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partícula única

partícula única, Total: 81 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en partícula única son: Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Componentes para la construcción aeroespacial., Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Dispositivos semiconductores, Sistemas y operaciones espaciales., Materias primas para caucho y plástico., Calidad del aire, Organización y gestión de la empresa., Componentes electrónicos en general., Aeronaves y vehículos espaciales en general., Equipos e instrumentos a bordo..

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, partícula única

GJB 7242-2011
GJB 6777-2009 Método de prueba de efectos de un solo evento en una fuente de radiación Cf para dispositivos electrónicos militares

British Standards Institution (BSI), partícula única

BS ISO 21501-3:2007 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas líquidas de extinción de luz
BS ISO 21501-2:2007 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas líquidas con dispersión de luz
BS ISO 21501-1:2009 Determinación de la distribución del tamaño de partículas - Métodos de interacción de la luz de una sola partícula - Espectrómetro de aerosol de dispersión de luz
BS ISO 21501-3:2019 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula: contador de partículas transmitidas por líquido de extinción de luz
BS 3406-7:1988 Métodos para determinar la distribución del tamaño de partículas: recomendaciones para métodos de interacción de luz de una sola partícula
BS ISO 21501-4:2018 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas en suspensión por dispersión de luz para espacios limpios
BS ISO 21501-4:2007 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas en suspensión por dispersión de luz para espacios limpios
BS ISO 21501-2:2019 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de partícula única: contador de partículas transmitidas por líquido con dispersión de luz
BS ISO 21501-4:2018+A1:2023 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de partícula única: contador de partículas en el aire con dispersión de luz para espacios limpios
19/30385918 DC BS ISO 21501-3. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Parte 3. Contador de partículas transmitidas por líquido de extinción de luz.
19/30385915 DC BS ISO 21501-2. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Parte 2. Contador de partículas transmitidas por líquidos con dispersión de luz
DD IEC/TS 62396-2:2008 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: Directrices para las pruebas de efectos de un solo evento en sistemas de aviónica
DD IEC/PAS 62396-2:2007 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: Directrices para las pruebas de efectos de un solo evento en sistemas de aviónica
BS IEC 62396-5:2014 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Evaluación de flujos de neutrones térmicos y efectos de eventos únicos en sistemas de aviónica.
BS EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores
DD IEC/TS 62396-4:2008 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: directrices para el diseño con electrónica de aeronaves de alto voltaje y posibles efectos de un solo evento
DD IEC/PAS 62396-4:2007 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: directrices para el diseño con electrónica de aeronaves de alto voltaje y posibles efectos de un solo evento
BS IEC 62396-1:2012 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
BS DD IEC/TS 62396-1:2006 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
BS IEC 62396-1:2016 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
DD IEC/TS 62396-3:2008 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: optimización del diseño del sistema para adaptarse a los efectos de evento único (SEE) de la radiación atmosférica.
DD IEC/PAS 62396-3:2007 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: optimización del diseño del sistema para adaptarse a los efectos de evento único (SEE) de la radiación atmosférica.
21/30419440 DC BS ISO 21501-4 AMD1. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Parte 4. Contador de partículas en suspensión en el aire por dispersión de luz para espacios limpios
DD IEC/TS 62396-1:2006 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de un solo evento dentro de los equipos electrónicos de aviónica.
BS EN 62396-1:2016 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de un solo evento dentro de los equipos electrónicos de aviónica.
PD IEC TR 62396-8:2020 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Flujos de protones, electrones, piones, muones, rayos alfa y efectos de evento único en equipos electrónicos de aviónica. Pautas de concientización

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, partícula única

GB/T 39343-2020 Diseño y procedimiento de experimentos de efectos de evento único de dispositivo procesador para el sector aeroespacial
GB/T 41270.7-2022 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Parte 7: Gestión del proceso de análisis de efectos de evento único (SEE) en el diseño de aviónica.
GB/T 41270.9-2022 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Parte 9: Métodos y procedimientos de cálculo de la tasa de fallas por efecto de evento único para equipos de aviónica.

Professional Standard - Aerospace, partícula única

QJ 10005-2008 Directrices de prueba de efectos de eventos únicos inducidos por iones pesados de dispositivos semiconductores para aplicaciones espaciales

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, partícula única

GB/T 34955-2017 Efectos de la radiación atmosférica: directrices para las pruebas de efectos de un solo evento en sistemas de aviónica
GB/T 34956-2017 Efectos de la radiación atmosférica: adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica.

Group Standards of the People's Republic of China, partícula única

T/CIE 119-2021 Métodos y procedimientos de prueba de efecto de evento único de neutrones atmosféricos para dispositivos semiconductores

ES-UNE, partícula única

SAE AIR6219-2023 Desarrollo de análisis de efectos de eventos únicos de neutrones atmosféricos para su uso en evaluaciones de seguridad
UNE-EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)
UNE-EN 300386 V1.5.1:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

International Organization for Standardization (ISO), partícula única

ISO 21501-3:2007 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 3: Contador de partículas transportadas por líquido de extinción de la luz.
ISO 21501-2:2007 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 2: Contador de partículas transmitidas por líquido con dispersión de luz.
ISO 21501-1:2009 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 1: Espectrómetro de aerosol de dispersión de luz.
ISO 21501-3:2019 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción luminosa de una sola partícula. Parte 3: Contador de partículas transportadas por líquido de extinción de la luz.
ISO 21501-2:2019 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 2: Contador de partículas transmitidas por líquido con dispersión de luz.
ISO 21501-4:2007 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 4: Contador de partículas en el aire por dispersión de luz para espacios limpios.
ISO 21501-4:2018 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 4: Contador de partículas en el aire por dispersión de luz para espacios limpios.
ISO 21501-4:2018/Amd 1:2023 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 4: Contador de partículas en suspensión en el aire por dispersión de luz para espacios limpios. Enmienda 1.
ISO 8942:2010
ISO/TS 19590:2017 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, partícula única

GB/T 43226-2023 Método de prueba en el dominio del tiempo de error suave de un solo evento para circuitos integrados de semiconductores utilizados en aplicaciones aeroespaciales
GB/T 14853.6-2002 Ingredientes de compuestos de caucho--Negro de humo, peletizado--Determinación de la fuerza de trituración de pellets individuales
GB/T 3780.16-1983 Negro de carbón: determinación de la resistencia al aplastamiento de los pellets individuales

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, partícula única

JEDEC JESD57-1996 Procedimientos de prueba para la medición de efectos de un solo evento en dispositivos semiconductores debido a la irradiación de iones pesados

US-FCR, partícula única

FCR NE-F-3-41T-1981 PRUEBAS IN SITU DE SISTEMAS DE FILTRO HEPA MEDIANTE EL MÉTODO DEL ESPECTRÓMETRO DE UNA SOLA PARTÍCULA Y TAMAÑO DE PARTÍCULA

RU-GOST R, partícula única

GOST R ISO 21501-4-2012 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Parte 4. Contador de partículas en suspensión en el aire por dispersión de luz para espacios limpios

American Society for Testing and Materials (ASTM), partícula única

ASTM F1192-11 Guía estándar para la medición de fenómenos de evento único (SEP) inducidos por irradiación de iones pesados de dispositivos semiconductores

未注明发布机构, partícula única

BS ISO 13323-1:2000(2002) Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 1: Consideraciones sobre la interacción de la luz.

Danish Standards Foundation, partícula única

DS/ISO 21501-4:2007 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 4: Contador de partículas en el aire por dispersión de luz para espacios limpios.

International Electrotechnical Commission (IEC), partícula única

IEC 62396-2:2012 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Parte 2: Directrices para las pruebas de efectos de un solo evento para sistemas de aviónica
IEC 62396-5:2014 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radioación atmosférica - Parte 5: Evaluación de flujos de neutrones térmicos y efectos de eventos únicos en sistemas de aviónica
IEC 62396-1:2012 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radioación atmosférica - Parte 1: Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
IEC 62396-1:2016 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Parte 1: Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
IEC TR 62396-8:2020 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Parte 8: Flujos de protones, electrones, piones, muones, rayos alfa y efectos de eventos únicos en equipos electrónicos de aviónica - Directrices de concientización

CEN - European Committee for Standardization, partícula única

CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula

Association Francaise de Normalisation, partícula única

XP T16-401*XP CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula
NF EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: método de prueba para los efectos de un evento único (SEE) irradiado por un haz de neutrones para dispositivos semiconductores.

Defense Logistics Agency, partícula única

DLA MIL-PRF-19500/634 C-2008 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTORES ENDURECIDOS POR RADIACIÓN DE EFECTO DE CAMPO (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO), SILICIO DE CANAL N, TIPOS 2N7405, 2N7406, 2N7407 Y 2N7408, JANSD Y JANSR
DLA MIL-PRF-19500/705 B-2008 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, ENDURECIDO POR RADIACIÓN DE EFECTO DE CAMPO (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TRANSISTOR, CANAL N, TIPOS DE SILICIO 2N7488T3, 2N7489T3 Y 2N7490T3, JANTXVR Y JANSR
DLA MIL-PRF-19500/658 VALID NOTICE 2-2011 Dispositivo semiconductor, transistor endurecido por radiación de efecto de campo (dosis total y efectos de evento único), silicio de canal P tipo 2N7438 y 2N7439 JANSD y JANSR
DLA MIL-PRF-19500/706 A VALID NOTICE 1-2010 Dispositivo semiconductor, transistor endurecido por radiación de efecto de campo (dosis total y efectos de evento único), canal N, tipos de silicio 2N7497T2, 2N7498T2 y 2N7499T2, JANTXVR y JANSR
DLA MIL-PRF-19500/683 C-2008 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE UN SOLO EVENTO) TIPO 2N7467U2, JANTXVR, F, G, Y H Y JANSR, F, G, Y H
DLA MIL-PRF-19500/747-2008 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR DE EFECTO DE CAMPO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO), SILICIO, TIPO 2N7504T2, JANTXVR, JANTXVF, JANTXVG, JANTXVH, JANSF, JANSG, JANSR Y JANSH
DLA MIL-PRF-19500/689 VALID NOTICE 2-2011 Dispositivo semiconductor, transistor endurecido por radiación de efecto de campo (dosis total y efectos de evento único), silicio de canal N tipos 2N7512, 2N7513 y 2N7514 JANTXVD, R y JANSD, R
DLA MIL-PRF-19500/687 B VALID NOTICE 1-2013 Dispositivo semiconductor, transistor endurecido por radiación de efecto de campo (dosis total y efectos de evento único), silicio de canal N, tipos 2N7509, 2N7510 y 2N7511, JANTXVD, R y JANSD, R
DLA MIL-PRF-19500/741 A VALID NOTICE 1-2013 Dispositivo semiconductor, efecto de campo, matriz de transistor endurecida por radiación (dosis total y efectos de evento único), canal N y canal PC, silicio, varios tipos, JANHC y JANKC
DLA MIL-PRF-19500/739-2006 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, ENDURECIDO POR RADIACIÓN DE EFECTO DE CAMPO (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TRANSISTOR CUÁDRUPLE, CANAL N Y CANAL P, SILICIO, TIPOS 2N7518 Y 2N7518U, JANTXVR, F Y JANSR, F
DLA MIL-PRF-19500/700 A VALID NOTICE 1-2010 Dispositivo semiconductor, transistor endurecido por radiación de efecto de campo (dosis total y efectos de evento único), canal N, silicio, tipos 2N7494U5, 2N7495U5 y 2N7496U5, JANTXVR, F, G y H, y JANSR, F, G y H

German Institute for Standardization, partícula única

DIN EN 60749-44:2017-04 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (IEC 60749-44:2016); Versión alemana EN 60749-44:2016

PH-BPS, partícula única

PNS IEC 60749-44:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores.

Standard Association of Australia （SAA）, partícula única

IEC 62396-1:2016 RLV Gestión de procesos para la aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Parte 1: Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de los equipos electrónicos de aviónica.

IEC - International Electrotechnical Commission, partícula única

PAS 62396-3-2007 Gestión de procesos para aviónica – Efectos de la radiación atmosférica – Parte 3: Optimización del diseño del sistema para adaptarse a los efectos de evento único (SEE) de la radiación atmosférica (Edición 1.0)

API - American Petroleum Institute, partícula única

API 4091-1971 ESTUDIOS ÓPTICOS DE NEBLINAS AUTOMOTRICES Y NATURALES: DISPERSIÓN DE PARTÍCULAS ÚNICAS - INFORME FINAL