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irradiación de una sola partícula
irradiación de una sola partícula, Total: 5 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en irradiación de una sola partícula son: Dispositivos semiconductores.
American Society for Testing and Materials (ASTM), irradiación de una sola partícula
- ASTM F1192-11 Guía estándar para la medición de fenómenos de evento único (SEP) inducidos por irradiación de iones pesados de dispositivos semiconductores
German Institute for Standardization, irradiación de una sola partícula
- DIN EN 60749-44:2017-04 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (IEC 60749-44:2016); Versión alemana EN 60749-44:2016
ES-UNE, irradiación de una sola partícula
- UNE-EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)
- UNE-EN 300386 V1.5.1:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)
PH-BPS, irradiación de una sola partícula
- PNS IEC 60749-44:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores.