difractómetro de rayos X de mesa

difractómetro de rayos X de mesa, Total: 280 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en difractómetro de rayos X de mesa son: Óptica y medidas ópticas., Protección de radiación, Química analítica, pruebas de metales, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Pruebas no destructivas, Educación, Metales no ferrosos, Refractarios, Productos de la industria química., producción de metales, Plástica, Minerales no metalíferos, muelles, Mediciones de radiación, ingeniería de energía nuclear, Materiales para el refuerzo de composites., químicos inorgánicos, Materiales de construcción, Vocabularios, Equipo medico, Alambres y cables eléctricos., Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Tratamiento superficial y revestimiento., Centrales eléctricas en general, Materiales semiconductores, Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Combustibles, Calidad del agua, Productos de caucho y plástico., Calidad del aire, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Minerales metalíferos, Componentes electrónicos en general., Pruebas eléctricas y electrónicas., Ingredientes de pintura, Componentes de tuberías y tuberías., Medidas lineales y angulares., Metrología y medición en general., Cerámica.

Professional Standard - Machinery, difractómetro de rayos X de mesa

JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
JB/T 11145-2011 espectrómetro de fluorescencia de rayos X
JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.
JB/T 8426-1996 Revestimiento metálico. Método de prueba de difracción de rayos X para recubrimientos de aleación de níquel-fósforo
JB/T 9394-1999 Especificaciones para los estresómetros de rayos X.
JB/T 9399-1999 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 9399-2010 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 5482-2004 Condiciones técnicas del instrumento de orientación de cristales de rayos X.
JB/T 9394-2011 Instrumentos de ensayo no destructivos. Especificaciones de los estresómetros de rayos X.
JB/T 11234-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Aparatos industriales de rayos X blandos.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, difractómetro de rayos X de mesa

JJG 629-2014
JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG 480-2007 Medidor de espesor de rayos X
JJG 480-1987 Reglamento de verificación del medidor de espesor por rayos X
JJG 1050-2009 Regulación de verificación de la densitometría de rayos X 、 gamma para la densidad mineral ósea
JJG(地质) 1006-1990 Normas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X 3080E

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, difractómetro de rayos X de mesa

GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 23413-2009 Determinación del tamaño de los cristalitos y microdeformación de nanomateriales. Método de ampliación de la línea de difracción de rayos X.
GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 30793-2014 Medición de la relación de anatasa a rutilo en pigmentos de dióxido de titanio mediante difracción de rayos X
GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
GB/Z 41286-2022 Instrumentos de prueba no destructivos: rastreadores de tuberías de rayos X
GB/T 24576-2009 Método de prueba para medir la fracción de Al en sustratos de AlGaAs mediante difracción de rayos X de alta resolución

Professional Standard - Agriculture, difractómetro de rayos X de mesa

77药典四部-2015 0451 Método de difracción de rayos X
57药典四部-2020 0451 Método de difracción de rayos X
2355药典二部-2010 Apéndice IX Método de difracción de polvo de rayos FX
784兽药典一部-2015 Apéndice Contenido 0400 Espectroscopia 0451 Difracción de rayos X
SN/T 5579-2023 Determinación del grado de grafitización de materiales de carbono. Método de difracción de rayos X.
SN/T 5499-2023 Determinación del contenido de talco en productos minerales Método de ajuste de espectro completo por difracción de rayos X
SN/T 3797-2014 Método de detección de fibras de circonio en materiales refractarios de construcción Método de difracción de rayos X
SN/T 3323.7-2023 Incrustación de óxido de hierro - Parte 7: Determinación del contenido de α-SiO2 libre Método del valor K de difracción de rayos X

PT-IPQ, difractómetro de rayos X de mesa

E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), difractómetro de rayos X de mesa

KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS A 4902-1979 Gráficos de prueba de resolución para aparatos de rayos X.
KS A 4902-1987 Gráficos de prueba de resolución para aparatos de rayos X.
KS A 4610-2006 Medidores portátiles de dosis equivalente ambiental de fotones para protección radiológica
KS A IEC 61137-2003(2013) Instrumentación de protección radiológica－Conjunto de monitoreo de contaminación de superficies del personal instalado－Emisores X y gamma de baja energía
KS D 0287-2020 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X

工业和信息化部, difractómetro de rayos X de mesa

YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
YB/T 5360-2020 Determinación de cifras polares cuantitativas de materiales metálicos mediante el método de difracción de rayos X.
HG/T 5705-2020 Determinación del contenido de fase de dióxido de titanio en catalizadores de hidrogenación mediante el método de difracción de rayos X.
YS/T 1160-2016 Análisis de fase cuantitativa del polvo de silicio industrial Determinación del contenido de sílice Método del valor K de difracción de rayos X

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, difractómetro de rayos X de mesa

GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

American National Standards Institute （ANSI), difractómetro de rayos X de mesa

ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
ANSI/ASTM E1426:1994 Método de prueba para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
ANSI N42.26-1995 Instrumentación de protección radiológica - Equipos de monitoreo - Dispositivos personales de advertencia para radiaciones X y Gamma

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, difractómetro de rayos X de mesa

GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.
GB/T 39520-2020 Método de prueba para determinar la tensión residual del resorte mediante difracción de rayos X.
GB/T 40407-2021 Método de análisis de difracción de rayos X en polvo para determinar las fases en el clinker de cemento portland
GB/T 39860-2021 Identificación rápida del polvo mineral residual de la superficie en productos de látex: espectrometría de difracción de rayos X

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, difractómetro de rayos X de mesa

YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos

American Society for Testing and Materials (ASTM), difractómetro de rayos X de mesa

ASTM UOP905-20 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
ASTM UOP905-08 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
ASTM UOP905-91 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E1426-14(2019)e1 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
ASTM E1426-14 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
ASTM D5187-91(2007) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de los cristalitos (LC de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X)
ASTM D934-80(2003) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-91(2002) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-91(1997) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-98 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM E2860-12 Método de prueba estándar para medición de tensión residual mediante difracción de rayos X para aceros para rodamientos
ASTM D8352-20 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita beta mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-03(2008)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-03(2013) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM F1467-18 Guía estándar para el uso de un probador de rayos X (fotones de 10 keV) en pruebas de efectos de radiación ionizante de dispositivos semiconductores y microcircuitos
ASTM D5357-03 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM E2860-20 Método de prueba estándar para medición de tensión residual mediante difracción de rayos X para aceros para rodamientos
ASTM E3294-22 Guía estándar para el análisis forense de materiales geológicos mediante difracción de rayos X en polvo
ASTM D5357-19 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D934-08 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D934-80(1999) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM F3419-22 Método de prueba estándar para la caracterización mineral de materiales de superficie equinos mediante técnicas de difracción de rayos X (DRX)
ASTM D5758-01(2021) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
ASTM E3294-23 Guía estándar para el análisis forense de materiales geológicos mediante difracción de rayos X en polvo
ASTM D5758-01(2011)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
ASTM F2024-10(2016) Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
ASTM F2024-10(2021) Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
ASTM D934-22 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D3906-19 Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
ASTM F2024-00 Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
ASTM D3906-03(2008) Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
ASTM D934-13 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D5758-01(2015) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-10(2015)e1 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-10 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de los cristalitos (LC de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X)

Universal Oil Products Company (UOP), difractómetro de rayos X de mesa

UOP 905-2008 Aglomeración de platino por difracción de rayos X

British Standards Institution (BSI), difractómetro de rayos X de mesa

BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 15305:2008(2009) Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensión residual mediante difracción de rayos X
BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 15305:2008 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
BS EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
BS ISO 22262-3:2016 Calidad del aire. Grandes materiales. Determinación cuantitativa de amianto mediante el método de difracción de rayos X.
BS ISO 20203:2005(2006) Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio. Calcinados del tamaño de cristalitos de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X.
BS ISO 16258-2:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método por análisis indirecto.
BS ISO 16258-1:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método directo en filtro
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

Professional Standard - Education, difractómetro de rayos X de mesa

JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio
JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

Society of Automotive Engineers (SAE), difractómetro de rayos X de mesa

SAE HS-784-2003 Medición de tensión residual SAE mediante difracción de rayos X, edición de 2003
SAE J784-1971 Medición de tensión residual mediante difracción de rayos X

SAE - SAE International, difractómetro de rayos X de mesa

SAE J784A-1971 Medición de tensión residual mediante difracción de rayos X

国家质量监督检验检疫总局, difractómetro de rayos X de mesa

SN/T 4760-2017 Método de difracción de rayos X para la identificación de concentrados de zinc importados

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), difractómetro de rayos X de mesa

JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
JIS Z 4606:2007 Aparatos de rayos X industriales para pruebas radiográficas.
JIS C 3407:2003 Cables de alta tensión para aparatos de rayos X.
JIS Z 4324:1997 Monitores de área para rayos X y gamma
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X

RU-GOST R, difractómetro de rayos X de mesa

GOST 22091.4-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición del voltaje del tubo de rayos X.
GOST 22091.5-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir la corriente del tubo de rayos X.
GOST 22091.3-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir el campo de radiación y el ángulo del haz de radiación X.
GOST 22091.7-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir la uniformidad de la distribución de la densidad de energía de los rayos X sobre la cobertura de rayos X.
GOST 20337-1974 Dispositivos de rayos X. Términos y definiciones
GOST 22091.2-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje de inyección de betatrones de rayos X.
GOST 22091.10-1984 Dispositivos de rayos X. El método para medir el equivalente AL(CU) de la envoltura del dispositivo de rayos X.
GOST 22091.14-1986 Dispositivos de rayos X. El método para medir la densidad del flujo de energía (densidad de flujo de fotones) de la radiación X.
GOST 22091.6-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir la potencia de la dosis de exposición a la radiación X y la dosis de exposición a la radiación X por pulso
GOST 22091.11-1980 Dispositivos de rayos X. El método de medición del tiempo de disponibilidad del dispositivo para el funcionamiento.
GOST 29025-1991 Pruebas no destructivas. Detectores de defectos de televisión por rayos X con transductores ópticos electrónicos de rayos X. Detectores de defectos radiográficos eléctricos. Requisitos técnicos generales
GOST 22091.0-1984 Dispositivos de rayos X. Requisitos generales para la medición de parámetros.
GOST 22091.13-1984
GOST 22091.15-1986
GOST R 8.698-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Parámetros dimensionales de nanopartículas y películas delgadas. Método de medición mediante un difractómetro de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
GOST 22091.1-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje del calentador.
GOST 22091.9-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir el tamaño efectivo del punto de enfoque.

Professional Standard - Commodity Inspection, difractómetro de rayos X de mesa

SN/T 3975-2014 El método de identificación del mineral de bauxita es el método de difracción de rayos X.
SN/T 4008-2013 Detección cualitativa rápida de talco en polvo. Método de difracción de rayos X en polvo.
SN/T 3231-2012 Determinación de amianto en talco. Microscopio de luz polarizada y método de difracción de rayos X.
SN/T 2731-2010 Identificación de amianto en minerales no metálicos. Método de observación mediante microscopio instrumental de difracción radial X.
SN/T 3514-2013 Método de identificación de análisis de textura para aceros eléctricos de grano orientado y no orientado. Difracción de rayos X (XRD)
SN/T 2649.2-2010 Determinación de amianto en cosméticos de importación y exportación. Parte 2: Método de difracción de rayos X y microscopía de luz polarizada.
SN/T 3011.1-2011 Identificación de residuos sólidos de importación relacionados con minerales metálicos mediante difracción de rayos X. Parte 1: Normas generales

Professional Standard - Public Safety Standards, difractómetro de rayos X de mesa

GA/T 2079-2023 Ciencia forense Pruebas de minerales Difracción de rayos X
GA/T 1422-2017 Método de difracción de rayos X para examinar la composición de fuegos y explosivos comunes en ciencias forenses
GA/T 1064-2013 Especificaciones de calibración para probadores de envejecimiento de generadores de rayos X

German Institute for Standardization, difractómetro de rayos X de mesa

DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
DIN EN 15305:2009-01 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
DIN EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN IEC 62495:2011 Instrumentación nuclear: equipo portátil de análisis de fluorescencia de rayos X que utiliza un tubo de rayos X en miniatura (IEC 62495:2011)
DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles

European Committee for Standardization (CEN), difractómetro de rayos X de mesa

EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

Association Francaise de Normalisation, difractómetro de rayos X de mesa

NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
NF C74-111:1985 Equipo electromédico. Equipos de radiología. X equipo de radiación. Conjuntos de tubos de rayos X para radiodiagnóstico. Construcción y pruebas. Requisitos.
NF A09-282:2019 Ensayos no destructivos - Cuantificación de fases mediante difracción de rayos X
NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
NF A09-185*NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
NF T25-111-3:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 3: Análisis azimutal de la difracción de los rayos X
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HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

AENOR, difractómetro de rayos X de mesa

UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
UNE-EN 15305:2010 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
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GOSTR, difractómetro de rayos X de mesa

GOST 6912.2-1993 Alúmina. Método difraccial de rayos X para la determinación de alfa-óxido-aluminio

水利部, difractómetro de rayos X de mesa

SL 536-2011 Método de calibración del dispositivo de medición de tensión por difracción de rayos X.
SL 547-2011 Método de prueba para la tensión residual de estructuras metálicas hidráulicas. Método de difracción de rayos X.

GOST, difractómetro de rayos X de mesa

GOST R 50152-1992 Alúmina. Método de difracción de rayos X para determinar el óxido de aluminio alfa.

Indonesia Standards, difractómetro de rayos X de mesa

SNI 18-6938-2002 Especificación del topógrafo portátil de radiación de rayos X o rayos Y

Professional Standard - Nuclear Industry, difractómetro de rayos X de mesa

EJ/T 1100-1999 Aparato de perforación para análisis de fluorescencia de rayos X.
EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo
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Group Standards of the People's Republic of China, difractómetro de rayos X de mesa

T/CSTM 00166.2-2020 Caracterización de materiales de grafeno Parte 2 Difracción de rayos X
T/CAME 42-2022 Norma técnica para instrumentos de rayos X para la edad esquelética.
T/CASAS 014-2021 Método de medición para la flexión del plano basal de un sustrato de SiC. Difractometría de rayos X de alta resolución.
T/YXNX 004-2021 Determinación de la fase de mullita en refractarios de aluminio-silicio -Método de ajuste de espectro completo para difracción de rayos X
T/CSTM 00901-2023 Especificación de calibración para espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil

Standard Association of Australia （SAA）, difractómetro de rayos X de mesa

AS 2879.3:1991 Alúmina - Determinación del contenido de alfa alúmina mediante difracción de rayos X
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AS 2879.3:2010 Alúmina, Parte 3: Determinación del contenido de alfa alúmina mediante difracción de rayos X

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, difractómetro de rayos X de mesa

GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro
GB/T 36017-2018 Instrumentos de prueba no destructivos: tubo de análisis de fluorescencia de rayos X

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NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
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TCVN 6596-2000 Radiografía de diagnóstico por rayos X y fluoroscopia. Generador, tubo de rayos X, colimador. Procedimiento de prueba

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SY/T 5983-1994 Método de identificación por difracción de rayos X de minerales de capas intermedias de illita/esmectita
SY/T 5163-1995 Método de análisis de difracción de rayos X para el contenido relativo de minerales arcillosos en rocas sedimentarias
SY/T 5163-2010 Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X.

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JB/T 5982-1991 Condiciones técnicas del instrumento direccional de rayos X.

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JJF 1613-2017 Especificación de calibración para instrumentos de medición de espesor de película delgada mediante reflectividad de rayos X de incidencia rasante
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