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RUElektronische Prüfung
Für die Elektronische Prüfung gibt es insgesamt 94 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Elektronische Prüfung die folgenden Kategorien: Elektrische Geräte und Systeme für die Luft- und Raumfahrt, Handwerkzeuge, Diskrete Halbleitergeräte, Drähte und Kabel, Bordausrüstung und Instrumente, Integrierte Luft- und Raumfahrzeuge, Qualität, Elektronenröhre, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, analytische Chemie, Textilprodukte.
U.S. Military Regulations and Norms, Elektronische Prüfung
- ARMY MIL-HDBK-172 A VOL I CHG NOTICE 2-1965 ELEKTRONISCHE PRÜFGERÄTE
- ARMY MIL-T-47303 A-1992 PRÜFSET, ELEKTRISCH, MK IV
- ARMY MIL-T-47326 NOTICE 1-1995 BAND, DRUCKEMPFINDLICHER KLEBER, ALUMINIUMUNTERSTÜTZT, ELEKTRISCH LEITFÄHIG
- ARMY MIL-T-47326-1990 BAND, DRUCKEMPFINDLICHER KLEBER, ALUMINIUMUNTERSTÜTZT, ELEKTRISCH LEITFÄHIG
- ARMY MIL-T-63263 REINST NOTICE 2-1996 TESTSET, ELEKTRONISCHE SYSTEME: M91
- ARMY MIL-T-63263 (3)-1988 TESTSET, ELEKTRONISCHE SYSTEME: M91
- ARMY MIL-T-63263-1978 TESTSET, ELEKTRONISCHE SYSTEME: M91
- ARMY MIL-T-63264 REINST NOTICE 2-1996 TESTSET, ELEKTRONISCHE SYSTEME: M92
- ARMY MIL-T-63264 (2)-1989 TESTSET, ELEKTRONISCHE SYSTEME: M92
- ARMY MIL-T-63264-1978 TESTSET, ELEKTRONISCHE SYSTEME: M92
- ARMY MIL-T-70431 NOTICE 2-1996 PRÜFSET, ELEKTRONISCHES SYSTEM: M137
- ARMY MIL-T-70431 VALID NOTICE 1-1991 PRÜFSET, ELEKTRONISCHES SYSTEM: M137
- ARMY MIL-T-70431-1982 PRÜFSET, ELEKTRONISCHES SYSTEM: M137
- ARMY MIL-C-48486 C VALID NOTICE 4-2013 Leiterplattenbestückung – GCU Test Electronics
American Society of Mechanical Engineers (ASME), Elektronische Prüfung
U.S. Air Force, Elektronische Prüfung
- AIR FORCE A-A-58042 A VALID NOTICE 1-2012 Analysator, digitale Daten, elektronischer Test
- AIR FORCE A-A-58002 A-2004 GENERATOR, FUNKTIONSPULS, ELEKTRONISCHER TEST
- AIR FORCE A-A-58042 A-1996 ANALYSATOR, DIGITALE DATEN, ELEKTRONISCHER TEST
- AIR FORCE A-A-58002 A VALID NOTICE 1-2012 Generator, Funktionsimpuls, elektronischer Test
- AIR FORCE MIL-E-4957 A (1)-1956 GEHÄUSE, ELEKTROMAGNETISCHE ABSCHIRMUNG, ZERLEGBAR, VORGEFERTIGT FÜR ELEKTRONISCHE TESTZWECKE
- AIR FORCE MIL-E-4957 A-1954 GEHÄUSE, ELEKTROMAGNETISCHE ABSCHIRMUNG, ZERLEGBAR, VORGEFERTIGT FÜR ELEKTRONISCHE TESTZWECKE
- AIR FORCE MS24435 REV A VALID NOTICE 1-1988 STROMANSCHLUSS, FLUGZEUG, ELEKTRONISCHE TESTGERÄTE, VERKABELUNG VON
- AIR FORCE MS24435 REV A-1970 STROMANSCHLUSS, FLUGZEUG, ELEKTRONISCHE TESTGERÄTE, VERKABELUNG VON
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Elektronische Prüfung
- JEDEC JEP115-1989 Testmethode für die elektrische Dosisleistung von Leistungs-MOSFETs
United States Navy, Elektronische Prüfung
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Elektronische Prüfung
- GJB 9133-2017 Terminologie für militärische elektronische Testinstrumente
- GJB 3947-2000 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte
- GJB 3947A-2009 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte
- GJB 9134-2017 Modellbenennungsmethode für militärische elektronische Testinstrumente
- GJB 6927-2009 Verfahren und Anforderungen für die Prüfung und Abnahme militärischer elektronischer Messgeräte
- GJB 6926-2009 Anforderung für die Ausarbeitung einer Produktspezifikation für militärische elektronische Messgeräte
- GJB 8360-2015 Designspielraum und simulierter Missbrauchstest militärischer elektronischer Testinstrumente
- GJB 3311A-2011 Testmethode für Mikrowellenröhren
- GJB 3311-1998 Testmethode für Mikrowellenröhren
PL-PKN, Elektronische Prüfung
Standard Association of Australia (SAA), Elektronische Prüfung
- AS 3547.2:2023 Elektronische Atemalkoholtestgeräte für den persönlichen Gebrauch
Society of Automotive Engineers (SAE), Elektronische Prüfung
Professional Standard - Electron, Elektronische Prüfung
- SJ 20369-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte.Allgemeines
- SJ 20373-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Sicherheitsanforderungen
- SJ 20371-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Anforderungen und Testmethoden für die Stromversorgung
- SJ 20377-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Bestimmung zur Qualitätssicherung
- SJ/Z 9010.0-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften von elektronischen Röhren und Ventilen – Teil 0: Vorsichtsmaßnahmen in Bezug auf Methoden zur Messung von elektronischen Röhren und Ventilen
- SJ 20376-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Anforderungen sowie Kennzeichnung und Verpackung
- SJ 20372-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Umweltanforderungen und Testmethoden
- SJ 20374-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Anforderungen und Testmethoden der elektromagnetischen Verträglichkeit
- SJ 20375-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Anforderungen und Methoden für Zuverlässigkeitstests
- SJ 20370-1993 Allgemeine Spezifikation für militärische elektronische Testgeräte. Grundlegende Anforderungen für Design und Konstruktion
- SJ/Z 9010.21-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren und Ventile – Teil 21: Messmethoden für Kreuzmodulation in elektronischen Röhren und Ventilen
- SJ/Z 9036-1987 Elektrische und elektronische Mess- und Prüfgeräte
North Atlantic Treaty Organization Standards Agency, Elektronische Prüfung
Aeronautical Radio Inc., Elektronische Prüfung
Group Standards of the People's Republic of China, Elektronische Prüfung
- T/CEIA 003-2023 Qualitätskontrollanforderungen für Mikrowellenkomponenten elektronischer Messgeräte
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Elektronische Prüfung
- JJG(电子) 12022-1989 Verifizierungsvorschriften für elektronische Schwarz-Weiß-TV-Testkartengeneratoren vom Typ VS13
Defense Logistics Agency, Elektronische Prüfung
- DLA MIL-P-22438 B VALID NOTICE 2-2003 PANEL, BUCHSE, FÜR ELEKTRISCHE UND ELEKTRONISCHE TEST- UND WARTUNGSTABELLE, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA MIL-P-22438 B NOTICE 1-1997 PANEL, BUCHSE, FÜR ELEKTRISCHE UND ELEKTRONISCHE TEST- UND WARTUNGSTABELLE, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA MIL-P-22438 B-1977 PANEL, BUCHSE, FÜR ELEKTRISCHE UND ELEKTRONISCHE TEST- UND WARTUNGSTABELLE, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA MIL-STD-1311 C VALID NOTICE 1-2005 TESTMETHODEN FÜR ELEKTRONENROHREN
- DLA MIL-STD-1311 C-2001 TESTMETHODEN FÜR ELEKTRONENROHREN
- DLA A-A-55812 VALID NOTICE 3-2013 Kabelbaugruppe (Typ I), elektronische Testausrüstung (2 Pole, 3 Drähte, 125 Volt, 13 Ampere, 50 oder 60 Hertz), Erdungsstecker
- DLA A-A-55812 VALID NOTICE 2-2008 Kabelbaugruppe, (Typ I), elektronische Testausrüstung, (2 Pole, 3 Drähte, 125 Volt, 13 Ampere, 50 oder 60 Hertz), Erdungsstecker
- DLA MIL-C-28777A SUPP 1-1978 KABELBAUGRUPPE, ELEKTRONISCHE PRÜFGERÄTE (3 DRÄHTE, 125 UND 250 VOLT AC UND 28 VOLT DC) ERDUNGSSTECKVERBINDER, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA MIL-C-28777 A VALID NOTICE 2-2009 Kabelbaugruppe, elektronische Prüfgeräte, (3 Drähte, 125 und 250 Volt Wechselstrom und 28 Volt Gleichstrom) Erdungsstecker, allgemeine Spezifikation für
ISA - International Society of Automation, Elektronische Prüfung
- ISA S82.02-1988 Sicherheitsnorm für elektrische und elektronische Prüf-, Mess-, Steuer- und verwandte Geräte, elektrische und elektronische Prüf- und Messgeräte (teilweise Überarbeitung und Neubezeichnung von ANSI C39.5-1974)
- ISA 82.02.01-1999 Sicherheitsnorm für elektrische und elektronische Prüf-, Mess-, Steuer- und zugehörige Geräte – Allgemeine Anforderungen
- ISA S82.01-1994 Sicherheitsnorm für elektrische und elektronische Prüf-, Mess-, Steuer- und verwandte Geräte – Allgemeine Anforderungen Harmonisierte Norm zur IEC-Veröffentlichung 1010-1
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Elektronische Prüfung
American Society for Testing and Materials (ASTM), Elektronische Prüfung
- ASTM D5015-02(2008) Standardtestmethode für den pH-Wert atmosphärischer Nassablagerungsproben durch elektrometrische Bestimmung
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Elektronische Prüfung
- GB 12117-1989 Messmethoden für elektronische Analogvoltmeter
- GB/T 3306-2001 Messungen der elektrischen Eigenschaften von elektronischen Röhren geringer Leistung
- GB/T 11446.3-1997 Allgemeine Regeln für Prüfmethoden für Wasser in elektronischer Qualität
- GB/T 11446.3-2013 Allgemeine Regeln für Prüfmethoden für Wasser in elektronischer Qualität
- GB/T 7274-2015 Methoden zur Messung direkter Zwischenelektrodenkapazitäten elektronischer Röhren und Ventile
CZ-CSN, Elektronische Prüfung
SE-SIS, Elektronische Prüfung
HU-MSZT, Elektronische Prüfung
- MSZ 20837/1-1974 Anforderungen an die elektrische Sicherheit und Prüfung elektronischer Schaltkreise im Büro
GM Daewoo, Elektronische Prüfung
US-RTCA, Elektronische Prüfung
- RTCA DO-171-1980 EMPFEHLUNGEN ZU RICHTLINIEN UND VERFAHREN FÜR DEN ERWERB UND DEN SUPPORT VON ELEKTRONISCHEN TESTGERÄTEN VON DER STELLE
Association Francaise de Normalisation, Elektronische Prüfung
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Elektronische Prüfung
- IEEE P1505.1/D4-2018 Die gemeinsame Pin-Map-Konfiguration der Testschnittstelle für High-Density@ Single-Tier-Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
- IEEE P1505.1/D6-2019 Standard für die Pin-Map-Konfiguration der gemeinsamen Testschnittstelle für High-Density@ Single-Tier-Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Elektronische Prüfung
- IEEE 1505.1-2015 Die gemeinsame Pin-Mapping-Konfiguration der Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
- IEEE Std 1505.1-2008 IEEE-Teststandard für die Pin-Map-Konfiguration der gemeinsamen Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
- IEEE Unapproved Draft Std P1505.1_D8, Jan 2008 IEEE Draft Trial-Use Standard für die Pin-Map-Konfiguration gemeinsamer Testschnittstellen für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung des IEEE-Standards 1505
- IEEE P1505.1/D4, July 2018 IEEE Draft Standard für die Common Test Interface Pin Map-Konfiguration für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
- IEEE 1505.1-2019 IEEE-Standard für die Pin-Map-Konfiguration der gemeinsamen Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
- IEEE Std 1505.1-2019 IEEE-Standard für die Pin-Map-Konfiguration der gemeinsamen Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
- IEEE Std 1505.1-2008 (Full-Use) IEEE-Standard für die Pin-Map-Konfiguration der gemeinsamen Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Elektronische Prüfung
- GB/T 35445-2017 Seide – Elektronische Prüfmethode für Fehler und Gleichmäßigkeit von Rohseide
IEC - International Electrotechnical Commission, Elektronische Prüfung
- IEC 63003:2015 Standard für die gemeinsame Pin-Mapping-Konfiguration der Testschnittstelle für High-Density@-Testanforderungen für einstufige Elektronik unter Verwendung von IEEE Std 1505 (Edition 1.0)