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efecto de evento único

efecto de evento único, Total: 47 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en efecto de evento único son: Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Dispositivos semiconductores, Organización y gestión de la empresa., Componentes electrónicos en general., Aeronaves y vehículos espaciales en general., Equipos e instrumentos a bordo..


Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, efecto de evento único

  • GJB 7242-2011
  • GJB 6777-2009 Método de prueba de efectos de un solo evento en una fuente de radiación Cf para dispositivos electrónicos militares

Professional Standard - Aerospace, efecto de evento único

  • QJ 10005-2008 Directrices de prueba de efectos de eventos únicos inducidos por iones pesados de dispositivos semiconductores para aplicaciones espaciales

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, efecto de evento único

  • GB/T 34955-2017 Efectos de la radiación atmosférica: directrices para las pruebas de efectos de un solo evento en sistemas de aviónica
  • GB/T 34956-2017 Efectos de la radiación atmosférica: adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica.

Group Standards of the People's Republic of China, efecto de evento único

  • T/CIE 119-2021 Métodos y procedimientos de prueba de efecto de evento único de neutrones atmosféricos para dispositivos semiconductores

ES-UNE, efecto de evento único

  • SAE AIR6219-2023 Desarrollo de análisis de efectos de eventos únicos de neutrones atmosféricos para su uso en evaluaciones de seguridad
  • UNE-EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)
  • UNE-EN 300386 V1.5.1:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, efecto de evento único

  • JEDEC JESD57-1996 Procedimientos de prueba para la medición de efectos de un solo evento en dispositivos semiconductores debido a la irradiación de iones pesados

American Society for Testing and Materials (ASTM), efecto de evento único

  • ASTM F1192-11 Guía estándar para la medición de fenómenos de evento único (SEP) inducidos por irradiación de iones pesados de dispositivos semiconductores

British Standards Institution (BSI), efecto de evento único

  • DD IEC/TS 62396-2:2008 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: Directrices para las pruebas de efectos de un solo evento en sistemas de aviónica
  • DD IEC/PAS 62396-2:2007 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: Directrices para las pruebas de efectos de un solo evento en sistemas de aviónica
  • DD IEC/TS 62396-3:2008 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: optimización del diseño del sistema para adaptarse a los efectos de evento único (SEE) de la radiación atmosférica.
  • DD IEC/PAS 62396-3:2007 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: optimización del diseño del sistema para adaptarse a los efectos de evento único (SEE) de la radiación atmosférica.
  • DD IEC/TS 62396-4:2008 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: directrices para el diseño con electrónica de aeronaves de alto voltaje y posibles efectos de un solo evento
  • DD IEC/PAS 62396-4:2007 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: directrices para el diseño con electrónica de aeronaves de alto voltaje y posibles efectos de un solo evento
  • BS IEC 62396-1:2012 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
  • BS DD IEC/TS 62396-1:2006 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
  • BS IEC 62396-1:2016 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
  • BS EN 62396-1:2016 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de un solo evento dentro de los equipos electrónicos de aviónica.
  • DD IEC/TS 62396-1:2006 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de un solo evento dentro de los equipos electrónicos de aviónica.
  • BS IEC 62396-5:2014 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Evaluación de flujos de neutrones térmicos y efectos de eventos únicos en sistemas de aviónica.
  • BS EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores
  • PD IEC TR 62396-8:2020 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Flujos de protones, electrones, piones, muones, rayos alfa y efectos de evento único en equipos electrónicos de aviónica. Pautas de concientización

Defense Logistics Agency, efecto de evento único

  • DLA MIL-PRF-19500/634 C-2008 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTORES ENDURECIDOS POR RADIACIÓN DE EFECTO DE CAMPO (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO), SILICIO DE CANAL N, TIPOS 2N7405, 2N7406, 2N7407 Y 2N7408, JANSD Y JANSR
  • DLA MIL-PRF-19500/705 B-2008 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, ENDURECIDO POR RADIACIÓN DE EFECTO DE CAMPO (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TRANSISTOR, CANAL N, TIPOS DE SILICIO 2N7488T3, 2N7489T3 Y 2N7490T3, JANTXVR Y JANSR
  • DLA MIL-PRF-19500/658 VALID NOTICE 2-2011 Dispositivo semiconductor, transistor endurecido por radiación de efecto de campo (dosis total y efectos de evento único), silicio de canal P tipo 2N7438 y 2N7439 JANSD y JANSR
  • DLA MIL-PRF-19500/706 A VALID NOTICE 1-2010 Dispositivo semiconductor, transistor endurecido por radiación de efecto de campo (dosis total y efectos de evento único), canal N, tipos de silicio 2N7497T2, 2N7498T2 y 2N7499T2, JANTXVR y JANSR
  • DLA MIL-PRF-19500/683 C-2008 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE UN SOLO EVENTO) TIPO 2N7467U2, JANTXVR, F, G, Y H Y JANSR, F, G, Y H
  • DLA MIL-PRF-19500/747-2008 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR DE EFECTO DE CAMPO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO), SILICIO, TIPO 2N7504T2, JANTXVR, JANTXVF, JANTXVG, JANTXVH, JANSF, JANSG, JANSR Y JANSH
  • DLA MIL-PRF-19500/689 VALID NOTICE 2-2011 Dispositivo semiconductor, transistor endurecido por radiación de efecto de campo (dosis total y efectos de evento único), silicio de canal N tipos 2N7512, 2N7513 y 2N7514 JANTXVD, R y JANSD, R
  • DLA MIL-PRF-19500/687 B VALID NOTICE 1-2013 Dispositivo semiconductor, transistor endurecido por radiación de efecto de campo (dosis total y efectos de evento único), silicio de canal N, tipos 2N7509, 2N7510 y 2N7511, JANTXVD, R y JANSD, R
  • DLA MIL-PRF-19500/741 A VALID NOTICE 1-2013 Dispositivo semiconductor, efecto de campo, matriz de transistor endurecida por radiación (dosis total y efectos de evento único), canal N y canal PC, silicio, varios tipos, JANHC y JANKC
  • DLA MIL-PRF-19500/739-2006 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, ENDURECIDO POR RADIACIÓN DE EFECTO DE CAMPO (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TRANSISTOR CUÁDRUPLE, CANAL N Y CANAL P, SILICIO, TIPOS 2N7518 Y 2N7518U, JANTXVR, F Y JANSR, F
  • DLA MIL-PRF-19500/700 A VALID NOTICE 1-2010 Dispositivo semiconductor, transistor endurecido por radiación de efecto de campo (dosis total y efectos de evento único), canal N, silicio, tipos 2N7494U5, 2N7495U5 y 2N7496U5, JANTXVR, F, G y H, y JANSR, F, G y H

Association Francaise de Normalisation, efecto de evento único

  • NF EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: método de prueba para los efectos de un evento único (SEE) irradiado por un haz de neutrones para dispositivos semiconductores.

Standard Association of Australia （SAA）, efecto de evento único

  • IEC 62396-1:2016 RLV Gestión de procesos para la aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Parte 1: Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de los equipos electrónicos de aviónica.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, efecto de evento único

  • GB/T 41270.7-2022 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Parte 7: Gestión del proceso de análisis de efectos de evento único (SEE) en el diseño de aviónica.
  • GB/T 41270.9-2022 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Parte 9: Métodos y procedimientos de cálculo de la tasa de fallas por efecto de evento único para equipos de aviónica.

IEC - International Electrotechnical Commission, efecto de evento único

  • PAS 62396-3-2007 Gestión de procesos para aviónica – Efectos de la radiación atmosférica – Parte 3: Optimización del diseño del sistema para adaptarse a los efectos de evento único (SEE) de la radiación atmosférica (Edición 1.0)

German Institute for Standardization, efecto de evento único

  • DIN EN 60749-44:2017-04 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (IEC 60749-44:2016); Versión alemana EN 60749-44:2016

International Electrotechnical Commission (IEC), efecto de evento único

  • IEC 62396-5:2014 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radioación atmosférica - Parte 5: Evaluación de flujos de neutrones térmicos y efectos de eventos únicos en sistemas de aviónica
  • IEC 62396-1:2012 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radioación atmosférica - Parte 1: Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
  • IEC 62396-1:2016 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Parte 1: Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
  • IEC TR 62396-8:2020 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Parte 8: Flujos de protones, electrones, piones, muones, rayos alfa y efectos de eventos únicos en equipos electrónicos de aviónica - Directrices de concientización

PH-BPS, efecto de evento único

  • PNS IEC 60749-44:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores.

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