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Elektronische Prüfung

Für die Elektronische Prüfung gibt es insgesamt 94 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Elektronische Prüfung die folgenden Kategorien: Elektrische Geräte und Systeme für die Luft- und Raumfahrt, Handwerkzeuge, Diskrete Halbleitergeräte, Drähte und Kabel, Bordausrüstung und Instrumente, Integrierte Luft- und Raumfahrzeuge, Qualität, Elektronenröhre, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, analytische Chemie, Textilprodukte.


U.S. Military Regulations and Norms, Elektronische Prüfung

American Society of Mechanical Engineers (ASME), Elektronische Prüfung

U.S. Air Force, Elektronische Prüfung

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Elektronische Prüfung

  • JEDEC JEP115-1989 Testmethode für die elektrische Dosisleistung von Leistungs-MOSFETs

United States Navy, Elektronische Prüfung

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Elektronische Prüfung

  • GJB 9133-2017 Terminologie für militärische elektronische Testinstrumente
  • GJB 3947-2000 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte
  • GJB 3947A-2009 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte
  • GJB 9134-2017 Modellbenennungsmethode für militärische elektronische Testinstrumente
  • GJB 6927-2009 Verfahren und Anforderungen für die Prüfung und Abnahme militärischer elektronischer Messgeräte
  • GJB 6926-2009 Anforderung für die Ausarbeitung einer Produktspezifikation für militärische elektronische Messgeräte
  • GJB 8360-2015 Designspielraum und simulierter Missbrauchstest militärischer elektronischer Testinstrumente
  • GJB 3311A-2011 Testmethode für Mikrowellenröhren
  • GJB 3311-1998 Testmethode für Mikrowellenröhren

PL-PKN, Elektronische Prüfung

Standard Association of Australia (SAA), Elektronische Prüfung

  • AS 3547.2:2023 Elektronische Atemalkoholtestgeräte für den persönlichen Gebrauch

Society of Automotive Engineers (SAE), Elektronische Prüfung

Professional Standard - Electron, Elektronische Prüfung

  • SJ 20369-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte.Allgemeines
  • SJ 20373-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Sicherheitsanforderungen
  • SJ 20371-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Anforderungen und Testmethoden für die Stromversorgung
  • SJ 20377-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Bestimmung zur Qualitätssicherung
  • SJ/Z 9010.0-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften von elektronischen Röhren und Ventilen – Teil 0: Vorsichtsmaßnahmen in Bezug auf Methoden zur Messung von elektronischen Röhren und Ventilen
  • SJ 20376-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Anforderungen sowie Kennzeichnung und Verpackung
  • SJ 20372-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Umweltanforderungen und Testmethoden
  • SJ 20374-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Anforderungen und Testmethoden der elektromagnetischen Verträglichkeit
  • SJ 20375-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Anforderungen und Methoden für Zuverlässigkeitstests
  • SJ 20370-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Grundlegende Anforderungen für Design und Konstruktion
  • SJ/Z 9010.21-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren und Ventile – Teil 21: Messmethoden für Kreuzmodulation in elektronischen Röhren und Ventilen
  • SJ/Z 9036-1987 Elektrische und elektronische Mess- und Prüfgeräte

North Atlantic Treaty Organization Standards Agency, Elektronische Prüfung

Aeronautical Radio Inc., Elektronische Prüfung

Group Standards of the People's Republic of China, Elektronische Prüfung

  • T/CEIA 003-2023 Qualitätskontrollanforderungen für Mikrowellenkomponenten elektronischer Messgeräte

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Elektronische Prüfung

  • JJG(电子) 12022-1989 Verifizierungsvorschriften für elektronische Schwarz-Weiß-TV-Testkartengeneratoren vom Typ VS13

Defense Logistics Agency, Elektronische Prüfung

ISA - International Society of Automation, Elektronische Prüfung

  • ISA S82.02-1988 Sicherheitsnorm für elektrische und elektronische Prüf-, Mess-, Steuer- und verwandte Geräte, elektrische und elektronische Prüf- und Messgeräte (teilweise Überarbeitung und Neubezeichnung von ANSI C39.5-1974)
  • ISA 82.02.01-1999 Sicherheitsnorm für elektrische und elektronische Prüf-, Mess-, Steuer- und zugehörige Geräte – Allgemeine Anforderungen
  • ISA S82.01-1994 Sicherheitsnorm für elektrische und elektronische Prüf-, Mess-, Steuer- und verwandte Geräte – Allgemeine Anforderungen Harmonisierte Norm zur IEC-Veröffentlichung 1010-1

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Elektronische Prüfung

American Society for Testing and Materials (ASTM), Elektronische Prüfung

  • ASTM D5015-02(2008) Standardtestmethode für den pH-Wert atmosphärischer Nassablagerungsproben durch elektrometrische Bestimmung

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Elektronische Prüfung

  • GB 12117-1989 Messmethoden für elektronische Analogvoltmeter
  • GB/T 3306-2001 Messungen der elektrischen Eigenschaften von elektronischen Röhren geringer Leistung
  • GB/T 11446.3-1997 Allgemeine Regeln für Prüfmethoden für Wasser in elektronischer Qualität
  • GB/T 11446.3-2013 Allgemeine Regeln für Prüfmethoden für Wasser in elektronischer Qualität
  • GB/T 7274-2015 Methoden zur Messung direkter Zwischenelektrodenkapazitäten elektronischer Röhren und Ventile

CZ-CSN, Elektronische Prüfung

SE-SIS, Elektronische Prüfung

HU-MSZT, Elektronische Prüfung

  • MSZ 20837/1-1974 Anforderungen an die elektrische Sicherheit und Prüfung elektronischer Schaltkreise im Büro

GM Daewoo, Elektronische Prüfung

US-RTCA, Elektronische Prüfung

  • RTCA DO-171-1980 EMPFEHLUNGEN ZU RICHTLINIEN UND VERFAHREN FÜR DEN ERWERB UND DEN SUPPORT VON ELEKTRONISCHEN TESTGERÄTEN VON DER STELLE

Association Francaise de Normalisation, Elektronische Prüfung

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Elektronische Prüfung

  • IEEE P1505.1/D4-2018 Die gemeinsame Pin-Map-Konfiguration der Testschnittstelle für High-Density@ Single-Tier-Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
  • IEEE P1505.1/D6-2019 Standard für die Pin-Map-Konfiguration der gemeinsamen Testschnittstelle für High-Density@ Single-Tier-Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Elektronische Prüfung

  • IEEE 1505.1-2015 Die gemeinsame Pin-Mapping-Konfiguration der Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
  • IEEE Std 1505.1-2008 IEEE-Teststandard für die Pin-Map-Konfiguration der gemeinsamen Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
  • IEEE Unapproved Draft Std P1505.1_D8, Jan 2008 IEEE Draft Trial-Use Standard für die Pin-Map-Konfiguration gemeinsamer Testschnittstellen für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung des IEEE-Standards 1505
  • IEEE P1505.1/D4, July 2018 IEEE Draft Standard für die Common Test Interface Pin Map-Konfiguration für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
  • IEEE 1505.1-2019 IEEE-Standard für die Pin-Map-Konfiguration der gemeinsamen Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
  • IEEE Std 1505.1-2019 IEEE-Standard für die Pin-Map-Konfiguration der gemeinsamen Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
  • IEEE Std 1505.1-2008 (Full-Use) IEEE-Standard für die Pin-Map-Konfiguration der gemeinsamen Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Elektronische Prüfung

  • GB/T 35445-2017 Seide – Elektronische Prüfmethode für Fehler und Gleichmäßigkeit von Rohseide

IEC - International Electrotechnical Commission, Elektronische Prüfung

  • IEC 63003:2015 Standard für die gemeinsame Pin-Mapping-Konfiguration der Testschnittstelle für High-Density@-Testanforderungen für einstufige Elektronik unter Verwendung von IEEE Std 1505 (Edition 1.0)




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