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Pruebas de materiales semiconductores
Pruebas de materiales semiconductores, Total: 82 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Pruebas de materiales semiconductores son: Materiales semiconductores, Fluidos aislantes, pruebas de metales, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Herramientas de corte, Componentes electrónicos en general., Dispositivos semiconductores, Circuitos impresos y placas., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Vocabularios, Química analítica, Cerámica, PRUEBAS, Óptica y medidas ópticas., Alambres y cables eléctricos..
German Institute for Standardization, Pruebas de materiales semiconductores
- DIN 50445:1992 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación sin contacto de la resistividad eléctrica de láminas de semiconductores mediante el método de corrientes parásitas; obleas semiconductoras dopadas homogéneamente
- DIN 50447:1995 Ensayo de materiales para la tecnología de semiconductores: determinación sin contacto de la resistencia eléctrica de las capas de semiconductores mediante el método de corrientes parásitas
- DIN 50451-1:2003 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores - Determinación de oligoelementos en líquidos - Parte 1: Plata (Ag), oro (Au), calcio (Ca), cobre (Cu), hierro (Fe), potasio (K) y sodio (Na ) en ácido nítrico por AAS
- DIN 50443-1:1988 Pruebas de materiales para su uso en tecnología de semiconductores; Detección de defectos cristalinos y faltas de homogeneidad en monocristales de silicio mediante topografía de rayos X.
- DIN 50442-1:1981 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la estructura superficial de láminas semiconductoras monocristalinas circulares; rebanadas cortadas y lapeadas
- DIN 50448:1998
- DIN 50454-2:1994 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de la densidad de los puntos de grabado de dislocación en monocristales de semiconductores compuestos III-V. Parte 2: Fosfuro de indio.
- DIN 50454-3:1994
- DIN 50433-2:1976 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la orientación de monocristales mediante figura de reflexión óptica
- DIN 50441-1:1996 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 1: Espesor y variación de espesor.
- DIN SPEC 1994:2017-02 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores - Determinación de aniones en ácidos débiles
- DIN 50454-1:2000 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de dislocaciones en monocristales de semiconductores compuestos III-V. Parte 1: Arseniuro de galio.
- DIN 50433-3:1982
- DIN 50449-1:1997 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación del contenido de impurezas en semiconductores mediante absorción infrarroja. Parte 1: Carbono en arseniuro de galio.
- DIN 50441-2:1998 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 2: Ensayos del perfil de los bordes.
- DIN 50433-1:1976 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la orientación de monocristales mediante difracción de rayos X
- DIN 50453-1:1990 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de tasas de grabado de mezclas de grabado; monocristales de silicio; método gravimétrico
- DIN 50441-3:1985 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; medición de las dimensiones geométricas de láminas de semiconductores; Determinación de la desviación de la planitud de rodajas pulidas mediante interferencia de haces múltiples.
- DIN 50449-2:1998
- DIN 50438-2:1982 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación del contenido de impurezas en silicio mediante absorción infrarroja; carbón
- DIN 50452-1:1995 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Método de ensayo para el análisis de partículas en líquidos. Parte 1: Determinación microscópica de partículas.
- DIN 50439:1982 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación del perfil de concentración de dopantes de un material semiconductor monocristalino mediante el método capacitancia-voltaje y contacto con mercurio
- DIN EN 60749-39:2007-01 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 39: Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua en materiales orgánicos utilizados para componentes semiconductores (IEC 60749-39:2006); Versión alemana EN 60749-39:2006 / Nota: A ser r...
- DIN 50434:1986 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; detección de defectos cristalinos en silicio monocristalino mediante técnicas de grabado en superficies {111} y {100}
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Pruebas de materiales semiconductores
- GB/T 14264-1993 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
- GB/T 14264-2009 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
- GB/T 31469-2015 Fluido de corte de materiales semiconductores.
- GB/T 1550-1997 Métodos estándar para medir el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos.
- GB/T 14844-1993 Designaciones de materiales semiconductores.
- GB/T 4298-1984 El método de análisis de activación para la determinación de impurezas elementales en materiales semiconductores de silicio.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Pruebas de materiales semiconductores
- GB/T 1550-2018 Métodos de prueba para el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos.
- GB/T 14844-2018 Designaciones de materiales semiconductores.
- GB/T 37131-2018 Nanotecnologías: método de prueba de nanopolvo semiconductor mediante espectroscopía de reflectancia difusa UV-Vis
RO-ASRO, Pruebas de materiales semiconductores
HU-MSZT, Pruebas de materiales semiconductores
Professional Standard - Electron, Pruebas de materiales semiconductores
- SJ/T 11775-2021 Sierra de varios hilos utilizada para materiales semiconductores
- SJ/T 11067-1996 Terminología comúnmente utilizada para materiales fotoeléctricos semiconductores y materiales piroeléctricos en materiales de detección de infrarrojos.
- SJ/Z 3206.13-1989 Reglas generales para el análisis del espectro de emisión de materiales semiconductores.
- SJ 20744-1999 Regla general del análisis espectral de absorción infrarroja para la concentración de impurezas en materiales semiconductores.
Indonesia Standards, Pruebas de materiales semiconductores
British Standards Institution (BSI), Pruebas de materiales semiconductores
- BS IEC 62951-5:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores flexibles y estirables: método de prueba para las características térmicas de materiales flexibles.
- BS IEC 62899-203:2018 Electrónica impresa. Materiales. tinta semiconductora
- BS EN IEC 63364-1:2022 Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para sistemas IoT: método de prueba de detección de variaciones de sonido
- BS EN 60749-39:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua en materiales orgánicos utilizados para componentes semiconductores.
- BS EN 62047-18:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada.
- BS EN IEC 60749-39:2022 Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua en materiales orgánicos utilizados para componentes semiconductores.
Group Standards of the People's Republic of China, Pruebas de materiales semiconductores
- T/CASME 798-2023 Specialized processing tools for semiconductor materials
- T/SHDSGY 135-2023 Nueva tecnología de materiales de obleas de silicio semiconductores de energía
- T/SZBSIA 007-2022 Especificación de prueba de unión de matrices de semiconductores
- T/CIE 120-2021 Método de detección del caballo de Troya del hardware del circuito integrado semiconductor
- T/CZSBDTHYXH 001-2023 Defectos de oblea Equipo de inspección óptica automática
- T/CNIA 0143-2022 Recipientes de resina ultrapura para análisis de trazas de impurezas de materiales semiconductores
Association Francaise de Normalisation, Pruebas de materiales semiconductores
- NF EN IEC 63364-1:2023 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para sistema IDO - Parte 1: Método de prueba de detección de variación acústica
- NF ISO 10677:2011 Cerámica técnica: fuentes de luz ultravioleta para probar materiales fotocatalíticos semiconductores
- XP CEN/TS 16599:2014 Fotocatálisis: determinación de las condiciones de irradiación para probar las propiedades fotocatalíticas de materiales semiconductores.
SE-SIS, Pruebas de materiales semiconductores
- SIS SS IEC 759:1986 Instrumentación nuclear. Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
- SIS SS IEC 333:1986 Instrumentación nuclear: procedimientos de prueba para detectores de partículas cargadas de semiconductores.
TR-TSE, Pruebas de materiales semiconductores
- TS 2643-1977 Procedimientos de prueba para detectores bemiconductores de radiación ionizante
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Pruebas de materiales semiconductores
- KS C 6520-2021 Componentes y materiales del proceso semiconductor. Medición de las características de desgaste por plasma.
- KS C 6520-2019 Componentes y materiales del proceso semiconductor. Medición de las características de desgaste por plasma.
- KS C IEC 60749-39-2006(2021) Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 39: Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua en materiales orgánicos utilizados para componentes semiconductores
- KS C IEC 60749-39-2006(2016) Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 39: Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua en materiales orgánicos utilizados para componentes semiconductores
International Electrotechnical Commission (IEC), Pruebas de materiales semiconductores
- IEC 62899-203:2018 Electrónica impresa - Parte 203: Materiales - Tinta semiconductora
- IEC 62951-5:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores flexibles y estirables. Parte 5: Método de prueba para las características térmicas de materiales flexibles.
- IEC 63364-1:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para sistemas IoT - Parte 1: Método de prueba para la detección de variaciones de sonido
- IEC 60749-39:2021 RLV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 39: Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua en materiales orgánicos utilizados para componentes semiconductores.
- IEC 60749-39:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 39: Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua en materiales orgánicos utilizados para componentes semiconductores.
American National Standards Institute （ANSI), Pruebas de materiales semiconductores
- ANSI/IEEE 300:1988 Procedimientos de prueba para detectores de partículas cargadas de semiconductores
- ANSI/ASTM D3004:2008 Especificación para materiales de blindaje de aislamiento, conductores y semiconductores termoplásticos y reticulados extruidos
- ANSI/ASTM D6095:2012 Método de prueba para la medición longitudinal de la resistividad del volumen de materiales de blindaje de aislamiento y conductores semiconductores termoplásticos y reticulados extruidos
Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Pruebas de materiales semiconductores
- DB61/T 1250-2019 Especificación general para dispositivos discretos semiconductores de material Sic (carburo de silicio)
ES-UNE, Pruebas de materiales semiconductores
- UNE-EN IEC 63364-1:2023 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para sistema IOT - Parte 1: Método de prueba de detección de variación del sonido (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2023.)
- UNE-EN IEC 60749-39:2022 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 39: Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua en materiales orgánicos utilizados para componentes semiconductores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2022.)
American Society for Testing and Materials (ASTM), Pruebas de materiales semiconductores
- ASTM D3004-02 Especificación estándar para materiales de blindaje de aislamiento, conductores y semiconductores termoplásticos y reticulados extruidos
- ASTM D3004-97 Especificación estándar para materiales de blindaje de aislamiento, conductores y semiconductores termoplásticos y reticulados extruidos
- ASTM D3004-08(2020) Especificación estándar para materiales de blindaje de aislamiento, conductores y semiconductores extruidos termoplásticos y reticulados
RU-GOST R, Pruebas de materiales semiconductores
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Pruebas de materiales semiconductores
- JIS R 1750:2012 Cerámica fina: fuente de luz para probar materiales fotocatalíticos semiconductores utilizados en entornos de iluminación interior.
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Pruebas de materiales semiconductores
- DB13/T 2768.3-2018 Método de prueba de material en polvo de grafeno Parte 3: Determinación de la conductividad eléctrica