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tres fichas

tres fichas, Total: 490 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en tres fichas son: Dispositivos semiconductores, Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, Circuitos integrados. Microelectrónica, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Componentes electrónicos en general., Fluidos aislantes, Productos de hierro y acero., Instalaciones en edificios, ingeniería de energía solar, Vocabularios, químicos inorgánicos, Herramientas de máquina, Mediciones de radiación, pruebas de metales, Pilas y baterías galvánicas., Químicos orgánicos, Farmacia, Herramientas de corte, Productos de la industria química., Latas. Latas. tubos, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Calidad del agua, Sistemas de telecomunicaciones, Cerámica, Maquinaria rotativa, Filtros electricos, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Metalurgia de polvos, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Agricultura y silvicultura, Resistencias, Materiales para la construcción aeroespacial., Optoelectrónica. Equipo láser, Metales ferrosos, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Lámparas y equipos relacionados..


Defense Logistics Agency, tres fichas

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, tres fichas

  • GB/T 5238-2019 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 12965-2018 Silicio monocristalino en forma de obleas cortadas y obleas lapeadas
  • GB/T 12964-2018 Obleas pulidas de silicio monocristalino
  • GB/T 26069-2022 Obleas de silicio monocristalino recocido
  • GB/T 16595-2019 Especificación para una rejilla universal para obleas
  • GB/T 16596-2019 Especificación para establecer un sistema de coordenadas de oblea.
  • GB/T 29055-2019 Obleas de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
  • GB/T 26071-2018 Obleas de silicio monocristalino para células solares
  • GB/T 37051-2018 Método de prueba para la determinación de la densidad de defectos cristalinos en lingotes y obleas de silicio fotovoltaico.
  • GB/T 41325-2022 Obleas de silicio monocristalino pulidas con origen cristalino de baja densidad para circuitos integrados
  • GB/T 11094-2020 Monocristal de arseniuro de galio y oblea de corte cultivada mediante el método Bridgman horizontal
  • GB/T 19346.3-2021 Métodos de medición de aleaciones amorfas y nanocristalinas. Parte 3: Propiedades magnéticas de CA de una tira amorfa a base de Fe utilizando una muestra de una sola hoja.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, tres fichas

  • GB/T 5238-2009 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 5238-2009(英文版) Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 15713-1995 Rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 13840-1992 portador de oblea
  • GB/T 11072-1989 Policristal de antimonuro de indio, monocristales y rodajas cortadas
  • GB/T 11072-2009 Policristal de antimonuro de indio, cristales individuales y rodajas cortadas
  • GB/T 12965-1996 Silicio monocristalino en forma de rodajas cortadas y rodajas traslapadas
  • GB/T 12965-2005 Rebanadas cortadas de silicio monocristalino y rebanadas traslapadas
  • GB/T 12964-2003 Obleas pulidas de silicio monocristalino
  • GB/T 15292-1994 Métodos de medida para tiristores. Tiristor triodo de conducción inversa
  • GB/T 29508-2013 Silicio monocristalino de 300 mm en rodajas cortadas y trituradas
  • GB/T 29506-2013 Obleas de silicio monocristalino pulido de 300 mm
  • GB/T 30656-2014 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
  • GB/T 16595-1996 Especificación para una rejilla universal para obleas
  • GB/T 30656-2023 Oblea pulida de un solo cristal de carburo de silicio
  • GB/T 16596-1996 Especificación para establecer un sistema de coordenadas de oblea.
  • GB/T 29055-2012 Oblea de silicio multicristalino para células solares
  • GB/T 26065-2010 Especificación para obleas de silicio de prueba pulidas
  • GB/T 30858-2014 Producto de sustrato de zafiro monocristalino pulido
  • GB/T 13843-1992 Sustratos de zafiro monocristalino pulido
  • GB/T 21952-2008 Inserciones de diamante policristalino, con punta.Dimensiones
  • GB/T 41751-2022 Método de prueba para determinar el radio de curvatura del plano cristalino en obleas de sustrato monocristalino de GaN
  • GB/T 17590-1998 Lata de tres piezas con extremo de fácil apertura.
  • GB/T 30118-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición
  • GB/T 17590-2008 Lata de aluminio de tres piezas con extremo de fácil apertura
  • GB/T 29055-2019(英文版) Obleas de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
  • GB/T 11094-2007 Oblea de corte y cristal único de arseniuro de galio cultivado en Bridgman horizontal
  • GB/T 26071-2010 Silicio monocristalino en rodajas para células solares fotovoltaicas
  • GB/T 11094-1989 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en barcos y rodajas cortadas
  • GB/T 30866-2014 Método de prueba para medir el diámetro de obleas de carburo de silicio monocristalino.
  • GB/T 32988-2016 Oblea de cristal de cuarzo sintético para filtro óptico de paso bajo (OLPF)
  • GB/T 32278-2015 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
  • GB/T 21952-2023 Tipos y tamaños de discos de diamante policristalinos
  • GB/T 2521-1996 Tira (hoja) de acero magnético de grano orientado y no orientado laminada en frío
  • GB/T 11093-1989 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en czochralski encapsulados en líquido y rodajas cortadas en forma de As
  • GB/T 11093-2007 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en czochralski encapsulados en líquido y rodajas cortadas
  • GB/T 32188-2015 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN
  • GB/T 13387-1992 Método de prueba para medir la longitud plana en rodajas de materiales electrónicos.
  • GB/T 26066-2010 Práctica para la detección de picaduras superficiales en silicio

International Electrotechnical Commission (IEC), tres fichas

Group Standards of the People's Republic of China, tres fichas

  • T/CECA 48-2021 Elemento de microbalanza de cristal de cuarzo
  • T/ZZB 0497-2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie
  • T/WLJC 57-2019 Disco abrasivo de precisión para obleas
  • T/CAB 0180-2022 Método de medición de parámetros característicos del cristal GAGG y la matriz de cristales.
  • T/ZZB 2675-2022 Silicio monocristalino como obleas lapeadas para TVS
  • T/CPIA 0037-2022 Especificaciones para obleas cristalinas fotovoltaicas
  • T/JSAS 015-2021 Células solares de silicio monocristalino
  • T/WLJC 59-2019 Tubo de onda invertida de oblea de cuarzo
  • T/SIAW 002-2021 Piezas para beber Panax Notoginseng
  • T/CASMES 125-2022 Especificaciones técnicas de rectificado y aserrado de obleas.
  • T/CEMIA 006-2018 Resonador de cristal de cuarzo para control del espesor de película.
  • T/SZBX 118-2023 Obleas de silicio monocristalino para células solares
  • T/CASME 823-2023 Soluble microcrystalline patches technical requirements
  • T/SZBX 018-2021 Productos del paquete de báscula de chip a nivel de oblea
  • T/IAWBS 005-2018 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido de 6 pulgadas
  • T/WLJC 58-2019 Muela rectificadora para obleas, disco abrasivo de precisión
  • T/CEC 290-2019 Requisitos técnicos para la oblea de cristal único de contacto posterior
  • T/COEMA 002LCD-2022 Película polarizadora de baja permeabilidad a la humedad para TFT-LCD
  • T/IAWBS 008-2019 Método experimental para la tensión residual en obleas de SiC.
  • T/ZSA 38-2020 Método experimental para la tensión residual en obleas de SiC.
  • T/LYYY 002-2020 Tabletas de ácido tricloroisocianúrico
  • T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
  • T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
  • T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio
  • T/CECA 69-2022 Sustratos de película delgada monocristalinos para dispositivos SAW
  • T/ZZB 0648-2018 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopadas con fósforo de 200 mm
  • T/NXCL 017-2022 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopadas con fósforo de 300 mm
  • T/NXCL 016-2022 Oblea pulida de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopada con antimonio de 200 mm
  • T/JSSIA 0004-2017 Dimensiones generales del paquete de báscula de chip a nivel de oblea
  • T/JSSIA 0003-2017 Programas en serie para paquete de báscula de chip a nivel de oblea
  • T/CASAS 003-2018 Obleas epitaxiales 4H-SiC para dispositivos p-IGBT

Professional Standard - Electron, tres fichas

  • SJ 3118-1988 Portaobleas
  • SJ/T 11199-1999 Piezas en bruto de cristal de cuarzo piezoeléctrico
  • SJ 3241-1989 Oblea y barra monocristalina de arseniuro de galio
  • SJ 3243-1989 Barras y obleas monocristalinas de fosfuro de indio
  • SJ/T 11502-2015 Especificación para obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
  • SJ/T 11505-2015 Especificación de obleas pulidas de cristal único de zafiro
  • SJ 2572-1985 Varillas y láminas de silicio monocristalino para células solares.
  • SJ/T 31091-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para cortadoras de obleas.
  • SJ 2592-1985 Filtros monolíticos de cristal de cuarzo para tipo LSP10.7MA(～E)
  • SJ 20437-1994 Especificación para láminas de telururo de plomo y estaño para uso en detectores de infrarrojos
  • SJ 20520-1995 Especificación para la rebanada de telururo de cadmio-cinio para usar película de telururo de mercurio-cadmio
  • SJ 20142-1992 Especificación para el módulo de refrigeración termoeléctrico TES1-01212TT
  • SJ 2154-1982 Sustratos de vidrio miorocristal para uso en circuitos integrados de película gruesa
  • SJ/T 31092-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para máquinas cortadoras (trazadoras) de obleas NC
  • SJ/T 11497-2015 Método de prueba para pruebas de estabilidad térmica de obleas de arseniuro de galio
  • SJ 20514-1995 Especificación para oblea epitaxial de silicio para transistor de potencia de microondas
  • SJ 20640-1997 Especificación para rodajas monocristalinas de antimonuro de indio para uso en detectores de infrarrojos
  • SJ/T 11492-2015 Métodos de prueba para medir la composición de obleas de fosfuro de arseniuro de galio mediante fotoluminiscencia
  • SJ 20750-1999 Especificación para obleas de silicio monocristalino endurecidas por radiación para circuitos integrados militares CMOS
  • SJ/T 9570.2-1995 Norma de clasificación de calidad para filtros monolíticos de cristal de cuarzo.
  • SJ 51508.5-1995 Filtro, cristal de cuarzo, monolítico, tipo LSP21.4M, especificación detallada para
  • SJ 20438-1994 Métodos para medir la porción de telururo de plomo y estaño para su uso en un detector de infrarrojos.
  • SJ 51508/8-1999 Filtro, cristal de cuarzo, monolítico, tipo LP12, especificación detallada para
  • SJ 20230-1993 Reglamento de verificación del probador de transistor Hfe modelo BJ2951A (JS-5A)

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, tres fichas

  • YB 1603-1983 Discos de corte y desbaste monocristalinos de silicio

UNKNOWN, tres fichas

  • YB 1603-83 Discos de corte y discos abrasivos monocristalinos de silicio

Professional Standard - Non-ferrous Metal, tres fichas

  • YS/T 1167-2016 Obleas grabadas de silicio monocristalino
  • YS/T 986-2014 Especificación para el marcado alfanumérico en serie de la superficie frontal de las obleas

British Standards Institution (BSI), tres fichas

  • BS EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares
  • BS 9612 N007:1977 Especificación detallada para unidades de cristal de cuarzo con sello soldado en frío para aplicaciones de oscilador - Gabinetes DN, DQ y DP, rango de frecuencia de 17 a 75 MHz - Modo de corte de espesor de tercer armónico, corte AT, para operación en rangos de temperatura estrechos (temperatura co
  • BS 9612 N006:1977 Especificación detallada para unidades de cristal de cuarzo con sello soldado en frío para aplicaciones de oscilador - Gabinetes DN, 47 U/2, DQ y DP, rango de frecuencia de 17 a 75 MHz - Modo de corte de espesor de tercer armónico, corte AT, para operación en amplios rangos de temperatura ( no temporal
  • BS 9612 N019:1979 Especificación detallada para unidades de cristal de cuarzo con sello soldado por resistencia para aplicaciones de oscilador - Gabinetes DN, DZ, DQ y DP, rango de frecuencia de 17 a 75 MHz - Modo de corte de espesor de tercer sobretono, corte AT, para operación en rangos de temperatura estrechos (temperatura
  • BS 9612 N018:1979 Especificación detallada para unidades de cristal de cuarzo con sello soldado por resistencia para aplicaciones de oscilador - Gabinetes DN, DZ, DQ y DP, rango de frecuencia de 17 a 75 MHz - Modo de corte de espesor de tercer sobretono, corte AT, para operación en amplios rangos de temperatura (no te
  • 23/30468947 DC BS EN 62276. Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición.

German Institute for Standardization, tres fichas

  • DIN V VDE V 0126-18-3:2007 Obleas solares - Parte 3: Daño por corrosión alcalina de obleas de silicio cristalino - Método para determinar la velocidad de corrosión de obleas de silicio mono y multicristalinas (tal como se cortan)
  • DIN 41619:1983 Especificación seccional para interruptores de oblea giratorios para telecomunicaciones
  • DIN EN IEC 62276:2023-05 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 49/1401/CD:2022); Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2023-04-28*Destinado a sustituir a DIN EN 62276 (2017-08).
  • DIN EN 62276:2017-08 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2016); Versión alemana EN 62276:2016 / Nota: DIN EN 62276 (2013-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 28-11-2019.
  • DIN ISO 16463:2005 Insertos de diamante policristalino, con punta. Dimensiones, tipos (ISO 16463:2004); versión inglesa de DIN ISO 16463:2005.
  • DIN ISO 16463:2015-08 Insertos de diamante policristalino, con punta. Dimensiones, tipos (ISO 16463:2014)

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, tres fichas

Professional Standard - Machinery, tres fichas

Professional Standard - Agriculture, tres fichas

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, tres fichas

工业和信息化部, tres fichas

Danish Standards Foundation, tres fichas

  • DS/EN 50513:2009
  • DS/EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
  • DS/EN ISO 643:2013 Aceros - Determinación micrográfica del tamaño de grano aparente

Lithuanian Standards Office , tres fichas

  • LST EN 50513-2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares
  • LST EN 62276-2006 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2005)
  • LST EN 62276-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2012)

AENOR, tres fichas

  • UNE-EN 50513:2011 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares

RO-ASRO, tres fichas

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), tres fichas

  • KS D 0261-2012(2017) Inspección visual de obleas de silicio con superficies especulares
  • KS D 0070-2002 Método de prueba de propiedades magnéticas de metales amorfos utilizando una muestra de una sola hoja.
  • KS C 7023-1978 Métodos de prueba para tiristores triodo de bloqueo inverso
  • KS C 7023-1978(2013) Métodos de prueba para tiristores triodo de bloqueo inverso
  • KS C 7023-1986 Métodos de prueba para tiristores triodo de bloqueo inverso
  • KS C 0256-2002(2017) Método de prueba de resistividad para cristales y obleas de silicio con sonda de cuatro puntos
  • KS C 5208-1980(2000) TIRISTORES TRIODO BIDIRECCIONALES CONFIABILIDAD ASEGURADA (BAJA CORRIENTE)
  • KS C 5208-1980 TIRISTORES TRIODO BIDIRECCIONALES CONFIABILIDAD ASEGURADA (BAJA CORRIENTE)
  • KS C 5206-1980(2000) TIRISTOROS TRIODO DE BLOQUEO INVERSO CONFIABILIDAD ASEGURADA (BAJA CORRIENTE)
  • KS C 5206-1980 TIRISTOROS TRIODO DE BLOQUEO INVERSO CONFIABILIDAD ASEGURADA (BAJA CORRIENTE)

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, tres fichas

  • GJB 2917-1997 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
  • GJB 3076A-2021 Especificación de chip único de fosfuro de galio
  • GJB 3076-1997 Especificación de chip único de fosfuro de galio
  • GJB 2917A-2018 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
  • GJB 2917A-2004 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
  • GJB 10343-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de galio pulido
  • GJB 10342-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de indio pulido
  • GJB 1866-1994 Especificación para obleas de telururo de mercurio y cadmio para detectores de infrarrojos
  • GJB 2918-1997 Especificación para monolitos de silicio fundido de zona de alta resistencia de grado detector
  • GJB 1944A-2017 Especificación de monocristales de silicio para células solares espaciales
  • GJB 2452-1995 Especificación para obleas monocristalinas de telururo de cadmio para detectores de infrarrojos
  • GJB 960-1990 Sustrato de cristal de cuarzo artificial para dispositivos de ondas acústicas de superficie.
  • GJB 757-1989 Chip único grande de mica sintética para dispositivos de microondas con radar.
  • GJB 1785-1993 Método de prueba para obleas de telururo de mercurio y cadmio para detectores de infrarrojos

Professional Standard - Chemical Industry, tres fichas

  • HG/T 4357-2012 Polarizador para transistor de película delgada-Pantalla de cristal líquido (TFT-LCD)
  • HG/T 4183-2011 Polarizadores para pantallas de cristal líquido (LCD)

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., tres fichas

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, tres fichas

  • JJG 48-2004 Rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino
  • JJG 48-1990 Regulación de verificación de la rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino

JP-JEITA, tres fichas

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, tres fichas

Professional Standard - Railway, tres fichas

Association Francaise de Normalisation, tres fichas

  • NF C93-616:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición
  • NF C57-203*NF EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares.
  • NF E66-314:2004 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos.
  • NF E66-314*NF ISO 16463:2014 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
  • NF C93-616*NF EN 62276:2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
  • NF A04-102*NF EN ISO 643:2020 Aceros - Determinación micrográfica del tamaño de grano aparente

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), tres fichas

  • JIS C 6760:2014 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW). Especificaciones y métodos de medición.
  • JIS C 7051:1974 Métodos de prueba para tiristores triodo de bloqueo inverso

ZA-SANS, tres fichas

SE-SIS, tres fichas

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, tres fichas

  • DB51/T 2048-2015 Película óptica que mejora el brillo para pantallas de cristal líquido

Professional Standard - Building Materials, tres fichas

  • JC/T 2343-2015 Tubo de alúmina monocristalino preparado mediante crecimiento de cristal alimentado con película de borde definido
  • JC/T 471-1992 Placas de cristal de cuarzo artificial para detectores fotosensibles

RU-GOST R, tres fichas

IN-BIS, tres fichas

  • IS 3191-1968 MÉTODOS PARA MUESTREO DE CRIOLITA Y TRIFLUORURO DE ALUMINIO
  • IS 4570 Pt.8-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 8 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE TRES HILOS, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DK

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, tres fichas

  • GB/T 19346.2-2017 Métodos de medición para aleaciones amorfas y nanocristalinas. Parte 2: Factor de laminación de tiras de aleaciones amorfas.
  • GB/T 35305-2017 Obleas pulidas de arseniuro de galio monocristalino para células solares

Professional Standard - Aviation, tres fichas

  • HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X

Professional Standard - Education, tres fichas

  • JY 0336-1993 Muestra de diapositiva wm de pierna de abeja melífera

Society of Automotive Engineers (SAE), tres fichas

  • SAE AMS7851D-2013 Lámina, lámina, tira y placa de aleación de columbio (niobio), 10 W 2,5 Zr recristalizado
  • SAE AMS7851B-1995 LÁMINA, HOJA, TIRA Y PLACA, ALEACIÓN DE COLUMBIUM 10W - 2.5Zr Recristalizado

API - American Petroleum Institute, tres fichas

IEC - International Electrotechnical Commission, tres fichas

  • PAS 62276-2001 Obleas monocristalinas aplicadas a dispositivos de ondas acústicas de superficie: especificación y método de medición (Edición 1.0)

U.S. Military Regulations and Norms, tres fichas

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, tres fichas

  • DB61/T 512-2011 Normas de inspección para obleas de silicio monocristalino para células solares

国家建筑材料工业局, tres fichas

  • JC 471-1992 Hoja de cristal de cuarzo artificial para detectores fotosensibles.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, tres fichas

  • EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, tres fichas

  • EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
  • EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares

ES-UNE, tres fichas

  • UNE-EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones en dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW) - Especificaciones y métodos de medida (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2017.)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, tres fichas

  • JJF 1760-2019 Especificación de calibración para cortes estándar de resistividad de silicio monocristalino

American Society for Testing and Materials (ASTM), tres fichas

  • ASTM F1212-89(2002) Método de prueba estándar para pruebas de estabilidad térmica de obleas de arseniuro de galio
  • ASTM F1212-89(1996)e1 Método de prueba estándar para pruebas de estabilidad térmica de obleas de arseniuro de galio
  • ASTM F1726-97 Guía estándar para el análisis de la perfección cristalográfica de obleas de silicio
  • ASTM F847-94(1999) Métodos de prueba estándar para medir la orientación cristalográfica de planos en obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X
  • ASTM E930-99 Métodos de prueba estándar para estimar el grano más grande observado en una sección metalográfica (tamaño de grano ALA)
  • ASTM E930-99(2007) Métodos de prueba estándar para estimar el grano más grande observado en una sección metalográfica (tamaño de grano ALA)

International Organization for Standardization (ISO), tres fichas

  • ISO 16463:2004 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
  • ISO 16463:2014 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos

Professional Standard - Commodity Inspection, tres fichas

  • SN/T 3112-2012 Método para distinguir la orientación y la no orientación del grano de láminas de acero al silicio laminadas en frío.

Professional Standard - Labor and Labor Safety, tres fichas

  • LD/T 94-1996 Equipo de disco de ruptura por sobrepresión tipo panal para hervidor de cristal

CU-NC, tres fichas

  • NC 26-92-23-1986 Drogas. "Trifluoperazina" Comprimidos de 1 mg. Especificaciones de calidad

Professional Standard-Packaging, tres fichas

化学工业部, tres fichas

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, tres fichas

  • GJB 5971-2007 Especificación para filtros de cristal de cuarzo monolíticos de paso de banda de 1OMH~100MHz

劳动部, tres fichas

  • LD/T 0094-1996 Dispositivo de disco de ruptura de presión ultraalta tipo tapón roscado para hervidor de cristal

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