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una ficha, Total: 51 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en una ficha son: Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, Optoelectrónica. Equipo láser, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Vocabularios, pruebas de metales, Instalaciones en edificios, ingeniería de energía solar.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, una ficha
- GB/T 15713-1995 Rodajas de germanio monocristalino.
- GB/T 5238-2009 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
- GB/T 5238-2009(英文版) Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
- GB/T 30866-2014 Método de prueba para medir el diámetro de obleas de carburo de silicio monocristalino.
- GB/T 32278-2015 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
- GB/T 30867-2014 Método de prueba para medir el espesor y la variación total del espesor de obleas de carburo de silicio monocristalino.
- GB/T 30868-2014 Método de prueba para medir la densidad de microtubos de obleas de carburo de silicio monocristalino. Grabado químico
- GB/T 12964-2003 Obleas pulidas de silicio monocristalino
- GB/T 29506-2013 Obleas de silicio monocristalino pulido de 300 mm
- GB/T 30656-2014 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
- GB/T 30656-2023 Oblea pulida de un solo cristal de carburo de silicio
- GB/T 12965-1996 Silicio monocristalino en forma de rodajas cortadas y rodajas traslapadas
- GB/T 12965-2005 Rebanadas cortadas de silicio monocristalino y rebanadas traslapadas
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, una ficha
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, una ficha
- GJB 2917-1997 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
- GJB 3076A-2021 Especificación de chip único de fosfuro de galio
- GJB 3076-1997 Especificación de chip único de fosfuro de galio
- GJB 2917A-2018 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
- GJB 2917A-2004 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
- GJB 2918-1997 Especificación para monolitos de silicio fundido de zona de alta resistencia de grado detector
- GJB 1944A-2017 Especificación de monocristales de silicio para células solares espaciales
- GJB 2452-1995 Especificación para obleas monocristalinas de telururo de cadmio para detectores de infrarrojos
- GJB 757-1989 Chip único grande de mica sintética para dispositivos de microondas con radar.
Professional Standard - Electron, una ficha
- SJ 20640-1997 Especificación para rodajas monocristalinas de antimonuro de indio para uso en detectores de infrarrojos
- SJ 20750-1999 Especificación para obleas de silicio monocristalino endurecidas por radiación para circuitos integrados militares CMOS
- SJ 2572-1985 Varillas y láminas de silicio monocristalino para células solares.
- SJ 3241-1989 Oblea y barra monocristalina de arseniuro de galio
- SJ 3243-1989 Barras y obleas monocristalinas de fosfuro de indio
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), una ficha
- JIS H 0612:1975 Métodos de prueba de resistividad para obleas de silicio monocristalino con sonda de cuatro puntos
Association Francaise de Normalisation, una ficha
- NF C93-616:2006 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición.
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, una ficha
- DB13/T 1314-2010 Varilla cuadrada de silicio monocristalino de grado solar, oblea de silicio monocristalino
- DB13/T 1828-2013 Oblea de silicio monocristalino de grado solar
Group Standards of the People's Republic of China, una ficha
- T/IAWBS 013-2019 El método de medición de la resistividad para un sustrato de carburo de silicio semiaislante.
- T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
- T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
- T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio
- T/IAWBS 011-2019 Métodos de prueba para medir la resistividad de obleas conductoras de carburo de silicio con un medidor de corrientes parásitas sin contacto
- T/ZZB 0497-2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie
- T/SZBX 118-2023 Obleas de silicio monocristalino para células solares
- T/CEC 290-2019 Requisitos técnicos para la oblea de cristal único de contacto posterior
- T/ZZB 2675-2022 Silicio monocristalino como obleas lapeadas para TVS
International Electrotechnical Commission (IEC), una ficha
- IEC PAS 62276:2001 Obleas monocristalinas aplicadas a dispositivos de ondas acústicas de superficie: especificación y método de medición
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, una ficha
- GB/T 34481-2017 Método de prueba para medir la densidad de los hoyos de grabado (EPD) en rodajas de germanio monocristalino de baja densidad de dislocación
Professional Standard - Non-ferrous Metal, una ficha
Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, una ficha
- DB61/T 512-2011 Normas de inspección para obleas de silicio monocristalino para células solares
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, una ficha
- YB 1603-1983 Discos de corte y desbaste monocristalinos de silicio
UNKNOWN, una ficha
- YB 1603-83 Discos de corte y discos abrasivos monocristalinos de silicio