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전자 테스트

모두 94항목의 전자 테스트와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자 테스트와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 항공우주 전기 장비 및 시스템, 수공구, 반도체 개별 장치, 전선 및 케이블, 선상 장비 및 기기, 항공기 및 우주선 통합, 품질, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 전자관, 분석 화학, 섬유제품.


U.S. Military Regulations and Norms, 전자 테스트

American Society of Mechanical Engineers (ASME), 전자 테스트

U.S. Air Force, 전자 테스트

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 전자 테스트

United States Navy, 전자 테스트

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 전자 테스트

  • GJB 9133-2017 군용 전자 테스트 장비 용어
  • GJB 3947-2000 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양
  • GJB 3947A-2009 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양
  • GJB 9134-2017 군용 전자 시험 장비의 모델명 명명 방법
  • GJB 6927-2009 군용 전자 테스트 장비에 대한 승인 절차 및 요구 사항
  • GJB 6926-2009 군용 전자 시험 장비의 제품 사양 작성 요구 사항
  • GJB 8360-2015 군용 전자 테스트 장비의 설계 마진 및 모의 오용 테스트
  • GJB 3311A-2011 마이크로파 튜브 테스트 방법
  • GJB 3311-1998 마이크로파 튜브 테스트 방법

PL-PKN, 전자 테스트

Standard Association of Australia （SAA）, 전자 테스트

Society of Automotive Engineers (SAE), 전자 테스트

Professional Standard - Electron, 전자 테스트

  • SJ 20369-1993 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양 일반 원칙
  • SJ 20373-1993 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양 안전 요구 사항
  • SJ 20371-1993 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양 전원 공급 장치 요구 사항 및 테스트 방법
  • SJ 20377-1993 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양 품질 보증 조항
  • SJ/Z 9010.0-1987 전자관의 전기적 특성 시험 제0부: 전자관의 시험방법에 관한 주의사항
  • SJ 20376-1993 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양 식별 표시 포장 요구 사항
  • SJ 20372-1993 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양 환경 요구 사항 및 테스트 방법
  • SJ 20374-1993 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양 전자파 적합성 요구 사항 및 테스트 방법
  • SJ 20375-1993 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양 신뢰성 테스트 요구 사항 및 방법
  • SJ 20370-1993 군용 전자 테스트 장비의 일반 사양 설계 및 구성에 대한 기본 요구 사항
  • SJ/Z 9010.21-1987 진공관의 전기적 특성 테스트 21부: 진공관의 교차 변조 테스트 방법
  • SJ/Z 9036-1987 전기 및 전자 측정 및 테스트 장비

North Atlantic Treaty Organization Standards Agency, 전자 테스트

Aeronautical Radio Inc., 전자 테스트

Group Standards of the People's Republic of China, 전자 테스트

  • T/CEIA 003-2023 전자 시험 장비의 마이크로파 부품(구성 요소)에 대한 품질 관리 요구 사항

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 전자 테스트

Defense Logistics Agency, 전자 테스트

ISA - International Society of Automation, 전자 테스트

  • ISA S82.02-1988 전기 및 전자 테스트 및 측정 장비에 대한 전기 및 전자 테스트 측정 제어 및 관련 장비 안전 표준(ANSI C39.5-1974의 부분 개정 및 재지정)
  • ISA 82.02.01-1999 전기 및 전자 테스트, 측정, 제어 및 관련 장비에 대한 안전 표준에 대한 일반 요구 사항
  • ISA S82.01-1994 전기 및 전자 테스트에 대한 안전 표준 측정 제어 및 관련 장비에 대한 일반 요구 사항 IEC 간행물 1010-1 조화 표준

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자 테스트

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자 테스트

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자 테스트

CZ-CSN, 전자 테스트

SE-SIS, 전자 테스트

HU-MSZT, 전자 테스트

  • MSZ 20837/1-1974 전기 안전 요구 사항 및 사무용 전자 회로 테스트

GM Daewoo, 전자 테스트

US-RTCA, 전자 테스트

  • RTCA DO-171-1980 기성 전자 테스트 장비의 조달 및 지원을 위한 정책 및 절차에 대한 권장 사항

Association Francaise de Normalisation, 전자 테스트

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 전자 테스트

  • IEEE P1505.1/D4-2018 IEEE Std 1505를 사용하는 고밀도 단일 레이어 전자 테스트 요구 사항에 대한 일반 테스트 인터페이스 핀 다이어그램 구성
  • IEEE P1505.1/D6-2019 IEEE Std 1505를 사용하는 고밀도 단일 레이어 전자 테스트 요구 사항에 대한 공통 테스트 인터페이스 핀아웃 구성 표준

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 전자 테스트

  • IEEE 1505.1-2015 IEEE Std 1505 고밀도, 단일 안테나 어레이 전자 테스트 요구 사항을 활용하는 범용 테스트 인터페이스 핀아웃 다이어그램
  • IEEE Std 1505.1-2008 IEEE Std 1505를 사용하는 고밀도, 단일 레이어 전자 테스트 요구 사항에 대한 공통 테스트 인터페이스 핀 다이어그램 구성에 대한 IEEE 시험 표준
  • IEEE Unapproved Draft Std P1505.1_D8, Jan 2008 IEEE Std 1505를 활용하는 고밀도 단일 레이어 전자 테스트 요구 사항을 위한 범용 테스트 인터페이스 핀 매핑 구성을 위한 IEEE 시험 표준 초안
  • IEEE P1505.1/D4, July 2018 IEEE Std 1505를 사용하는 고밀도, 단일 레이어 전자 테스트 요구 사항을 위한 공통 테스트 인터페이스 핀아웃 구성에 대한 IEEE 초안 표준
  • IEEE 1505.1-2019 IEEE Std 1505를 사용하는 고밀도, 단일 레이어 전자 테스트 요구 사항을 위한 범용 테스트 인터페이스 핀 맵 구성을 위한 IEEE 표준
  • IEEE Std 1505.1-2019 IEEE Std 1505를 사용하는 고밀도, 단일 레이어 전자 테스트 요구 사항을 위한 범용 테스트 인터페이스 핀 맵 구성을 위한 IEEE 표준
  • IEEE Std 1505.1-2008 (Full-Use) IEEE Std 1505를 활용하는 고밀도 단일 레이어 전자 테스트 요구 사항을 위한 공통 테스트 인터페이스 핀 매핑 구성에 대한 IEEE 표준

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 테스트

  • GB/T 35445-2017 생사의 결점 및 균일도를 전자적으로 검출하는 시험방법

IEC - International Electrotechnical Commission, 전자 테스트

  • IEC 63003:2015 IEEE Std 1505(개정 1.0)를 사용하는 고밀도 단일 레이어 전자 테스트 요구 사항에 대한 공통 테스트 인터페이스 핀 다이어그램 구성 표준

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