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Instrumento de pulverización de iones de oro
Instrumento de pulverización de iones de oro, Total: 87 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Instrumento de pulverización de iones de oro son: Tecnología de vacío, SISTEMAS DE FLUIDOS Y COMPONENTES PARA USO GENERAL, Equipo para el cuidado del cuerpo, Química analítica, Productos de metales no ferrosos., Metales no ferrosos, Materiales semiconductores, Joyería, Protección de radiación, Mediciones de radiación, Zapatillas, Materiales para la construcción aeroespacial., Óptica y medidas ópticas., Goma, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Materias primas para caucho y plástico., Calidad del suelo. Pedología, Componentes electrónicos en general..
Professional Standard - Electron, Instrumento de pulverización de iones de oro
- SJ 1781-1981 Bomba de iones de pulverización catódica: métodos de prueba
- SJ 1779-1981 Bomba de iones de pulverización catódica ordinaria de dos electrodos - Serie de parámetros
- SJ 1780-1981 Bomba de iones de pulverización catódica ordinaria de dos electrodos: especificación de rendimiento
Professional Standard - Machinery, Instrumento de pulverización de iones de oro
- JB/T 4081-2011 Tecnología de vacío: bomba de iones por pulverización
- JB/T 4082-1991 Condiciones técnicas de la bomba de iones de pulverización.
- JB/T 2965-1992 Método de prueba de rendimiento de la bomba de iones de pulverización catódica.
- JB/T 4081-1991 Tipo de bomba de iones de pulverización catódica y parámetros básicos.
German Institute for Standardization, Instrumento de pulverización de iones de oro
- DIN 28429:2003
- DIN IEC/TS 62743:2013 Instrumentación de protección radiológica. Dosímetros contadores electrónicos para campos pulsados de radiaciones ionizantes (IEC/TS 62743:2012)
- DIN CEN/TS 15605:2008 Cobre y aleaciones de cobre - Espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente; Versión alemana CEN/TS 15605:2007
- DIN EN 15605:2010-12 Cobre y aleaciones de cobre - Espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente; Versión alemana EN 15605:2010
Group Standards of the People's Republic of China, Instrumento de pulverización de iones de oro
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Instrumento de pulverización de iones de oro
- GB/T 25755-2010 Tecnología de vacío. Bombas de iones por pulverización. Medición de las características de rendimiento.
- GB/T 29658-2013 Objetivo de aleación de aluminio y aluminio de pulverización catódica de alta pureza utilizado en películas electrónicas
- GB/T 36244-2018 Espectrómetro de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- GB/T 41945-2022 Caucho en bruto, vulcanizado. Determinación del contenido de metales por ICP-OES.
RU-GOST R, Instrumento de pulverización de iones de oro
- GOST 5.1807-1973
- GOST 27973.2-1988 Oro. Método de análisis de emisiones atómicas con plasma inductivo.
- GOST 5.413-1970 La bomba de iones de pulverización catódica tipo diodo enfriada por materia NMDI-01-1 (NIRD-100) con la fuente de alimentación BP-150. Requisitos de calidad para productos certificados.
- GOST R 52371-2005 Babbits de estaño y plomo. Método de espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- GOST R ISO 22033-2014 Aleaciones de níquel. Determinación de niobio. Método espectrométrico de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente
- GOST R ISO 22725-2014 Aleaciones de níquel. Determinación del tantalio. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
American Society for Testing and Materials (ASTM), Instrumento de pulverización de iones de oro
- ASTM E1162-87(2001) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
- ASTM E1162-87(1996) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
- ASTM E1438-91(2001) Guía estándar para medir anchos de interfaces en perfiles de profundidad de pulverización catódica utilizando SIMS
- ASTM E1438-91(1996) Guía estándar para medir anchos de interfaces en perfiles de profundidad de pulverización catódica utilizando SIMS
- ASTM E1162-11(2019) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
- ASTM E1162-06 Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
- ASTM E1832-08 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
- ASTM E1832-08(2017) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
- ASTM E684-95(2000) Práctica estándar para la determinación aproximada de la densidad de corriente de haces de iones de gran diámetro para el perfilado de profundidad de pulverización catódica de superficies sólidas
- ASTM E684-04 Práctica estándar para la determinación aproximada de la densidad de corriente de haces de iones de gran diámetro para el perfilado de profundidad de pulverización catódica de superficies sólidas
- ASTM E1479-16 Práctica estándar para describir y especificar espectrómetros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- ASTM F2113-01 Guía estándar para analizar e informar el contenido de impurezas y el grado de objetivos de pulverización catódica metálica de alta pureza para aplicaciones electrónicas de película delgada
- ASTM F2113-01(2007) Guía estándar para analizar e informar el contenido de impurezas y el grado de objetivos de pulverización catódica metálica de alta pureza para aplicaciones electrónicas de película delgada
- ASTM UOP407-09 Traza de metales en compuestos orgánicos mediante incineración seca - ICP-OES
- ASTM F1467-99(2005)e1 Guía estándar para el uso de un probador de rayos X ([aproximadamente]fotones de 10 keV) en pruebas de efectos de radiación ionizante de dispositivos semiconductores y microcircuitos
Professional Standard - Non-ferrous Metal, Instrumento de pulverización de iones de oro
- YS/T 1025-2015 Objetivo de pulverización catódica de tungsteno y aleación de tungsteno de alta pureza utilizado en películas electrónicas
- YS/T 935-2013 Guía estándar para analizar e informar el contenido de impurezas y el grado de objetivos de pulverización catódica metálica de alta pureza para aplicaciones electrónicas de película delgada
British Standards Institution (BSI), Instrumento de pulverización de iones de oro
- BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
- BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
- PD IEC/TS 62743:2012 Instrumentación de protección radiológica. Dosímetros contadores electrónicos para campos pulsados de radiaciones ionizantes.
- BS ISO 22415:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
- BS EN 15605:2010
- BS ISO 22962:2008 Titanio y aleaciones de titanio - Determinación de hierro - Espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente
International Organization for Standardization (ISO), Instrumento de pulverización de iones de oro
- ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
- ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
- ISO 22415:2019 Análisis químico de superficie. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
- ISO 22725:2007 Aleaciones de níquel - Determinación de tantalio - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- ISO 22033:2005
- ISO 11435:2005 Aleaciones de níquel - Determinación de molibdeno - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- ISO 22033:2011 Aleaciones de níquel - Determinación de niobio - Método espectrométrico de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente
- ISO/TS 18223:2015 Aleaciones de níquel - Determinación del contenido de níquel - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- ISO 22962:2008 Titanio y aleaciones de titanio - Determinación de hierro - Espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente
- ISO 11435:2011 Aleaciones de níquel - Determinación del contenido de molibdeno - Método espectrométrico de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente
Professional Standard - Agriculture, Instrumento de pulverización de iones de oro
- JJG(教委) 015-1996 Reglamento de verificación para espectrómetro de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
SE-SIS, Instrumento de pulverización de iones de oro
- SIS SS IEC 731:1988 Equipos electromédicos: dosímetros con cámaras de ionización utilizados en radioterapia.
International Electrotechnical Commission (IEC), Instrumento de pulverización de iones de oro
- IEC TS 62743:2012 Instrumentación de protección radiológica - Dosímetros contadores electrónicos para campos pulsados de radiaciones ionizantes
- IEC 45B/706/DTS:2011 CEI/TS 62743, ed. 1: Instrumentación de protección radiológica - Dosímetros contadores electrónicos para campos pulsados de radiaciones ionizantes
IEC - International Electrotechnical Commission, Instrumento de pulverización de iones de oro
- TS 62743-2012 Instrumentación de protección radiológica – Dosímetros contadores electrónicos para campos pulsados de radiaciones ionizantes (Edición 1.0)
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Instrumento de pulverización de iones de oro
- JIS H 1632-3:2014 Titanio. Espectrometría de emisión atómica ICP. Parte 3: Determinación de boro.
- JIS H 1632-1:2014 Titanio.Espectrometría de emisión atómica ICP.Parte 1: Requisitos generales y descomposición de la muestra.
Society of Automotive Engineers (SAE), Instrumento de pulverización de iones de oro
- SAE AMS5791B-2004 Aleación de cobalto, polvo, pulverización de plasma 56,5Co 25,5Cr 10,5Ni 7,5W
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Instrumento de pulverización de iones de oro
- KS D 1939-2003 Análisis químico de aleaciones de zinc mediante método espectrométrico de emisión de plasma acoplado inductivamente.
- KS D 1674-2009 Métodos para el análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente de oligoelementos en oro puro.
- KS D ISO 22033:2006 Aleaciones de níquel－Determinación de niobio－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- KS D ISO 22962:2010 Titanio y aleaciones de titanio－Determinación de hierro－Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- KS D ISO 11435:2006 Aleaciones de níquel－Determinación de molibdeno－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- KS D ISO TS 18223:2018 Aleaciones de níquel. Determinación del contenido de níquel. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
- KS D ISO 22033:2021 Aleaciones de níquel. Determinación del niobio. Método espectrométrico de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente.
Standard Association of Australia （SAA）, Instrumento de pulverización de iones de oro
- AS 3515.4:2007 Oro y aleaciones que contienen oro - Determinación del contenido de oro (superior al 99,95 por ciento) - Plasma acoplado inductivamente - Espectrometría de emisión atómica
- AS 4479.4:1999 Análisis de suelos - Determinación de metales en extractos de suelo en agua regia mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Instrumento de pulverización de iones de oro
- GB/T 36764-2018 Ingredientes de compuestos de caucho—Sílice, precipitada, hidratada—Determinación del contenido de metales pesados mediante método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
Professional Standard - Aviation, Instrumento de pulverización de iones de oro
Association Francaise de Normalisation, Instrumento de pulverización de iones de oro
- NF A08-920:2008 Aleaciones de níquel - Determinación de tantalio - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
- NF ISO 23166:2019 Aleaciones de níquel - Determinación de tantalio - Método de espectrometría de emisión óptica con fuente de plasma inducida de alta frecuencia
- NF A08-702*NF EN 15605:2010 Cobre y aleaciones de cobre: espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
- NF EN 10361:2016 Aceros aleados - Determinación de Níquel - Método de espectrometría de emisión óptica con fuente de plasma inducido
European Committee for Standardization (CEN), Instrumento de pulverización de iones de oro
- EN 15605:2010 Cobre y aleaciones de cobre: espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
Danish Standards Foundation, Instrumento de pulverización de iones de oro
- DS/EN 15605:2010 Cobre y aleaciones de cobre: espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
Lithuanian Standards Office , Instrumento de pulverización de iones de oro
- LST EN 15605-2010 Cobre y aleaciones de cobre: espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
AENOR, Instrumento de pulverización de iones de oro
- UNE-EN 15605:2011 Cobre y aleaciones de cobre: espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
- UNE 38863:2012 Titanio y aleaciones de titanio. Determinación de hierro. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
KR-KS, Instrumento de pulverización de iones de oro
- KS D ISO TS 18223-2018 Aleaciones de níquel. Determinación del contenido de níquel. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
- KS D ISO 22033-2021 Aleaciones de níquel. Determinación del niobio. Método espectrométrico de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente.