Prinzip des Halbleiter-Kelvin-Tests

Für die Prinzip des Halbleiter-Kelvin-Tests gibt es insgesamt 50 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Prinzip des Halbleiter-Kelvin-Tests die folgenden Kategorien: Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Elektrotechnik umfassend.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Prinzip des Halbleiter-Kelvin-Tests

GB/T 14028-1992 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden analoger Schalter für integrierte Halbleiterschaltungen
GB 14028-2018 Grundprinzipien der Testmethoden für analoge Halbleiterschaltkreise
GB/T 14030-1992 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden von Zeitgeberschaltungen für integrierte Halbleiterschaltungen
GB 14030-1992 Grundprinzipien zeitbasierter Schaltungstestmethoden für integrierte Halbleiterschaltungen
GB/T 6798-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen. Allgemeine Grundsätze der Messmethoden von Spannungskomparatoren
GB/T 4377-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen. Allgemeine Grundsätze der Messmethoden von Spannungsreglern
GB/T 14031-1992 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden der analogen Phasenschleife für integrierte Halbleiterschaltungen
GB/T 14032-1992 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden des digitalen Phasenregelkreises für integrierte Halbleiterschaltungen
GB/T 14029-1992 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden analoger Multiplikatoren für integrierte Halbleiterschaltungen
GB 14029-1992 Grundprinzipien der Testmethoden für analoge Multiplikatoren in integrierten Halbleiterschaltungen
GB 14031-1992 Grundprinzipien der analogen Phasenregelkreistestmethoden für integrierte Halbleiterschaltungen
GB 14032-1992 Grundprinzipien digitaler Phasenregelkreis-Testmethoden für integrierte Halbleiterschaltungen
GB/T 15136-1994 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Quarzuhren und Uhrenschaltungen integrierter Halbleiterschaltungen
GB/T 14115-1993 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden von Sample/Hold-Verstärkern für integrierte Halbleiterschaltungen
GB 3442-1986 Grundprinzipien der Testmethoden für Operationsverstärker (Spannungsverstärker) in integrierten Halbleiterschaltungen
GB/T 12843-1991 Allgemeines Prinzip der Methoden zur Messung der Parameter von Mikroprozessoren und peripheren Schnittstellenschaltungen für integrierte Halbleiterschaltungen
GB 12843-1991 Grundprinzipien elektrischer Parametertestmethoden für integrierte Halbleiterschaltkreise, Mikroprozessoren und periphere Schnittstellenschaltkreise
GB/T 14114-1993 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden von V/F- und F/V-Wandlern für integrierte Halbleiterschaltungen

Professional Standard - Electron, Prinzip des Halbleiter-Kelvin-Tests

SJ/T 10735-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für TTL-Schaltungen
SJ/T 10736-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Grundlagen der Messmethoden für HTL-Schaltungen
SJ/T 10737-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für ECL-Schaltungen
SJ/T 10741-2000 Integrierte Halbleiterschaltungen Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für CMOS-Schaltungen
SJ/T 10741-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für CMOS-Schaltungen
SJ/T 10804-2000 Integrierte Halbleiterschaltungen. Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Pegelumsetzer
SJ/T 10805-2000 Integrierte Halbleiterschaltungen. Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für Spannungskomparatoren
SJ/T 10882-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für lineare Verstärker
SJ/T 10803-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen als Schnittstellenschaltungen – Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für Leitungsschaltungen
SJ/T 10880-1996 Integrierte Halbleiter-Audioschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Stereo-Decoder
SJ/T 10739-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für MOS-Speicher mit wahlfreiem Zugriff
SJ/T 10738-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für Operationsverstärker (Spannungsverstärker).
SJ/T 10800-1996 Als Schnittstellenschaltungen verwendete integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Leseverstärker
SJ/T 10802-1996 Als Schnittstellenschaltungen verwendete integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Peripherietreiber
SJ/T 10805-1996 Als Schnittstellenschaltungen verwendete integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden von Spannungskomparatoren
SJ/T 10804-1996 Als Schnittstellenschaltungen verwendete integrierte Halbleiterschaltkreise – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Pegelumsetzer
SJ/T 10806-1996 Als Schnittstellenschaltungen verwendete integrierte Halbleiterschaltkreise – Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für Displaytreiber
SJ/T 11005-1996 Integrierte Halbleiter-TV-Schaltkreise – Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für Audiokanalschaltkreise
SJ/T 11006-1996 Integrierte Halbleiter-TV-Schaltungen – Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für horizontale und vertikale Wobbelschaltungen
SJ/T 10401-1993 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Motorgeschwindigkeitsstabilisatoren integrierter Halbleiter-Audioschaltungen
SJ/T 10740-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für bipolare Direktzugriffsspeicher
SJ/T 10402-1993 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für automatische Musikwähler von integrierten Halbleiter-Audioschaltungen
SJ/T 10400-1993 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für grafische Equalizer integrierter Halbleiter-Audioschaltungen
SJ/T 11004-1996 Integrierte Halbleiter-TV-Schaltungen – Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für Bildkanalschaltungen
SJ/T 10879-1996 Integrierte Halbleiter-Audioschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Audio-Vorverstärker
SJ/T 10427.1-1993 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden von FM-Wandlern für integrierte Halbleiter-Audioschaltungen
SJ/T 10427.2-1993 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden von Zwischenfrequenzverstärkern für integrierte Halbleiter-Audioschaltungen
SJ/T 10881-1996 Integrierte Halbleiter-Audioschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Stereo-Decoder
SJ/T 10801-1996 Als Schnittstellenschaltungen verwendete integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Magnetspeichertreiber
SJ/T 11007-1996 Integrierte Halbleiter-TV-Schaltkreise – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Videosignal- und Chrominanzsignal-Verarbeitungsschaltkreise
SJ/T 10818-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für D/A- und A/D-Wandler nichtlinearer Schaltungen

AT-OVE/ON, Prinzip des Halbleiter-Kelvin-Tests

OVE EN IEC 63284:2021 Halbleiterbauelemente – Zuverlässigkeitstestverfahren durch induktives Lastschalten für Galliumnitrid-Transistoren (IEC 47/2681/CDV) (englische Version)