 7265.1-1987 Testmethode für die komplexe Mikrowellenpermittivität der dielektrischen Störungsmethode für Feststoffe
GB/T 19404-2003 Mikrowellen-Ferritkomponenten – Methoden zur Messung wichtiger Eigenschaften
GB/T 5597-1999 Prüfverfahren für die komplexe Permittivität fester dielektrischer Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
GB/T 20516-2006 Halbleiterbauelemente. diskrete Geräte. Teil 4: Mikrowellengeräte
GB/T 20870.1-2007 Halbleiterbauelemente Teil 16-1 Integrierte Mikrowellenschaltungen Verstärker
GB/T 20870.5-2023 Halbleiterbauelemente Teil 16-5: Oszillatoren für integrierte Mikrowellenschaltungen
GB/T 20870.2-2023 Halbleiterbauelemente Teil 16-2: Vorskalierer für integrierte Mikrowellenschaltungen
GB/T 16481-1996 Standardspektrumtabellen des Mikrowellenplasmabrenner-Atomemissionsspektrums seltener Erden
GB/T 42709.7-2023 Halbleiterbauelemente, mikroelektromechanische Bauelemente, Teil 7: MEMS-Volumenwellenfilter und -Duplexer zur Hochfrequenzsteuerung und -auswahl
GB/T 20870.10-2023 Halbleiterbauelemente Teil 16-10: Akzeptable Verfahren für die Technologie monolithischer mikrowellenintegrierter Schaltkreise

PL-PKN, Mikrowellenhohlraum

PN T06561-1971 Mikrowellenmessgeräte Hohlraumwellenmessgerät Allgemeine Anforderungen und Prüfungen

Group Standards of the People's Republic of China, Mikrowellenhohlraum

T/CSTM 00751-2022 Messung der dielektrischen Eigenschaften von dielektrischen Festkörpermaterialien im Mikrowellenfrequenzbereich – Die Closed-Cavity-Methode
T/BEA 40002-2022 Kalibrierungsspezifikation für Mikrowellen-ECR-Plasmagenerator
T/CNFIA 166-2023 Mikrowellengeeignete aseptische Verbundverpackung auf Papierbasis für flüssige Lebensmittel
T/CAB 0154-2022 Mikrowellengeeignetes laminiertes Material auf Papierbasis für die aseptische Verpackung flüssiger Lebensmittel
T/GVS 006-2022 Verfahren zur Messung der Ausgangsabweichungsstabilität für Halbleiter-HF-Stromversorgungen und Mikrowellen-Stromversorgungen

Professional Standard - Aerospace, Mikrowellenhohlraum

QJ 2617-1994 Abnahmespezifikation für das Gehäuse eines Mikrowellen-Feldeffekttransistors (Mikrowellen-FET).
QJ 2300-1992 Typenspektrum von Mikrowellenferritmaterialien und Geräteserien

IET - Institution of Engineering and Technology, Mikrowellenhohlraum

FERR MICROW FREQ-1987 Ferrite bei Mikrowellenfrequenzen
MICROW FLD-EFFE TRANSIS-1994 Mikrowellen-Feldeffekttransistoren: Theorie@Design und Anwendungen
RF MICROW MDL MEAS TECHNQ FLD EFFT TRANSIS-2010 HF- und Mikrowellenmodellierungs- und Messtechniken für Feldeffekttransistoren

AENOR, Mikrowellenhohlraum

UNE 20585:1977 LEITFADEN FÜR DIE ERSTELLUNG VON SPEZIFIKATIONEN FÜR MIKROWELLENFERRITE
UNE-ISO 13689:2005 Gekühlte leichte Kohlenwasserstoffflüssigkeiten – Messung von Flüssigkeitsständen in Tanks, die verflüssigte Gase enthalten – Mikrowellen-Füllstandsmessgerät.

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikrowellenhohlraum

DB22/T 2532-2016 Vorgehensweise beim Einsatz von Minischraubenimplantaten in der kieferorthopädischen Behandlung

Association Francaise de Normalisation, Mikrowellenhohlraum

NF C93-327*NF EN 61609:2000 Mikrowellen-Ferrit-Komponenten – Leitfaden für die Erstellung von Spezifikationen
NF C93-350*NF EN 61830:2000 Mikrowellen-Ferrit-Komponenten – Messmethoden für wichtige Eigenschaften
NF EN 61830:2000 Ferritbauteile für Mikrowellen – Methoden zur Messung der wichtigsten Eigenschaften
NF C96-016-4*NF EN 60747-16-4:2004 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
NF C96-016-4/A1*NF EN 60747-16-4/A1:2012 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
NF C96-832:1981 Halbleiter. Mikrowellendioden. Schottky-Dioden. Allgemeine Anforderungen.
NF C96-016-4/A2*NF EN 60747-16-4/A2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
NF EN 60747-16-4/A1:2012 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
NF EN 60747-16-4:2004 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
NF EN 60747-16-4/A2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
NF C96-016-3*NF EN 60747-16-3:2003 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler.
NF C96-016-5*NF EN 60747-16-5:2014 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
NF C96-016-1*NF EN 60747-16-1:2003 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
NF C96-016-1/A1*NF EN 60747-16-1/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
NF C96-016-1/A2*NF EN 60747-16-1/A2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
NF EN IEC 60747-16-8:2023 Halbleiterbauelemente – Teil 16-8: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Begrenzer
NF EN 60747-16-1/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
NF EN 60747-16-1:2003 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
NF EN IEC 60747-16-6:2019 Halbleitergeräte - Teil 16-6: Integrierte Hyperfrequenzschaltungen - Frequenzmultiplikatoren
NF EN 60747-16-5/A1:2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
NF EN 60747-16-1/A2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
NF EN IEC 60747-16-7:2023 Halbleiterbauelemente – Teil 16-7: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Dämpfungsglieder
NF EN 60747-16-5:2014 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
XP ISO/TS 24137:2023 Gleitlager – Modifizierung der Oberfläche durch Druckfixierung von Festschmierstoffen kombiniert mit Mikrokavitätsbehandlung
NF C96-016-3/A1*NF EN 60747-16-3/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
NF EN 60747-16-3/A2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
NF EN 60747-16-3/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
NF EN 60747-16-3:2003 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
NF EN 60835-2-10:1993 Messmethoden für Geräte, die für digitale Mikrowellenübertragungssysteme verwendet werden – Teil 2: Messungen für terrestrische Richtfunksysteme – Abschnitt zehn – Gesamtsystemleistung.
NF ISO 11350:2012 Wasserqualität - Bewertung der Genotoxizität von Abwasser - Salmonellen-/Mikrosomentest (Ames-Fluktuationstest)
NF C96-016-10*NF EN 60747-16-10:2005 Halbleiterbauelemente – Teil 16-10: Technologiegenehmigungsplan (TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltungen
NF C31-888-7*NF EN IEC 61788-7:2020 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
NF C31-888-7*NF EN 61788-7:2006 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen

International Electrotechnical Commission (IEC), Mikrowellenhohlraum

IEC 61609:1996 Mikrowellen-Ferrit-Komponenten – Leitfaden für die Erstellung von Spezifikationen
IEC 60392:1972 Leitfaden zur Erstellung von Spezifikationen für Mikrowellenferrite
IEC 60747-4-1:2000 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4-1: Mikrowellendioden und -transistoren; Mikrowellen-Feldeffekttransistoren; Leere Detailspezifikation
IEC 60747-4-2:2000 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4-2: Mikrowellendioden und -transistoren – Integrierte Mikrowellenverstärker – Vordruck für Bauartspezifikationen
IEC 61830:1997 Mikrowellen-Ferrit-Komponenten – Messmethoden für wichtige Eigenschaften
IEC 60747-4:2001 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4: Mikrowellenbauelemente
IEC 60747-4:2007 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren
IEC 60747-4:2007+AMD1:2017 CSV Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren
IEC 60747-4:1991 Halbleiterbauelemente; diskrete Geräte; Teil 4: Mikrowellendioden und Transistoren
IEC 60747-16-4:2004/AMD2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
IEC 60747-16-4:2011 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
IEC 60747-16-4:2004 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
IEC 60747-16-4:2004+AMD1:2009+AMD2:2017 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
IEC 60747-16-4:2004+AMD1:2009 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
IEC 60747-16-7:2022 Halbleiterbauelemente – Teil 16-7: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Dämpfungsglieder
IEC 60747-16-1:2001/AMD1:2007 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
IEC 60747-16-1:2007 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
IEC 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
IEC 60747-16-3:2002+AMD1:2009+AMD2:2017 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
IEC 60747-16-1:2001+AMD1:2007 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
IEC 60747-16-1:2001+AMD1:2007+AMD2:2017 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
IEC 60747-16-3:2002+AMD1:2009 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
IEC 60747-16-6:2019 Halbleiterbauelemente – Teil 16-6: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzvervielfacher
IEC 60747-16-5:2013+AMD1:2020 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
IEC 60747-16-8:2022 Halbleiterbauelemente – Teil 16-8: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Begrenzer
IEC 60747-16-1:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
IEC 60747-16-3:2010 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
IEC 60747-4/AMD2:1999 Halbleiterbauelemente - Diskrete Bauelemente - Teil 4: Mikrowellenbauelemente; Änderung 2
IEC 60747-4/AMD1:1993 Halbleiterbauelemente; diskrete Geräte; Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren; Änderung 1
IEC 60747-16-3:2002 Halbleiterbauelemente - Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen; Frequenzumrichter
IEC 60747-4:2007/AMD1:2017 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren
IEC 60747-16-2:2001 Halbleiterbauelemente - Teil 16-2: Integrierte Mikrowellenschaltungen; Frequenzvorteiler
IEC 60747-16-4:2004/AMD1:2009 Änderung 1 – Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
IEC 60747-16-2:2001/AMD1:2007 Halbleiterbauelemente - Teil 16-2: Integrierte Mikrowellenschaltungen - Frequenzvorteiler; Änderung 1
IEC 60747-16-2:2001+AMD1:2007 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-2: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzvorteiler
IEC 60747-16-2:2008 Halbleiterbauelemente – Teil 16-2: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzvorteiler
IEC 60747-16-3:2002/AMD2:2017 Änderung 2 – Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
IEC 60747-16-1:2001/AMD2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 Änderung 1 – Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020/COR1:2020 Berichtigung 1 – Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
IEC 61788-7:2002 Supraleitung - Teil 7: Elektronische Kennlinienmessungen; Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
IEC 60747-16-3:2002/AMD1:2009 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler; Änderung 1
IEC 61788-7:2006 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen

Danish Standards Foundation, Mikrowellenhohlraum

DS/EN 61609:1999 Mikrowellen-Ferrit-Komponenten – Leitfaden für die Erstellung von Spezifikationen
DS/EN 61830:1998 Mikrowellen-Ferrit-Komponenten – Messmethoden für wichtige Eigenschaften
DS/EN 60747-16-4/A1:2011 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
DS/EN 60747-16-4:2004 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
DS/EN 60747-16-1/A1:2007 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
DS/EN 60747-16-1:2002 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
DS/EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
DS/EN 60747-16-3/A1:2009 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
DS/EN 60747-16-3:2002 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
DS/ISO 11350:2012 Wasserqualität - Bestimmung der Genotoxizität von Wasser und Abwasser - Salmonellen-/Mikrosomen-Schwankungstest (Ames-Schwankungstest)
DS/EN 61788-7:2007 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen

German Institute for Standardization, Mikrowellenhohlraum

DIN EN 61609:1999 Mikrowellen-Ferritkomponenten – Leitfaden für die Ausarbeitung von Spezifikationen (IEC 61609:1996); Deutsche Fassung EN 61609:1999
DIN EN 61830:1998 Mikrowellen-Ferritkomponenten – Messverfahren für wichtige Eigenschaften (IEC 61830:1997); Deutsche Fassung EN 61830:1998
DIN EN 61830:1998-10 Mikrowellen-Ferritkomponenten – Messverfahren für wichtige Eigenschaften (IEC 61830:1997); Deutsche Fassung EN 61830:1998
DIN EN 61609:1999-12 Mikrowellen-Ferritkomponenten – Leitfaden für die Ausarbeitung von Spezifikationen (IEC 61609:1996); Deutsche Fassung EN 61609:1999
DIN EN 60747-16-4:2018-04 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter (IEC 60747-16-4:2004 + A1:2009 + A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-4:2004 + A1:2011 + A2:2017 / Hinweis: DIN EN 60747-16-4 (2011-08) bleibt neben dieser Norm gültig bis...
DIN EN 60747-16-1:2007 Halbleiterbauelemente - Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen - Verstärker (IEC 60747-16-1:2001 + A1:2007); Deutsche Fassung EN 60747-16-1:2002 + A1:2007
DIN EN 60747-16-5:2021-08 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (IEC 60747-16-5:2013 + A1:2020 + COR1:2020); Deutsche Fassung EN 60747-16-5:2013 + A1:2020 / Hinweis: DIN EN 60747-16-5 (2014-04) bleibt neben dieser Norm bis 2023 gültig...
DIN EN IEC 60747-16-6:2021-08 Halbleiterbauelemente - Teil 16-6: Integrierte Mikrowellenschaltungen - Frequenzvervielfacher (IEC 60747-16-6:2019); Deutsche Fassung EN IEC 60747-16-6:2019
DIN EN 60747-16-1:2017-10 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker (IEC 60747-16-1:2001 – A1:2007 – A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-1:2002 + A1:2007 + A2:2017 / Hinweis: DIN EN 60747-16-1 (2007-10) bleibt neben dieser Norm bis... gültig.
DIN EN 60747-16-3:2018-04 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017 / Hinweis: DIN EN 60747-16-3 (2009-11) bleibt neben dieser Fassung weiterhin gültig...
DIN EN IEC 60747-16-9:2022 Halbleiterbauelemente – Teil 16-9: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Phasenschieber (IEC 47E/768/CD:2021); Text in Deutsch und Englisch
DIN EN 60747-16-5/A1:2019 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (IEC 47E/649/CD:2019); Text in Deutsch und Englisch
DIN EN IEC 60747-16-7:2021-07 Halbleiterbauelemente – Teil 16-7: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Dämpfungsglieder (IEC 47E/734/CD:2020); Text in Englisch / Hinweis: Ausgabedatum 2021-06-04
DIN EN IEC 60747-16-9:2022-06 Halbleiterbauelemente – Teil 16-9: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Phasenschieber (IEC 47E/768/CD:2021); Text in Deutsch und Englisch / Hinweis: Ausgabedatum 27.05.2022
DIN EN IEC 60747-16-8:2021-07 Halbleiterbauelemente – Teil 16-8: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Begrenzer (IEC 47E/735/CD:2020); Text in Englisch / Hinweis: Ausgabedatum 2021-06-04
DIN EN 60747-16-10:2005 Halbleiterbauelemente – Teil 16-10: Technology Approval Schedule (TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltungen (IEC 60747-16-10:2004); Deutsche Fassung EN 60747-16-10:2004

British Standards Institution (BSI), Mikrowellenhohlraum

BS EN 60747-16-4:2004+A2:2017 Halbleiterbauelemente – Integrierte Mikrowellenschaltungen. Schalter
BS EN 61609:1999 Mikrowellen-Ferritkomponenten. Leitfaden für die Erstellung von Spezifikationen
BS EN 60747-16-4:2004+A1:2011 Halbleiterbauelemente. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Schalter
BS EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Oszillatoren
BS EN IEC 60747-16-6:2019 Halbleiterbauelemente. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Frequenzvervielfacher
BS EN 60747-16-1:2002+A2:2017 Halbleiterbauelemente – Integrierte Mikrowellenschaltungen. Verstärker
BS EN 60747-16-3:2002+A2:2017 Halbleiterbauelemente – Integrierte Mikrowellenschaltungen. Frequenzumrichter
BS EN 60747-16-5:2013+A1:2020 Halbleiterbauelemente – Integrierte Mikrowellenschaltungen. Oszillatoren
BS EN 60747-16-1:2002+A1:2007 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker
BS IEC 60747-4:2008 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Mikrowellendioden und -transistoren
BS IEC 60747-4:2007+A1:2017 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte – Mikrowellendioden und -transistoren
BS EN 60747-16-4:2004 Diskrete Halbleiterbauelemente – Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter
BS EN 61830:1998 Mikrowellen-Ferritkomponenten. Messmethoden für wichtige Eigenschaften
BS IEC 60747-16-2:2001 Halbleiterbauelemente. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Frequenzvorteiler
BS EN 60747-16-3:2002+A1:2009 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
BS EN 60747-16-3:2002 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Integrierte Mikrowellenschaltkreise – Frequenzwandler
BS EN 60747-16-10:2004 Halbleiterbauelemente – Technology Approval Schedule (TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltungen
BS EN 61788-7:2002 Supraleitung – Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN 61788-7:2007 Supraleitung – Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN 60747-16-1:2002 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Integrierte Mikrowellenschaltkreise – Verstärker
BS EN IEC 61788-7:2020 Supraleitung – Elektronische Kennlinienmessungen. Oberflächenwiderstand von Hochtemperatursupraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
21/30436870 DC BS IEC 60747-16-9. Halbleiterbauelemente – Teil 16-9. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Phasenschieber
20/30414411 DC BS EN 60747-16-7. Halbleiterbauelemente. Teil 16-7. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Dämpfungsglieder
20/30414415 DC BS EN 60747-16-8. Halbleiterbauelemente. Teil 16-8. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Begrenzer
20/30431960 DC BS EN 60747-16-8. Halbleiterbauelemente. Teil 16-8. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Begrenzer
BS EN 61788-16:2013 Supraleitung. Elektronische Kennlinienmessungen. Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN 61788-15:2011 Supraleitung. Elektronische Kennlinienmessungen. Intrinsische Oberflächenimpedanz supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN 61788-7:2006 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
20/30431959 DC BS EN IEC 60747-16-7. Halbleiterbauelemente. Teil 16-7. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Dämpfungsglieder
19/30393894 DC BS EN 60747-16-5 AMD1. Halbleiterbauelemente. Teil 16-5. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Oszillatoren
23/30472390 DC BS EN 60747-16-11 Halbleiterbauelemente – Teil 16-11. Integrierte Mikrowellenschaltungen – Leistungsdetektoren

ES-UNE, Mikrowellenhohlraum

UNE-EN 61609:1999 MIKROWELLEN-FERRIT-KOMPONENTEN. LEITFADEN FÜR DIE ERSTELLUNG VON SPEZIFIKATIONEN (Von AENOR im Juni 1999 gebilligt.)
UNE-EN 61830:1998 MIKROWELLEN-FERRIT-KOMPONENTEN. MESSMETHODEN FÜR GROSSIMMOBILIEN. (Von AENOR im Juni 1998 bestätigt.)
UNE-EN 60747-16-4:2004 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter (Befürwortet von AENOR im November 2004.)
UNE-EN 60747-16-4:2004/A1:2011 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter (Befürwortet von AENOR im April 2011.)
UNE-EN 60747-16-4:2004/A2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Dezember 2017.)
UNE-EN 60747-16-1:2002 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker (Befürwortet von AENOR im Juli 2002.)
UNE-EN IEC 60747-16-7:2023 Halbleiterbauelemente – Teil 16-7: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Dämpfungsglieder (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2023.)
UNE-EN IEC 60747-16-8:2023 Halbleiterbauelemente – Teil 16-8: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Begrenzer (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2023.)
UNE-EN 60747-16-5:2013/A1:2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
UNE-EN IEC 60747-16-6:2019 Halbleiterbauelemente – Teil 16-6: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzvervielfacher (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Oktober 2019.)
UNE-EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (Befürwortet von AENOR im Oktober 2013.)
UNE-EN 60747-16-3:2002 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler. (Von AENOR im Dezember 2002 gebilligt.)
UNE-EN 60747-16-3:2002/A1:2009 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler (Genehmigt von AENOR im Juli 2009.)
UNE-EN 60747-16-3:2002/A2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Januar 2018.)
UNE-EN 60747-16-1:2002/A1:2007 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker (IEC 60747-16-1:2001/A1:2007). (Von AENOR im Mai 2007 gebilligt.)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Mikrowellenhohlraum

KS C IEC 60747-4-1-2002(2017) Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4 – 1: Mikrowellendioden und -transistoren – Mikrowellen-Feldeffekttransistoren – Blanko-Bauartspezifikation
KS C IEC 60747-4-1:2002 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4 – 1: Mikrowellendioden und -transistoren – Mikrowellen-Feldeffekttransistoren – Blanko-Bauartspezifikation
KS C 2123-1997(2002) MESSVERFAHREN FÜR FERRITKERNE FÜR MIKROWELLENGERÄTE
KS C 2123-1982 MESSVERFAHREN FÜR FERRITKERNE FÜR MIKROWELLENGERÄTE
KS C 6111-5-2008(2018) Messungen der Dicke supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
KS C IEC 60747-4-2-2002(2022) Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4 – 2: Mikrowellendioden und -transistoren – Mikrowellenverstärker mit integriertem Schaltkreis – Blanko-Bauartspezifikation
KS C IEC 60747-4-2-2002(2017) Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4 – 2: Mikrowellendioden und -transistoren – Mikrowellenverstärker mit integriertem Schaltkreis – Blanko-Bauartspezifikation
KS C IEC 60747-4:2006 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren
KS C IEC 60747-4:2017 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren
KS C IEC 60747-4:2022 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren
KS C IEC 60747-4-2:2002 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4 – 2: Mikrowellendioden und -transistoren – Mikrowellenverstärker mit integriertem Schaltkreis – Blanko-Bauartspezifikation
KS C 6111-4-2007(2017) Homogenität des Oberflächenwiderstands großer Supraleiterfilme mit hohem Tc bei Mikrowellenfrequenzen
KS M ISO 13689-2003(2008) Gekühlte leichte Kohlenwasserstoffflüssigkeiten – Messung von Flüssigkeitsständen in Tanks, die verflüssigte Gase enthalten – Mikrowellen-Füllstandsmessgerät
KS C 6111-3-2007(2022) Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikrowellenhohlraum

DB44/T 1934-2016 Allgemeine Regeln für die Mikrowellen-Plasma-Emissionsspektroskopie

Professional Standard - Environmental Protection, Mikrowellenhohlraum

HJ 765-2015 Feststoffabfälle – Destillation organischer Verbindungen – Mikrowellenextraktion
HJ 702-2014 Fester Abfall – Bestimmung von Quecksilber, Arsen, Selen, Wismut, Antimon – Mikrowellenauflösung / Atomfluoreszenzspektrometrie

KR-KS, Mikrowellenhohlraum

KS C 6111-5-2008(2023) Messungen der Dicke supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
KS C IEC 60747-4-2017 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren
KS C IEC 60747-4-2022 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Mikrowellenhohlraum

QC 750115-2000 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 4-1: Mikrowellendioden und -transistoren – Mikrowellen-Feldeffekttransistoren – Blanko-Bauartspezifikation (IEC 60747-4-1:2000)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Mikrowellenhohlraum

GB/T 35679-2017 Messverfahren für elektromagnetische Parameter fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen mittels Hohlleiter
GB/T 22586-2018 Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
GB/T 35680-2017 Messverfahren für elektromagnetische Parameter flüssiger Materialien bei Mikrowellenfrequenzen unter Verwendung einer Koaxialsonde mit offenem Ende

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Mikrowellenhohlraum

EN 61609:1999 Leitfaden für Mikrowellen-Ferritkomponenten für die Ausarbeitung von Spezifikationen
EN 61830:1998 Messmethoden für Mikrowellenferritkomponenten für wichtige Eigenschaften
EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
EN 60747-16-5:2013/A1:2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
EN IEC 60747-16-6:2019 Halbleiterbauelemente – Teil 16-6: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzvervielfacher
EN 60747-16-4:2004 Halbleiterbauelemente Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter (Enthält Änderung A1: 2011)
EN 61788-7:2006 Supraleitung Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
EN 60747-16-3:2002 Halbleiterbauelemente Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler (Enthält Änderung A1: 2009)

Professional Standard - Radio Television Film, Mikrowellenhohlraum

GY/T 4-1982 Übertragungssystem für Mikrowellen-Relaisschaltungen für Rundfunk und Fernsehen

Lithuanian Standards Office , Mikrowellenhohlraum

LST EN 61609-2001 Mikrowellen-Ferritkomponenten. Leitfaden für die Erstellung von Spezifikationen (IEC 61609:1996)
LST EN 61830-2001 Mikrowellen-Ferritkomponenten. Messmethoden für wichtige Eigenschaften (IEC 61830:1997)
LST EN 60747-16-4-2004 Halbleiterbauelemente. Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen. Schalter (IEC 60747-16-4:2004)
LST EN 60747-16-3-2003 Halbleiterbauelemente. Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen. Frequenzumrichter (IEC 60747-16-3:2002)
LST EN 60747-16-1-2003 Halbleiterbauelemente. Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen. Verstärker (IEC 60747-16-1:2001)
LST EN 60747-16-4-2004/A1-2011 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter (IEC 60747-16-4:2004/A1:2009)
LST EN 60747-16-3-2003/A1-2009 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler (IEC 60747-16-3:2002/A1:2009)
LST EN 60747-16-1-2003/A1-2007 Halbleiterbauelemente – Teil 16-1: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Verstärker (IEC 60747-16-1:2001/A1:2007)
LST EN 60747-16-5/A1-2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (IEC 60747-16-5:2013/A1:2020)

American National Standards Institute （ANSI), Mikrowellenhohlraum

BS EN IEC 60747-16-7:2022 Halbleiterbauelemente Integrierte Mikrowellenschaltungen. Dämpfungsglieder (britischer Standard)
BS EN IEC 60747-16-8:2022 Halbleiterbauelemente Integrierte Mikrowellenschaltungen. Begrenzer (britischer Standard)

Defense Logistics Agency, Mikrowellenhohlraum

DLA MIL-DTL-28875 B SUPP 1-2006 VERSTÄRKER, HOCHFREQUENZ UND MIKROWELLE, FESTKÖRPER, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
DLA SMD-5962-90504 REV C-1997 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, BINÄRER FILTER UND TEMPLATE MATCHER, MONOLITHISCHES SILIKON

RO-ASRO, Mikrowellenhohlraum

STAS SR CEI 747-4-1995 Halbleiterbauelemente Diskrete Bauelemente Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren

未注明发布机构, Mikrowellenhohlraum

BS IEC 60747-4:2007+A1:2017(2020) Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren
BS ISO 13689:2001 Gekühlte leichte Kohlenwasserstoffflüssigkeiten – Messung von Flüssigkeitsständen in Tanks, die verflüssigte Gase enthalten – Mikrowellen-Füllstandsmessgerät

RU-GOST R, Mikrowellenhohlraum

GOST R 50730.2-1995 Mikrowellen-Ferritgeräte. Methoden zur Messung von Verlusten bei hoher Leistung
GOST R 50730.5-1995 Mikrowellen-Ferritgeräte. Methoden zur Messung des Spannungs-Stehwellenverhältnisses (VSWR) und des maximalen VSWR bei hoher Leistung
GOST R 50730.1-1995 Mikrowellen-Ferritgeräte. Allgemeine Anforderungen für die Messung von Parametern auf hohem Leistungsniveau
GOST R 50730.4-1995 Mikrowellen-Ferritgeräte. Methoden zur Messung der Phasenverschiebung bei hoher Leistung
GOST R 50730.3-1995 Mikrowellen-Ferritgeräte. Methoden zur Messung von Rückflussverlusten und Isolation bei hoher Leistung
GOST R 8.623-2006 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Relative dielektrische Permittivität und Verlustfaktor fester Dielektrika. Verfahren zur Messung bei Mikrowellenfrequenzen

Professional Standard - Electricity, Mikrowellenhohlraum

DL/T 1370-2014 Bestimmung der Elementzusammensetzung in Kalkstein Methode zur Bestimmung durch Mikrowellenaufschluss-induktiv gekoppelte Plasma-Atomemissionsspektrometrie (ICP-AES)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Mikrowellenhohlraum

ASTM D6010-96 Standardpraxis für die Mikrowellen-Lösungsmittelextraktion organischer Verbindungen aus festen Matrizen in geschlossenen Gefäßen
ASTM D5568-14 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen mithilfe eines Wellenleiters
ASTM D5568-22 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen mithilfe eines Wellenleiters

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Mikrowellenhohlraum

JIS B 8356-6:2011 Hydraulikflüssigkeitstechnik – Filter – Bewertung der Filterleistung – Teil 6: Filterelemente – Bestimmung des Widerstands gegen Strömungsermüdung unter Verwendung von Partikelverunreinigungen
JIS H 7307:2005 Supraleitung – Teil 7: Messungen der elektrischen Eigenschaften – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
JIS H 7307:2010 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikrowellenhohlraum

DB37/T 4542-2022 Bestimmung von sechswertigem Chrom in festen Abfällen durch Mikrowellenaufschluss-induktiv gekoppelte Plasmaemissionsspektrometrie

AT-OVE/ON, Mikrowellenhohlraum

OVE EN 60747-16-5-2021 Halbleiterbauelemente - Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen - Oszillatoren (deutsche Version)
OVE EN IEC 60747-16-7:2021 Halbleiterbauelemente – Teil 16-7: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Dämpfungsglieder (IEC 47E/757/CDV) (englische Version)

United States Navy, Mikrowellenhohlraum

NAVY MIL-PRF-81836 B SUPP 1-1998 FILTER UND EINWEGELEMENT, FLÜSSIGKEITSDRUCK, HYDRAULISCH, 3 MIKRON ABSOLUT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
NAVY MIL-PRF-81836 B-1998 FILTER UND EINWEGELEMENT, FLÜSSIGKEITSDRUCK, HYDRAULISCH, 3 MIKRON ABSOLUT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR

IEC - International Electrotechnical Commission, Mikrowellenhohlraum

IEC 60747-16-4:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Schalter (Ausgabe 1.2; Konsolidierter Nachdruck)

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Mikrowellenhohlraum

EN 61788-7:2002 Supraleitung Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen

International Organization for Standardization (ISO), Mikrowellenhohlraum

ISO 3724:2007 Hydraulikflüssigkeitstechnik – Filterelemente – Bestimmung des Widerstands gegen Strömungsermüdung anhand von Partikelverunreinigungen

Professional Standard - Ocean, Mikrowellenhohlraum

HY/T 132-2010 Vorbehandlungsrichtlinie für die Schwermetallanalyse in Meeressedimenten und -organismen – mikrowellenunterstützter Säureaufschluss

Qinghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikrowellenhohlraum

DB63/T 1871-2020 Bestimmung von sieben Metallelementen in Futtergras durch Mikrowellenaufschluss/Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma