ZH
RU
EN

oblea

oblea, Total: 160 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en oblea son: Circuitos integrados. Microelectrónica, Materiales semiconductores, Componentes electrónicos en general., Fluidos aislantes, Metales no ferrosos, Herramientas de máquina, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., pruebas de metales, Instalaciones en edificios, ingeniería de energía solar, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Mediciones de radiación, Filtros electricos, Optoelectrónica. Equipo láser, Resistencias, Dispositivos semiconductores, Pilas y baterías galvánicas., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Productos de la industria química., Lámparas y equipos relacionados., Vocabularios, Accionamientos y transmisiones flexibles, Química analítica.


International Electrotechnical Commission (IEC), oblea

  • IEC PAS 62084:1998 Implementación de la tecnología Flip Chip y Chip Scale
  • IEC PAS 62276:2001 Obleas monocristalinas aplicadas a dispositivos de ondas acústicas de superficie: especificación y método de medición

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, oblea

  • GB/T 15713-1995 Rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 13840-1992 portador de oblea
  • GB/T 5238-2009 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 16595-1996 Especificación para una rejilla universal para obleas
  • GB/T 16596-1996 Especificación para establecer un sistema de coordenadas de oblea.
  • GB/T 30866-2014 Método de prueba para medir el diámetro de obleas de carburo de silicio monocristalino.
  • GB/T 32988-2016 Oblea de cristal de cuarzo sintético para filtro óptico de paso bajo (OLPF)
  • GB/T 32278-2015 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
  • GB/T 13387-1992 Método de prueba para medir la longitud plana en rodajas de materiales electrónicos.
  • GB/T 26066-2010 Práctica para la detección de picaduras superficiales en silicio
  • GB/T 5238-2009(英文版) Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 30118-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición
  • GB/T 30867-2014 Método de prueba para medir el espesor y la variación total del espesor de obleas de carburo de silicio monocristalino.
  • GB/T 30868-2014 Método de prueba para medir la densidad de microtubos de obleas de carburo de silicio monocristalino. Grabado químico
  • GB/T 13387-2009 Método de prueba para medir obleas de silicio y otros materiales electrónicos de longitud plana.
  • GB/T 29055-2012 Oblea de silicio multicristalino para células solares
  • GB/T 12964-2003 Obleas pulidas de silicio monocristalino
  • GB/T 41751-2022 Método de prueba para determinar el radio de curvatura del plano cristalino en obleas de sustrato monocristalino de GaN
  • GB/T 29506-2013 Obleas de silicio monocristalino pulido de 300 mm
  • GB/T 29055-2019(英文版) Obleas de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
  • GB/T 25188-2010 Mediciones de espesor para capas ultrafinas de óxido de silicio en obleas de silicio Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • GB/T 26070-2010 Caracterización del daño subsuperficial en obleas semiconductoras compuestas pulidas mediante el método de espectroscopia de diferencia de reflectancia
  • GB/T 30656-2014 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
  • GB/T 30656-2023 Oblea pulida de un solo cristal de carburo de silicio
  • GB/T 6616-2023 Método de corrientes parásitas sin contacto para probar la resistividad de las obleas semiconductoras y la resistencia de las láminas de películas semiconductoras
  • GB/T 12965-1996 Silicio monocristalino en forma de rodajas cortadas y rodajas traslapadas
  • GB/T 12965-2005 Rebanadas cortadas de silicio monocristalino y rebanadas traslapadas

Professional Standard - Electron, oblea

  • SJ 3118-1988 Portaobleas
  • SJ 20437-1994 Especificación para láminas de telururo de plomo y estaño para uso en detectores de infrarrojos
  • SJ 20520-1995 Especificación para la rebanada de telururo de cadmio-cinio para usar película de telururo de mercurio-cadmio
  • SJ/T 11497-2015 Método de prueba para pruebas de estabilidad térmica de obleas de arseniuro de galio
  • SJ 20640-1997 Especificación para rodajas monocristalinas de antimonuro de indio para uso en detectores de infrarrojos
  • SJ/T 11492-2015 Métodos de prueba para medir la composición de obleas de fosfuro de arseniuro de galio mediante fotoluminiscencia
  • SJ 20750-1999 Especificación para obleas de silicio monocristalino endurecidas por radiación para circuitos integrados militares CMOS
  • SJ 20438-1994 Métodos para medir la porción de telururo de plomo y estaño para su uso en un detector de infrarrojos.
  • SJ/T 31091-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para cortadoras de obleas.
  • SJ/T 11199-1999 Piezas en bruto de cristal de cuarzo piezoeléctrico
  • SJ/T 31092-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para máquinas cortadoras (trazadoras) de obleas NC
  • SJ/T 11487-2015 Método de medición sin contacto para la resistividad de una oblea semiconductora semiaislante.
  • SJ/T 31065-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para las máquinas pulidoras de obleas tipo 24 NC
  • SJ 2572-1985 Varillas y láminas de silicio monocristalino para células solares.
  • SJ 3241-1989 Oblea y barra monocristalina de arseniuro de galio
  • SJ 3243-1989 Barras y obleas monocristalinas de fosfuro de indio

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, oblea

  • GB/T 5238-2019 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 16595-2019 Especificación para una rejilla universal para obleas
  • GB/T 16596-2019 Especificación para establecer un sistema de coordenadas de oblea.
  • GB/T 26071-2018 Obleas de silicio monocristalino para células solares
  • GB/T 29055-2019 Obleas de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
  • GB/T 12964-2018 Obleas pulidas de silicio monocristalino
  • GB/T 26069-2022 Obleas de silicio monocristalino recocido
  • GB/T 12965-2018 Silicio monocristalino en forma de obleas cortadas y obleas lapeadas
  • GB/T 37051-2018 Método de prueba para la determinación de la densidad de defectos cristalinos en lingotes y obleas de silicio fotovoltaico.

Group Standards of the People's Republic of China, oblea

  • T/WLJC 57-2019 Disco abrasivo de precisión para obleas
  • T/CECA 48-2021 Elemento de microbalanza de cristal de cuarzo
  • T/WLJC 59-2019 Tubo de onda invertida de oblea de cuarzo
  • T/ZZB 0497-2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie
  • T/WLJC 58-2019 Muela rectificadora para obleas, disco abrasivo de precisión
  • T/IAWBS 008-2019 Método experimental para la tensión residual en obleas de SiC.
  • T/ZSA 38-2020 Método experimental para la tensión residual en obleas de SiC.
  • T/CAB 0180-2022 Método de medición de parámetros característicos del cristal GAGG y la matriz de cristales.
  • T/CASAS 003-2018 Obleas epitaxiales 4H-SiC para dispositivos p-IGBT
  • T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
  • T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
  • T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio
  • T/IAWBS 013-2019 El método de medición de la resistividad para un sustrato de carburo de silicio semiaislante.
  • T/IAWBS 011-2019 Métodos de prueba para medir la resistividad de obleas conductoras de carburo de silicio con un medidor de corrientes parásitas sin contacto
  • T/CEMIA 006-2018 Resonador de cristal de cuarzo para control del espesor de película.
  • T/SZBX 118-2023 Obleas de silicio monocristalino para células solares
  • T/CASME 823-2023 Soluble microcrystalline patches technical requirements
  • T/CASAS 013-2021 Método de medición para probar la densidad de dislocación en cristal de SiC Métodos combinados de grabado con KOH y reconocimiento de imágenes
  • T/CEC 290-2019 Requisitos técnicos para la oblea de cristal único de contacto posterior
  • T/CECA 83-2023 Obleas monocristalinas reducidas de tantalato de litio y niobato de litio: requisitos técnicos y métodos de medición de la luminosidad y la diferencia de color
  • T/ZZB 2675-2022 Silicio monocristalino como obleas lapeadas para TVS
  • T/CPIA 0037-2022 Especificaciones para obleas cristalinas fotovoltaicas
  • T/CASAS 032-2023 Método de prueba para determinar el contenido de elementos metálicos en la superficie de una oblea de carburo de silicio: espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), oblea

  • KS D 0261-2012(2017) Inspección visual de obleas de silicio con superficies especulares
  • KS C 0256-2002(2017) Método de prueba de resistividad para cristales y obleas de silicio con sonda de cuatro puntos

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, oblea

  • GJB 3076A-2021 Especificación de chip único de fosfuro de galio
  • GJB 3076-1997 Especificación de chip único de fosfuro de galio
  • GJB 2917A-2018 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
  • GJB 2917A-2004 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
  • GJB 2917-1997 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
  • GJB 1866-1994 Especificación para obleas de telururo de mercurio y cadmio para detectores de infrarrojos
  • GJB 1944A-2017 Especificación de monocristales de silicio para células solares espaciales
  • GJB 2452-1995 Especificación para obleas monocristalinas de telururo de cadmio para detectores de infrarrojos
  • GJB 2918-1997 Especificación para monolitos de silicio fundido de zona de alta resistencia de grado detector
  • GJB 757-1989 Chip único grande de mica sintética para dispositivos de microondas con radar.
  • GJB 1785-1993 Método de prueba para obleas de telururo de mercurio y cadmio para detectores de infrarrojos
  • GJB 8773-2015 Especificación para paños de pulido de unión directa para obleas detectoras de telururo de mercurio y cadmio
  • GJB 8359-2015 Especificación para obleas S0I de película de espesor medio para sistemas microelectromecánicos y dispositivos de potencia

British Standards Institution (BSI), oblea

  • BS EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares
  • 23/30468947 DC BS EN 62276. Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición.

JP-JEITA, oblea

  • JEITA EM3603B-2006 Estándar de obleas SOI y metrología.
  • JEITA EM-3510-2007 Método de medición de la caída del borde para obleas de silicio
  • JEITA ET7501-105-2006 Directrices de diseño de patrones terrestres para dispositivos de montaje en superficie: requisitos seccionales (portadores de chips con cables J en cuatro lados)

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, oblea

Danish Standards Foundation, oblea

  • DS/EN 50513:2009
  • DS/EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

Lithuanian Standards Office , oblea

  • LST EN 50513-2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares
  • LST EN 62276-2006 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2005)
  • LST EN 62276-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2012)

AENOR, oblea

  • UNE-EN 50513:2011 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares

SE-SIS, oblea

German Institute for Standardization, oblea

  • DIN 41619:1983 Especificación seccional para interruptores de oblea giratorios para telecomunicaciones
  • DIN V VDE V 0126-18-3:2007 Obleas solares - Parte 3: Daño por corrosión alcalina de obleas de silicio cristalino - Método para determinar la velocidad de corrosión de obleas de silicio mono y multicristalinas (tal como se cortan)
  • DIN EN 62276:2017-08 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2016); Versión alemana EN 62276:2016 / Nota: DIN EN 62276 (2013-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 28-11-2019.
  • DIN EN IEC 62276:2023-05 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 49/1401/CD:2022); Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2023-04-28*Destinado a sustituir a DIN EN 62276 (2017-08).

U.S. Military Regulations and Norms, oblea

Professional Standard - Non-ferrous Metal, oblea

  • YS/T 986-2014 Especificación para el marcado alfanumérico en serie de la superficie frontal de las obleas
  • YS/T 1167-2016 Obleas grabadas de silicio monocristalino

Defense Logistics Agency, oblea

American Society for Testing and Materials (ASTM), oblea

  • ASTM F1212-89(2002) Método de prueba estándar para pruebas de estabilidad térmica de obleas de arseniuro de galio
  • ASTM F1212-89(1996)e1 Método de prueba estándar para pruebas de estabilidad térmica de obleas de arseniuro de galio
  • ASTM F1390-97 Método de prueba estándar para medir la deformación en obleas de silicio mediante escaneo automatizado sin contacto

API - American Petroleum Institute, oblea

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, oblea

  • ECA EIA-800-1999 Directrices de diseño de paquetes de escala de chip de dispositivo pasivo integrado (IPD)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), oblea

  • JIS H 0612:1975 Métodos de prueba de resistividad para obleas de silicio monocristalino con sonda de cuatro puntos
  • JIS C 6760:2014 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW). Especificaciones y métodos de medición.

中国有色金属工业总公司, oblea

  • YS/T 27-1992 Métodos para medir y contar la contaminación por partículas en las superficies de las obleas.

工业和信息化部, oblea

Association Francaise de Normalisation, oblea

  • NF C93-616:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición
  • NF C93-616:2006 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición.
  • NF C93-616*NF EN 62276:2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, oblea

  • GJB 6259-2008 Especificación para la almohadilla de pulido autoadhesiva utilizada para pulir oblea de cristal de Te-Cd-Hg

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, oblea

IEC - International Electrotechnical Commission, oblea

  • PAS 62276-2001 Obleas monocristalinas aplicadas a dispositivos de ondas acústicas de superficie: especificación y método de medición (Edición 1.0)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, oblea

  • GB/T 34481-2017 Método de prueba para medir la densidad de los hoyos de grabado (EPD) en rodajas de germanio monocristalino de baja densidad de dislocación

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, oblea

  • EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, oblea

  • EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

ES-UNE, oblea

  • UNE-EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones en dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW) - Especificaciones y métodos de medida (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2017.)

Professional Standard - Aviation, oblea

  • HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X

Electronic Industrial Alliance (U.S.), oblea

  • EIA-763-2002 Paquetes de escala de virutas y troqueles desnudos sellados con cinta transportadora de 8 mm y 12 mm para manipulación automática

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, oblea

  • DB61/T 512-2011 Normas de inspección para obleas de silicio monocristalino para células solares

Professional Standard - Building Materials, oblea

  • JC/T 471-1992 Placas de cristal de cuarzo artificial para detectores fotosensibles

国家建筑材料工业局, oblea

  • JC 471-1992 Hoja de cristal de cuarzo artificial para detectores fotosensibles.

KR-KS, oblea

  • KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, oblea

  • YB 1603-1983 Discos de corte y desbaste monocristalinos de silicio

UNKNOWN, oblea

  • YB 1603-83 Discos de corte y discos abrasivos monocristalinos de silicio

  oblea, Oblea de silicio estándar, oblea de silicio, Inspección de obleas, oblea oblea, elementos de oblea de silicio, oblea solar, oblea solar, oblea de silicio txrf, borde de oblea de silicio, chip txrf, Procesamiento de obleas, Gatillo de tres chips, tres fichas, Corte CNC de oblea, Corte CNC de oblea, una ficha, súper chip, Inspección de obleas, portador de oblea.

 



©2007-2023 Reservados todos los derechos.