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txrfシリコンウェーハ

txrfシリコンウェーハは全部で 8 項標準に関連している。

txrfシリコンウェーハ 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 語彙、 半導体材料。

International Organization for Standardization (ISO), txrfシリコンウェーハ

• ISO 14706:2000 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
• ISO 14706:2014 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), txrfシリコンウェーハ

• JIS K 0148:2005 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用した、シリコン ウェーハ上の主な表面汚染物質の測定。

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, txrfシリコンウェーハ

• DB13/T 1314-2010 ソーラーグレード単結晶シリコン角棒、単結晶シリコンウェーハ

Professional Standard - Non-ferrous Metal, txrfシリコンウェーハ

• YS/T 1167-2016 シリコン単結晶エッチングシート

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, txrfシリコンウェーハ

• GB/T 12964-2003 シリコン単結晶研磨ウェーハ

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, txrfシリコンウェーハ

• GB/T 12964-2018 シリコン単結晶研磨ウェーハ
• GB/T 26069-2022 シリコン単結晶アニールシート

その他：   シリコン表面TXRF, 標準シリコンウェーハ, シリコンウェーハ, シリコンウェーハの検出方法, シリコンウェーハ要素, シリコンウェーハの抵抗率測定, txrfシリコンウェーハ, シリコンウェーハエッジ, TXRFチップ.